公开(公告)号：CN116258707A

公开(公告)日：2023-06-13

申请号：CN202310258991.2

申请日：2023-03-15

Applicant: 常州京信新一代信息技术研究院有限公司

Inventor： 高威 ,  牛杰 ,  姚海鹏 ,  辛港

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/82 ,  G06N3/08 ,  G06V10/762 ,  G06N3/0464

Abstract: 本发明涉及PCB表面缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于改进的YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测方法，本方法包括：获取包含表面缺陷的PCB图像数据集，并进行图像预处理得到PCB表面缺陷样本数据集；构建改进型YOLOv5网络架构，并得到改进的YOLOv5算法模型；用PCB表面缺陷样本数据集对改进的YOLOv5算法模型进行训练，得到训练好的改进的YOLOv5算法模型，即PCB表面缺陷检测模型；将待检测的PCB图像经图像预处理后输入PCB表面缺陷检测模型，输出该PCB图像中的缺陷位置及其对应的缺陷类别。本基于改进的YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测方法可以提升对于PCB表面的小尺寸缺陷和器件密集分布处的缺陷的检测性能。