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发明公开
电子部件试验装置无效

公开(公告)号：CN101750558A

公开(公告)日：2010-06-23

申请号：CN200910226544.9

申请日：2009-11-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 宫贵则 , 早水勋 , 田中彰一

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R31/2601 , G01R31/2867

Abstract: 本发明提供一种电子部件试验装置，在电子部件的试验中，能够使试验作业高效化，并能够确保较高的试验精度。电子部件试验装置具备：插座(1)，对连接端子(14)供给电源来使其驱动电子部件(15)；电子部件搭载构件(3)，搭载电子部件(15)；以及温度调节构件，与电子部件搭载构件(3)接触，将电子部件(15)保持为规定的温度；电子部件搭载构件(3)具备：导热板(8)，搭载电子部件(15)，并与温度调节构件接触；以及电子部件盖(11)，覆盖电子部件(15)；在导热板(8)上设有贯通孔(6)。

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