半导体处理腔室和用于清洁所述半导体处理腔室的方法

    公开(公告)号:CN114207771B

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202080056247.9

    申请日:2020-07-22

    Abstract: 一种处理腔室可以包括气体分布构件、金属环构件和隔离组件,所述金属环构件位于气体分布构件下方,所述隔离组件与金属环构件耦接并将金属环构件与气体分布构件隔离。隔离组件可以包括与金属环构件耦接的外隔离构件。外隔离构件可以至少部分地限定腔室壁。隔离组件可以进一步包括与外隔离构件耦接的内隔离构件。内隔离构件可以围绕处理腔室的中心轴线相对于金属环构件设置在径向内部。内隔离构件可以限定多个开口,所述多个开口被配置为提供进入金属环构件与内隔离构件之间的径向间隙的流体进出口。

    半导体处理腔室和用于清洁所述半导体处理腔室的方法

    公开(公告)号:CN114207771A

    公开(公告)日:2022-03-18

    申请号:CN202080056247.9

    申请日:2020-07-22

    Abstract: 一种处理腔室可以包括气体分布构件、金属环构件和隔离组件,所述金属环构件位于气体分布构件下方,所述隔离组件与金属环构件耦接并将金属环构件与气体分布构件隔离。隔离组件可以包括与金属环构件耦接的外隔离构件。外隔离构件可以至少部分地限定腔室壁。隔离组件可以进一步包括与外隔离构件耦接的内隔离构件。内隔离构件可以围绕处理腔室的中心轴线相对于金属环构件设置在径向内部。内隔离构件可以限定多个开口,所述多个开口被配置为提供进入金属环构件与内隔离构件之间的径向间隙的流体进出口。

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