一种分形结构二维固体表面的特征提取方法、装置及设备

    公开(公告)号:CN117372707A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202311216571.4

    申请日:2023-09-19

    Abstract: 本发明公开了一种分形结构二维固体表面的特征提取方法、装置及设备,方法包括:获取目标二维固体表面的高度分布,从高度分布选取预设数量的高度数据;对高度数据进行离散傅里叶变换,获得空间频率域幅值;对空间频率域幅值进而二维变换,获得二维功率谱密度;对二维功率谱密度进行环向信息等效压缩,获得一维功率谱密度;基于一维功率谱密度的斜率和系数,提取目标二维固体表面的特征参数。本发明基于目标二维固体表面的高度分布确定的高度数据,进而结合离散傅里叶变换、二维变换以及环向信息等效压缩,充分挖掘目标二维固体表面的特征相关性,获得目标二维固体表面的特征参数,为实际工程应用提供有效参考价值,可广泛应用于数据处理技术领域。

    一种固体表面各向异性表征方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117332195A

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN202311216581.8

    申请日:2023-09-19

    Abstract: 本发明公开了一种固体表面各向异性表征方法、装置、设备及存储介质,方法包括:获取固体表面的高度分布;高度分布为二维离散的高度数据;对高度分布进行离散傅里叶变换,并对离散傅里叶变换得到的结果求解对应的自相关函数,得到二维功率谱密度函数;计算二维功率谱密度函数在空间频率域的积分,得到二阶波数中心矩;计算二维功率谱密度函数在频率不同方向上的矩,得到未标准化的各向异性指数;以未标准化的各向异性指数除以二阶波数中心矩,得到二阶全局信息标准化矩阵,根据二阶全局信息标准化矩阵确定标准化后的各向异性指数。本发明可以准确对固体表面各向异性进行表征,可广泛应用于固体多尺度接触力学领域。

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