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公开(公告)号:CN101573870A
公开(公告)日:2009-11-04
申请号:CN200780048484.5
申请日:2007-12-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H03L7/099 , H03L7/0995
Abstract: 本发明提供一种PLL老化电路以及半导体集成电路。在未内置环路滤波器的PLL中,使用较少的电路结构构成用于以适当的振荡频率对压控振荡器进行老化测试的附加电路。经由开关(12a)在压控振荡器(10)内的电压电流变换晶体管(11)的栅极端子上连接与晶体管(11)相同极性的进行了二极管连接的晶体管(13)的栅极,在晶体管(13)的漏极端子上连接电流源(14),适当地调整电流源(14)供给的电流值、晶体管(11)以及晶体管(13)的尺寸比,从而可以对压控振荡器(10)内的环形振荡器供给用于进行老化测试而所需的电流。
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公开(公告)号:CN101573870B
公开(公告)日:2011-12-21
申请号:CN200780048484.5
申请日:2007-12-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H03L7/099 , H03L7/0995
Abstract: 本发明提供一种PLL老化电路以及半导体集成电路。在未内置环路滤波器的PLL中,使用较少的电路结构构成用于以适当的振荡频率对压控振荡器进行老化测试的附加电路。经由开关(12a)在压控振荡器(10)内的电压电流变换晶体管(11)的栅极端子上连接与晶体管(11)相同极性的进行了二极管连接的晶体管(13)的栅极,在晶体管(13)的漏极端子上连接电流源(14),适当地调整电流源(14)供给的电流值、晶体管(11)以及晶体管(13)的尺寸比,从而可以对压控振荡器(10)内的环形振荡器供给用于进行老化测试而所需的电流。
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