导电体及其制造方法
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101978431B

    公开(公告)日:2012-09-26

    申请号:CN200980110682.9

    申请日:2009-03-05

    CPC classification number: C23C14/083 C23C14/5806

    Abstract: 本发明提供导电性良好且耐热性优良的导电体及其制造方法。一种导电体,其特征在于,在基板(10)上设有2层以上由添加有选自Nb、Ta、Mo、As、Sb、W、N、F、S、Se、Te、Cr、Ni、Tc、Re、P和Bi的1种或2种以上的掺杂剂的氧化钛形成的层(Z),该2层以上的层(Z)中的至少1层是掺杂剂的原子数相对于钛和掺杂剂的原子数总和的比例为0.01~4原子%的第二层(Z2)(12),在该第二层(Z2)(12)与基板(10)之间设有所述掺杂剂的原子数相对于钛和掺杂剂的原子数总和的比例大于该第二层(Z2)的第一层(Z1)(11)。

    导电体及其制造方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101978431A

    公开(公告)日:2011-02-16

    申请号:CN200980110682.9

    申请日:2009-03-05

    CPC classification number: C23C14/083 C23C14/5806

    Abstract: 本发明提供导电性良好且耐热性优良的导电体及其制造方法。一种导电体,其特征在于,在基板(10)上设有2层以上由添加有选自Nb、Ta、Mo、As、Sb、W、N、F、S、Se、Te、Cr、Ni、Tc、Re、P和Bi的1种或2种以上的掺杂剂的氧化钛形成的层(Z),该2层以上的层(Z)中的至少1层是掺杂剂的原子数相对于钛和掺杂剂的原子数总和的比例为0.01~4原子%的第二层(Z2)(12),在该第二层(Z2)(12)与基板(10)之间设有所述掺杂剂的原子数相对于钛和掺杂剂的原子数总和的比例大于该第二层(Z2)的第一层(Z1)(11)。

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