非易失性存储装置、存储控制器以及不良区域检测方法

    公开(公告)号:CN101243417A

    公开(公告)日:2008-08-13

    申请号:CN200680029679.0

    申请日:2006-07-13

    CPC classification number: G06F11/1068

    Abstract: 本发明提供一种非易失性存储装置、存储控制器以及不良区域检测方法,其目的在于为了限制在闪速存储器内发生了固有不良的物理块,准确地检测出该物理块,在ECC错误记录中,记录物理块的错误的发生历史或物理清除的历史,判断所发生的错误是偶发性的还是由固有不良引起的。在最初的读出错误发生以后,如果在物理清除后改写的数据中没有再次发生错误,则判断为最初的错误是偶发性的,如果再次发生错误,则判断为是由固有不良引起的错误。通过使用这样的ECC错误记录,能够准确地判断是偶发性错误还是由固有不良引起的错误。根据该判断,不使用固有不良的物理块,由此能够产生降低读出错误这样的效果。

    非易失性存储装置、存储控制器以及不良区域检测方法

    公开(公告)号:CN101243417B

    公开(公告)日:2011-05-04

    申请号:CN200680029679.0

    申请日:2006-07-13

    CPC classification number: G06F11/1068

    Abstract: 本发明提供一种非易失性存储装置、存储控制器以及不良区域检测方法,其目的在于为了限制在闪速存储器内发生了固有不良的物理块,准确地检测出该物理块,在ECC错误记录中,记录物理块的错误的发生历史或物理清除的历史,判断所发生的错误是偶发性的还是由固有不良引起的。在最初的读出错误发生以后,如果在物理清除后改写的数据中没有再次发生错误,则判断为最初的错误是偶发性的,如果再次发生错误,则判断为是由固有不良引起的错误。通过使用这样的ECC错误记录,能够准确地判断是偶发性错误还是由固有不良引起的错误。根据该判断,不使用固有不良的物理块,由此能够产生降低读出错误这样的效果。

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