检测模式控制电路
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110297436A

    公开(公告)日:2019-10-01

    申请号:CN201910636228.2

    申请日:2019-07-15

    Abstract: 本发明涉及一种检测模式控制电路包括:形态学检测模块与形态学检测探头连接;形态学检测模块用于根据用户指令或系统设定生成形态学检测控制信号弹性检测模块与开关模块连接,用于根据用户指令或系统设定生成弹性检测控制信号以及第二控制信号;开关模块与复合探头连接;用于接收所述形态学检测控制信号、弹性检测控制信号以及第二控制信号,并根据第二控制信号控制复合探头执行形态学检测,或根据第二控制信号控制复合探头执行弹性检测。本发明利用一个复合探头执行形态学检测和弹性检测,使弹性检测位置更加精准,进一步的使诊断数据更加精确。

    检测模式控制电路
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110297436B

    公开(公告)日:2024-11-19

    申请号:CN201910636228.2

    申请日:2019-07-15

    Abstract: 本发明涉及一种检测模式控制电路包括:形态学检测模块与形态学检测探头连接;形态学检测模块用于根据用户指令或系统设定生成形态学检测控制信号弹性检测模块与开关模块连接,用于根据用户指令或系统设定生成弹性检测控制信号以及第二控制信号;开关模块与复合探头连接;用于接收所述形态学检测控制信号、弹性检测控制信号以及第二控制信号,并根据第二控制信号控制复合探头执行形态学检测,或根据第二控制信号控制复合探头执行弹性检测。本发明利用一个复合探头执行形态学检测和弹性检测,使弹性检测位置更加精准,进一步的使诊断数据更加精确。

    检测模式控制电路
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110710988B

    公开(公告)日:2023-03-17

    申请号:CN201910900258.X

    申请日:2019-09-23

    Abstract: 本发明涉及一种检测模式控制电路包括:复合探头,以及与所述复合探头分别相连的参数检测控制电路和成像控制电路,其中:所述参数检测控制电路,用于根据用户输入的控制信号控制所述复合探头进行参数检测;所述成像控制电路,用于根据用户输入的控制信号控制所述复合探头进行成像;所述控制信号,用于控制所述复合探头与所述参数检测控制电路或所述成像控制电路导通。本发明利用一个复合探头完成成像和参数检测,使参数检测位置更加精准,进一步的使诊断数据更加精确。

    检测模式控制电路
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110710988A

    公开(公告)日:2020-01-21

    申请号:CN201910900258.X

    申请日:2019-09-23

    Abstract: 本发明涉及一种检测模式控制电路包括:复合探头,以及与所述复合探头分别相连的参数检测控制电路和成像控制电路,其中:所述参数检测控制电路,用于根据用户输入的控制信号控制所述复合探头进行参数检测;所述成像控制电路,用于根据用户输入的控制信号控制所述复合探头进行成像;所述控制信号,用于控制所述复合探头与所述参数检测控制电路或所述成像控制电路导通。本发明利用一个复合探头完成成像和参数检测,使参数检测位置更加精准,进一步的使诊断数据更加精确。

    检测模式控制电路
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN210222508U

    公开(公告)日:2020-03-31

    申请号:CN201921109021.1

    申请日:2019-07-15

    Abstract: 本实用新型涉及一种检测模式控制电路包括:形态学检测模块与形态学检测探头连接;形态学检测模块用于根据用户指令或系统设定生成形态学检测控制信号弹性检测模块与开关模块连接,用于根据用户指令或系统设定生成弹性检测控制信号以及第二控制信号;开关模块与复合探头连接;用于接收所述形态学检测控制信号、弹性检测控制信号以及第二控制信号,并根据第二控制信号控制复合探头执行形态学检测,或根据第二控制信号控制复合探头执行弹性检测。本实用新型利用一个复合探头执行形态学检测和弹性检测,使弹性检测位置更加精准,进一步的使诊断数据更加精确。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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