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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1484032A
公开(公告)日：2004-03-24
申请号：CN02142788.7
申请日：2002-09-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N33/558 , G01N33/543 , G01N30/90
CPC classification number: G01N33/54306 , G01N33/558
Abstract: 为了提供没有前带现象的影响并对试料中的分析物能够准确地进行定性以及定量分析的特异结合分析方法，将含有分析对象物的试料与保持标记材所标记的第1特异结合物质的保持部接触，使分析对象物与第1特异结合物质相结合，将上述试料与固定了第2特异结合物质的第1检测部接触，使过剩的分析对象物与第2特异结合物质相结合，将上述试料与固定了和上述分析对象物相同或类似的物质的第2检测部接触，使上述第1特异结合物质与上述物质结合，分别测量第1检测部以及第2检测部得到的来自上述标记材料的信号1以及信号2，接着根据上述强度求出上述试料中的分析对象物的浓度。
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公开(公告)号：CN1401078A
公开(公告)日：2003-03-05
申请号：CN01802892.6
申请日：2001-12-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N33/543
CPC classification number: G01N33/558 , G01N33/543 , G06F19/28
Abstract: 为提供减少前界现象、本底及杂质的影响，能对试料中的分析对象物简便、迅速且正确地定量或定性的特异结合分析方法及用于其的特异结合分析装置，预先按包含设想的分析对象物的各试料，生成与来自特异结合反应的信号强度有关的数据库，基于上述数据库决定试料的信号强度的测定模式，从而决定上述试料中的分析对象物的浓度。
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公开(公告)号：CN1489691A
公开(公告)日：2004-04-14
申请号：CN02804172.0
申请日：2002-09-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N33/543
CPC classification number: G01N33/558 , G01N33/54366 , G01N33/585
Abstract: 无需先进装置或操作就可自动进行试样的稀释，并且试样中分析对象物的浓度产生的影响少，可方便、迅速且正确地定性或定量试样中的分析对象物，所以使用至少排列2个以上单元的带，该单元配置有空间形成部2、保持标识第1特异结合物质的保持部5、和固定第2特异结合物质的检测部6，根据检测部6从特异结合反应得到的信号强度，定性或定量试样中的分析对象物。
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公开(公告)号：CN1262841C
公开(公告)日：2006-07-05
申请号：CN02142788.7
申请日：2002-09-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N33/558 , G01N33/543 , G01N30/90
CPC classification number: G01N33/54306 , G01N33/558
Abstract: 为了提供没有前带现象的影响并对试料中的分析物能够准确地进行定性以及定量分析的特异结合分析方法，将含有分析对象物的试料与保持标记材所标记的第1特异结合物质的保持部接触，使分析对象物与第1特异结合物质相结合，将上述试料与固定了第2特异结合物质的第1检测部接触，使过剩的分析对象物与第2特异结合物质相结合，将上述试料与固定了和上述分析对象物相同或类似的物质的第2检测部接触，使上述第1特异结合物质与上述物质结合，分别测量第1检测部以及第2检测部得到的来自上述标记材料的信号1以及信号2，接着根据上述强度求出上述试料中的分析对象物的浓度。
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公开(公告)号：CN1182394C
公开(公告)日：2004-12-29
申请号：CN01802892.6
申请日：2001-12-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01N33/558 , G01N33/543 , G06F19/28
Abstract: 为提供减少前界现象、本底及杂质的影响，能对试料中的分析对象物简便、迅速且正确地定量或定性的特异结合分析方法及用于其的特异结合分析装置，预先按包含设想的分析对象物的各试料，生成与来自特异结合反应的信号强度有关的数据库，基于上述数据库决定试料的信号强度的测定模式，从而决定上述试料中的分析对象物的浓度。
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