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公开(公告)号:CN112378393B
公开(公告)日:2022-06-03
申请号:CN202011015172.8
申请日:2020-09-24
Applicant: 杭州瑞利超声科技有限公司
IPC: G01C17/30
Abstract: 本发明公开了一种漂浮式抗倾斜方位磁通门探头检测装置,涉及传感器检测领域,包括底座、航向刻度盘、左支架、右支架和测试工作台,航向刻度盘上固装有左支架和右支架,左右支架上分别安装左右转轴,当左转轴松开时,测试工作台绕左转轴和右转轴做旋转运动,并与倾斜刻度盘配合,实现调整测试工作台的测试角度;航向刻度盘的中心位置处固装有中心转轴,上支撑环固装在航向刻度盘下端面,下支撑环固装在底座上端面,上支撑环与下支撑环表面接触并相互摩擦转动,使航向刻度盘绕底座中心360°自由旋转。本发明的航向刻度盘在0°~360°范围内均可满足方位磁通门探头测试精度要求;装置测量精度高、可靠性强、体积小、结构简单、制造成本低。
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公开(公告)号:CN112378393A
公开(公告)日:2021-02-19
申请号:CN202011015172.8
申请日:2020-09-24
Applicant: 杭州瑞利超声科技有限公司
IPC: G01C17/30
Abstract: 本发明公开了一种漂浮式抗倾斜方位磁通门探头检测装置,涉及传感器检测领域,包括底座、航向刻度盘、左支架、右支架和测试工作台,航向刻度盘上固装有左支架和右支架,左右支架上分别安装左右转轴,当左转轴松开时,测试工作台绕左转轴和右转轴做旋转运动,并与倾斜刻度盘配合,实现调整测试工作台的测试角度;航向刻度盘的中心位置处固装有中心转轴,上支撑环固装在航向刻度盘下端面,下支撑环固装在底座上端面,上支撑环与下支撑环表面接触并相互摩擦转动,使航向刻度盘绕底座中心360°自由旋转。本发明的航向刻度盘在0°~360°范围内均可满足方位磁通门探头测试精度要求;装置测量精度高、可靠性强、体积小、结构简单、制造成本低。
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