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公开(公告)号:CN117148083A
公开(公告)日:2023-12-01
申请号:CN202310710262.6
申请日:2023-06-15
Applicant: 杭州高裕电子科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种SIC功率循环测试方法,采用SIC功率循环测试装置,该装置的测试架体上固定有器件测试工装,测试电路组件以及电源,测试架体上部还设有显示设备、工控机,器件测试工装包括固定支撑机构、测试升降驱动机构、绝缘座和绝缘压块,绝缘座上间隔固定有均连接至测试电路组件的探针组A和探针组B,绝缘压块上设有导通探针,步骤如下:一、将待测器件放置在绝缘座上,二、启动电源,测试升降驱动机构带动绝缘压块下降,并使得绝缘压块上的导通探针的两端分别与待测器件的引脚、探针组B相抵,三、进行测试,并在显示设备上显示参数。本发明方法利用绝缘座和绝缘压块夹持SIC器件引脚,满足长时间的大电流通过。
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公开(公告)号:CN117092476A
公开(公告)日:2023-11-21
申请号:CN202311066246.4
申请日:2023-08-23
Applicant: 杭州高裕电子科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于三电平功率模块的高温反偏老化测试模块,包括测试工装及测试电路,测试工装包括底部PCB板和夹持组件,夹持组件中设有一个待测器件,测试电路通过底部PCB板与相对应的一个待测器件联通,测试电路包括正电源PWR+、负电源PWR‑、单工位正电源桥臂切换继电器S5,单工位负电源桥臂切换继电器S7、单工位中间桥臂切换继电器S6和MCU,每个继电器均包括两个并联的开关,MCU通过控制单工位正电源桥臂切换继电器S5,单工位负电源桥臂切换继电器S7以及单工位中间桥臂切换继电器S6三者中不同开关的通断配合,使得待测器件内的所有单管完成老化测试。本发明提高了老化处理效率,也降低了出错几率。
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公开(公告)号:CN116449171A
公开(公告)日:2023-07-18
申请号:CN202310706535.X
申请日:2023-06-15
Applicant: 杭州高裕电子科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于SIC功率循环测试的装置,包括测试架体、器件测试工装,器件测试工装包括固定支撑机构、测试升降驱动机构、绝缘座、绝缘压块,多个绝缘座分别固定在多工位水冷板上,绝缘座上固定有探针组A和探针组B,探针组A与待测器件的引脚相抵,多个绝缘压块间隔固定在压板的底部,绝缘压块上设有导通探针,动力组件推动压板带动绝缘压块下降时,导通探针的两端分别与待测器件的引脚以及探针组B相抵,使得待测器件的引脚夹在探针组A和导通探针一端之间,且通过导通探针的另一端与探针组B的相抵构成导通回路。本发明将多个SIC器件放置在多工位水冷板上,且利用绝缘座和绝缘压块夹持SIC器件引脚,满足长时间的大电流通过。
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公开(公告)号:CN117092476B
公开(公告)日:2025-01-14
申请号:CN202311066246.4
申请日:2023-08-23
Applicant: 杭州高裕电子科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于三电平功率模块的高温反偏老化测试模块,包括测试工装及测试电路,测试工装包括底部PCB板和夹持组件,夹持组件中设有一个待测器件,测试电路通过底部PCB板与相对应的一个待测器件联通,测试电路包括正电源PWR+、负电源PWR‑、单工位正电源桥臂切换继电器S5,单工位负电源桥臂切换继电器S7、单工位中间桥臂切换继电器S6和MCU,每个继电器均包括两个并联的开关,MCU通过控制单工位正电源桥臂切换继电器S5,单工位负电源桥臂切换继电器S7以及单工位中间桥臂切换继电器S6三者中不同开关的通断配合,使得待测器件内的所有单管完成老化测试。本发明提高了老化处理效率,也降低了出错几率。
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公开(公告)号:CN116449171B
公开(公告)日:2023-09-29
申请号:CN202310706535.X
申请日:2023-06-15
Applicant: 杭州高裕电子科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于SIC功率循环测试的装置,包括测试架体、器件测试工装,器件测试工装包括固定支撑机构、测试升降驱动机构、绝缘座、绝缘压块,多个绝缘座分别固定在多工位水冷板上,绝缘座上固定有探针组A和探针组B,探针组A与待测器件的引脚相抵,多个绝缘压块间隔固定在压板的底部,绝缘压块上设有导通探针,动力组件推动压板带动绝缘压块下降时,导通探针的两端分别与待测器件的引脚以及探针组B相抵,使得待测器件的引脚夹在探针组A和导通探针一端之间,且通过导通探针的另一端与探针组B的相抵构成导通回路。本发明将多个SIC器件放置在多工位水冷板上,且利用绝缘座和绝缘压块夹持SIC器件引脚,满足长时间的大电流通过。
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