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公开(公告)号:CN100383610C
公开(公告)日:2008-04-23
申请号:CN200580000068.9
申请日:2005-03-18
Applicant: 日本电信电话株式会社
CPC classification number: G02F1/01708 , B82Y20/00 , G02F1/0316 , G02F1/0356
Abstract: 在具有电/光相互作用区域(11)的光调制器件(10)中,电信号线(3)与电信号输入端(2a)相连,另一电信号线(4a)与电信号输出端(2b)相连,以及反射控制电路(5)与所述另一电信号线(4a)相连。此反射控制电路(5)是必然反射来自光调制器件(10)的相互作用区域(11)的输出电信号的阻抗元件。这使其能够提高可以改善E/O(电/光)响应特性的上限频率,并改善E/O响应的频率特性的平坦度,而不会恶化E/O响应的绝对值。
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公开(公告)号:CN100459067C
公开(公告)日:2009-02-04
申请号:CN200580001196.5
申请日:2005-05-18
Applicant: 日本电信电话株式会社
IPC: H01L21/3205 , H01L21/60 , H01L27/14 , H01S5/042
Abstract: 本发明提供一种减小电极焊盘部分的电容,同时对于实用性的电极焊盘尺寸能够进行特性阻抗的控制的半导体衬底上的电极焊盘。在n-InP衬底1上,形成将n-InP包层2、i层3、p-InP包层与p型接触层4叠层而成的台面条纹型的光波导,在n-InP衬底1上形成在光波导的附近具有台面状淀积部8c的绝缘性材料膜8,将向光波导供给电信号的电极金属11a和布线金属11b、11c分别配置在光波导和绝缘性材料膜8之上,同时将电极焊盘10配置在台面状淀积部8c的上面,使得n-InP衬底1与电极焊盘10具有规定的间隔t1(大约17~29μm)。
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公开(公告)号:CN114846327A
公开(公告)日:2022-08-02
申请号:CN201980103126.2
申请日:2019-12-20
Applicant: 日本电信电话株式会社
IPC: G01N33/36
Abstract: 提供了第一测量设备(20)和具有数据库的验证装置(30),所述第一测量设备测量动物的毛发中所含的碳元素的稳定同位素比和氢元素的稳定同位素比;所述数据库包括用于所述碳元素的稳定同位素比和所述氢元素的稳定同位素比的第一基准数据,所述第一基准数据对于所述动物的毛发的每个产地分类,其中所述第一测量设备(20)测量待测量的动物的毛发中所含的碳元素的稳定同位素比和氢元素的稳定同位素比,以及所述验证装置(30)将所述第一测量设备的测量结果与所述第一基准数据进行比较,并且基于比较结果来判定所述待测量的动物的毛发的产地。诸如购买了服装产品的消费者之类的用户可以自行确认该服装产品的原材料的产地的可信性。
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公开(公告)号:CN1860598A
公开(公告)日:2006-11-08
申请号:CN200580001196.5
申请日:2005-05-18
Applicant: 日本电信电话株式会社
IPC: H01L21/3205 , H01L21/60 , H01L27/14 , H01S5/042
Abstract: 本发明提供一种减小电极焊盘部分的电容,同时对于实用性的电极焊盘尺寸能够进行特性阻抗的控制的半导体衬底上的电极焊盘。在n-InP衬底1上,形成将n-InP包层2、i层3、p-InP包层与p型接触层4叠层而成的台面条纹型的光波导,在n-InP衬底1上形成在光波导的附近具有台面状淀积部8c的绝缘性材料膜8,将向光波导供给电信号的电极金属11a和布线金属11b、11c分别配置在光波导和绝缘性材料膜8之上,同时将电极焊盘10配置在台面状淀积部8c的上面,使得n-InP衬底1与电极焊盘10具有规定的间隔t1(大约17~29μm)。
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公开(公告)号:CN1764862A
公开(公告)日:2006-04-26
申请号:CN200580000068.9
申请日:2005-03-18
Applicant: 日本电信电话株式会社
IPC: G02F1/01
CPC classification number: G02F1/01708 , B82Y20/00 , G02F1/0316 , G02F1/0356
Abstract: 在具有电/光相互作用区域(11)的光调制器件(10)中,电信号线(3)与电信号输入端(2a)相连,另一电信号线(4a)与电信号输出端(2b)相连,以及反射控制电路(5)与所述另一电信号线(4a)相连。此反射控制电路(5)是必然反射来自光调制器件(10)的相互作用区域(11)的输出电信号的阻抗元件。这使其能够提高可以改善E/O(电/光)响应特性的上限频率,并改善E/O响应的频率特性的平坦度,而不会恶化E/O响应的绝对值。
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