一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法

    公开(公告)号:CN116559745B

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202310383818.5

    申请日:2023-04-12

    Abstract: 本发明公开了一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法,属于天线测量技术领域,包括以下步骤:步骤一、在待测天线的辐射近场区,进行平面近场扫描测量,得到一个平面上的待测天线近场幅度和相位数据;步骤二、将天线近场数据变换到天线远场;步骤三:测量扫描探头的增益和方向图;步骤四:将扫描探头的增益和方向图从共同结果中去除,得到待测天线的增益和远场方向图。本发明通过实测数据进行探头影响去嵌入,从共同结果中将探头影响去除,可以大幅度降低探头影响,有效修正增益和方向图测量结果;解决了探头影响的实际评估分析,对于提升平面近场法天线测量准确度具有至关重要的意义。

    一种带转台的微波暗室吸波材料铺设装置及方法

    公开(公告)号:CN113597244B

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN202110843663.X

    申请日:2021-07-26

    Abstract: 本发明公开了一种带转台的微波暗室吸波材料铺设装置及方法,属于RCS测试领域,转台上活动设置有转台水平铺设单元和转台旋转铺设单元,转台水平铺设单元和转台旋转铺设单元紧挨设置且均构成转台本体的一部分,转台旋转铺设单元可旋转撤收至转台水平铺设单元下方;在转台两侧的场地紧挨着转台水平铺设单元设置有转台垂直铺设单元,所述转台垂直铺设单元下方设置有起升装置用于实现转台垂直铺设单元的升降,转台水平铺设单元下方设置有导轨,转台水平铺设单元可沿导轨撤收至转台垂直铺设单元下方或回复原位。本发明有效地解决了大尺寸微波暗室场地内的吸波材料铺设工作量大和位置摆放准确性的问题。

    一种降低电磁干扰的目标定位转台系统

    公开(公告)号:CN112782431A

    公开(公告)日:2021-05-11

    申请号:CN202110385509.2

    申请日:2021-04-10

    Abstract: 本发明公开了一种降低电磁干扰的目标定位转台系统,包括建立在地基基坑内的支撑主体,支撑主体中部贯穿安装有中心定位轴,中心定位轴下部固定设置有光电转换装置,光电转换装置通过信号输出电缆与电气控制柜连接,所述电气控制柜固定在最下部的地基上;中心定位轴上部安装有转台,转台上部固定有转台台面,转台台面两侧的基坑设置有安装基座,安装基座内安装有与转台台面侧面接触的铜刷;中心定位轴两侧还设置有驱动转台转动的伺服电机,伺服电机的通过电机控制线缆与电气控制柜连接,地基内还埋设有铜网。本发明保证了目标定位转台及被测试目标的安全性,同时消除了电磁干扰对屏蔽暗室电磁环境的影响,提高测试结果的置信度。

    一种基于三轴联动的目标俯仰姿态调整及计算方法

    公开(公告)号:CN113435052B

    公开(公告)日:2022-08-12

    申请号:CN202110742705.0

    申请日:2021-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于三轴联动的目标俯仰姿态调整及计算方法,涉及微波测试技术领域,包括以下步骤:先采用卷扬系统吊装被测目标的一端,同时将被测目标的另一端铰接在一支撑系统顶部,支撑系统底部设置有X轴移动机构;使卷扬系统、支撑系统及X轴移动机构同步上升将被测试目标升至测试高度;使卷扬系统与X轴移动机构同步运行,卷扬系统带动被测目标一端上升,同时X轴移动机构带动支撑系统及被测目标整体X轴正向同步移动,使被测目标处于+θ°的仰角调姿;然后反向操作使被测目标处于‑θ°的俯角调姿;最后对卷扬系统Z向和支撑系统X向的实际位移进行计算,本发明可针对大型目标进行精度高、可靠性好的测试,操作规范,计算准确。

    一种降低电磁干扰的目标定位转台系统

    公开(公告)号:CN112782431B

    公开(公告)日:2021-08-03

    申请号:CN202110385509.2

    申请日:2021-04-10

    Abstract: 本发明公开了一种降低电磁干扰的目标定位转台系统,包括建立在地基基坑内的支撑主体,支撑主体中部贯穿安装有中心定位轴,中心定位轴下部固定设置有光电转换装置,光电转换装置通过信号输出电缆与电气控制柜连接,所述电气控制柜固定在最下部的地基上;中心定位轴上部安装有转台,转台上部固定有转台台面,转台台面两侧的基坑设置有安装基座,安装基座内安装有与转台台面侧面接触的铜刷;中心定位轴两侧还设置有驱动转台转动的伺服电机,伺服电机的通过电机控制线缆与电气控制柜连接,地基内还埋设有铜网。本发明保证了目标定位转台及被测试目标的安全性,同时消除了电磁干扰对屏蔽暗室电磁环境的影响,提高测试结果的置信度。

    一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法

    公开(公告)号:CN116559745A

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN202310383818.5

    申请日:2023-04-12

    Abstract: 本发明公开了一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法,属于天线测量技术领域,包括以下步骤:步骤一、在待测天线的辐射近场区,进行平面近场扫描测量,得到一个平面上的待测天线近场幅度和相位数据;步骤二、将天线近场数据变换到天线远场;步骤三:测量扫描探头的增益和方向图;步骤四:将扫描探头的增益和方向图从共同结果中去除,得到待测天线的增益和远场方向图。本发明通过实测数据进行探头影响去嵌入,从共同结果中将探头影响去除,可以大幅度降低探头影响,有效修正增益和方向图测量结果;解决了探头影响的实际评估分析,对于提升平面近场法天线测量准确度具有至关重要的意义。

Patent Agency Ranking