CMOS半导体集成电路
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1273437A

    公开(公告)日:2000-11-15

    申请号:CN00107261.7

    申请日:2000-04-30

    CPC classification number: H03K19/00361 H03K19/0016 H03K19/00315

    Abstract: 数字电路部分中的通过双栅极加工工艺而制成的CMOS反相器,备有其栅极由P型多晶硅形成的P沟道场效应晶体管。该P沟道场效应晶体管的源极接在电源上,且该P沟道场效应晶体管的反向栅极直接接在该源极上。当在低功耗模式下上述电源被切断后,P沟道场效应晶体管便处于不起晶体管之作用的状态。为防止该P沟道场效应晶体管的特性在该模式下变坏,而设置了在该模式下,能将该P沟道场效应晶体管的栅极电压固定为0的下拉开关。

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