一种基于机器视觉的全自动表针装配机

    公开(公告)号:CN112230529B

    公开(公告)日:2021-09-24

    申请号:CN202011159654.0

    申请日:2020-10-26

    Abstract: 本发明涉及自动化装配技术领域,公开了一种基于机器视觉的全自动表针装配机,包括:平台、容器、第一吸针器、第二吸针器、第一驱动机构、第二驱动机构、第一相机、定位元件、以及控制单元。控制单元与第一相机电性连接以接收第一图像特征并将图像特征与第一预定特征匹对,控制单元控制第一驱动机构驱动第一吸针器移动并控制第一吸针器吸取位于平台上与第一预定特征相同的表针;控制单元还控制第二驱动机构驱动第二吸针器移动并控制第二吸针器吸取位于第一吸针器上的表针;控制单元还与定位元件电性连接以获取表盘的位置,控制单元控制第二驱动机构驱动第二吸针器移动至表盘上方并将位于第二吸针器上的表针安装至表盘内。

    一种表针装配装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112230529A

    公开(公告)日:2021-01-15

    申请号:CN202011159654.0

    申请日:2020-10-26

    Abstract: 本发明涉及自动化装配技术领域,公开了一种表针装配装置,包括:平台、容器、第一吸针器、第二吸针器、第一驱动机构、第二驱动机构、第一相机、定位元件、以及控制单元。控制单元与第一相机电性连接以接收第一图像特征并将图像特征与第一预定特征匹对,控制单元控制第一驱动机构驱动第一吸针器移动并控制第一吸针器吸取位于平台上与第一预定特征相同的表针;控制单元还控制第二驱动机构驱动第二吸针器移动并控制第二吸针器吸取位于第一吸针器上的表针;控制单元还与定位元件电性连接以获取表盘的位置,控制单元控制第二驱动机构驱动第二吸针器移动至表盘上方并将位于第二吸针器上的表针安装至表盘内。

    一种用于产品抛光的输送装置

    公开(公告)号:CN113620049A

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN202110951381.1

    申请日:2021-08-18

    Abstract: 本发明涉及一种用于产品抛光的输送装置,包括机架,机架上设置有送料机构、定位机构和夹取机构;定位机构设置于送料机构的出料端;定位机构用于带动行李架提升并离开送料机构;夹取机构设置于定位机构的上方,包括机械爪、驱动机械爪升降的升降装置和驱动机械爪转动的驱动装置,驱动装置为舵机,能够转动指定的角度;机械爪用于夹紧位于定位机构上的行李架。本装置通过送料机构对行李架进行自动送料,然后对行李架定位后通过机械爪进行抓取,机械手能够快速拿取机械爪上的行李架,而工作人员也只需要将行李架放在送料机构上即可,降低了工作人员的工作难度,加快机械手抓取行李架的速度,能够提高整个抛光工序的加工效率。

    一种砼试件的抗压性能测试系统及其测试方法

    公开(公告)号:CN113984536A

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202111307237.0

    申请日:2021-11-05

    Abstract: 本发明属于砼试件性能试验的技术领域,更具体地,涉及一种砼试件的抗压性能测试系统及其测试方法,包括基座,所述基座上安装有用于测量砼试件边长尺寸的测量装置、用于对完成边长尺寸测量的砼试件进行抗压测试的压力试验装置、用于清除压力试验装置上完成抗压测试的砼试件碎块的清扫机构及控制系统,所述清扫机构安装在压力试验装置上,所述控制系统与测量装置、压力试验装置均信号连接。通过尺寸数据、压力试验装置传输来的抗压试验数据,并将砼试件的尺寸数据与抗压试验数据相结合进行分析,来判断该砼试件的抗压性能是否合格,使得试验结果更加客观及更具参考意义。

    一种砼试件边长测量方法及测量装置

    公开(公告)号:CN113945156A

    公开(公告)日:2022-01-18

    申请号:CN202111308936.7

    申请日:2021-11-05

    Abstract: 本发明属于砼试件性能试验的技术领域,更具体地,涉及一种砼试件边长测量方法及测量装置。本发明的砼试件边长的测量方法,包括如下步骤:取三个基准平面X面、Y面及Z面;再取基准点A点、B点、C点;分别测量A点与X面之间的距离、B点与Y面之间的距离;C点与Z面之间的距离;砼试件放置在Z面上;将砼试件的两个侧壁与X面、Y面贴合,将砼试件与X面相对的侧面设为X’面,与Y面相对的侧面设为Y’面,与Z面相对的侧面设为Z’面;分别测量A点与X’面之间的距离;B点与Y’面之间的距离;C点与Z’面之间的距离;将基准点与基准面之间的距离、基准点与砼试件侧面之间的距离相减并求平均数,即为砼试件的边长尺寸。

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