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公开(公告)号：CN109856935A
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201811431582.3
申请日：2018-11-27
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G03G15/043 , G03G15/04 , G02B26/12
Abstract: 本发明提供一种光写入装置以及图像形成装置，同时实现高精度的抖动校正以及间距不均匀抑制。在由单一的多面镜使来自第1、第2光源部的光线偏转并由第1、第2扫描光学系统扫描的光写入装置中，在光轴方向上在从多面镜之后到分离镜之前为止所配置的第1、第2扫描光学系统的反射光学元件的扫描的写开始侧以及写结束侧各自中保持点的数量相同，在从分离镜之后到被扫描面为止所配置的反射光学元件中，第1扫描光学系统的写开始侧和第2扫描光学系统的写结束侧的保持点的数量相同，并且第1扫描光学系统的写结束侧和第2扫描光学系统的写开始侧的保持点的数量被设定为相同。
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公开(公告)号：CN108169896B
公开(公告)日：2020-05-29
申请号：CN201711274020.8
申请日：2017-12-06
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Abstract: 本发明提供扫描光学装置及图像形成装置。包括：偏转器(1)，偏转从光源部件发射的光束(10)，使其在主扫描方向扫描；以及成像光学系统(2、3)，使经偏转器偏转的光束在被扫描面(4)上成像，成像光学系统包括：第1透镜(2)，在被扫描面上与主扫描方向正交的副扫描方向上具有负的光焦度；以及第2透镜(3)，在副扫描方向上具有正的光焦度，在将第1透镜和第2透镜的副扫描方向(z)的光焦度分别设为φ1、φ2，且将成像光学系统的副扫描方向倍率设为β时，成为‑1.2≤φ1/φ2≤‑0.9、‑1.3≤β≤‑0.8。此外，在将从偏转器反射光束的点开始直到被扫描面的距离设为L时，成为350mm≤L≤405mm。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111198485A
公开(公告)日：2020-05-26
申请号：CN201911133286.X
申请日：2019-11-19
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G03G15/04 , G03G15/043
Abstract: 提供抑制了来自偏转器的振动经由壳体传递到光学元件的光写入装置以及设置了该光写入装置的图像形成装置。光打印头(73)具备使光进行偏转扫描的偏转器(13)、光学元件(14a、14b、14c)、以及保持偏转器(13)以及光学元件(14a、14b、14c)的壳体(18)，在壳体(18)的支承板(18i)具有大致被振动抑制部(91a)以及振动传递遮断部(91b)包围并支承偏转器(13)的包围内区域(92)，在包围内区域(92)内具有面向振动传递遮断部(91b)的半岛状的可动平面部(92a)，并且在包围内区域(92)外配置在壳体(18)的振动方向具有光学灵敏度的至少一个以上的光学元件(14a)用的元件保持部(18d)。
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公开(公告)号：CN105928465B
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201610104519.3
申请日：2016-02-25
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G01B11/16
CPC classification number: G01B11/168 , G01B11/165 , G01L1/24 , G01L5/166
Abstract: 本发明提供一种应变传感器及变形量测定方法，应变传感器具备：光源，其射出光；标识器，其被设置于被测定对象物的表面，并反射从光源射出的光；检测部，其检测由标识器反射后的光的光强度；以及信号处理部，其根据由检测部检测出的光强度计算变形量。另外，标识器具备折射率不同的第一介质及第二介质。另外，第二介质在与标识器的设置面平行的平面上与第一介质同时存在，并且，周期性地被排列在第一介质内，第二介质的与标识器的设置面平行的方向的最大长度被形成为比从光源射出的光的波长短，第一介质及第二介质受到与标识器的设置面平行的方向的载荷而变形。
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公开(公告)号：CN109856935B
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN201811431582.3
申请日：2018-11-27
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G03G15/043 , G03G15/04 , G02B26/12
Abstract: 本发明提供一种光写入装置以及图像形成装置，同时实现高精度的抖动校正以及间距不均匀抑制。在由单一的多面镜使来自第1、第2光源部的光线偏转并由第1、第2扫描光学系统扫描的光写入装置中，在光轴方向上在从多面镜之后到分离镜之前为止所配置的第1、第2扫描光学系统的反射光学元件的扫描的写开始侧以及写结束侧各自中保持点的数量相同，在从分离镜之后到被扫描面为止所配置的反射光学元件中，第1扫描光学系统的写开始侧和第2扫描光学系统的写结束侧的保持点的数量相同，并且第1扫描光学系统的写结束侧和第2扫描光学系统的写开始侧的保持点的数量被设定为相同。
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公开(公告)号：CN108169896A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201711274020.8
申请日：2017-12-06
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Abstract: 本发明提供扫描光学装置及图像形成装置。包括：偏转器(1)，偏转从光源部件发射的光束(10)，使其在主扫描方向扫描；以及成像光学系统(2、3)，使经偏转器偏转的光束在被扫描面(4)上成像，成像光学系统包括：第1透镜(2)，在被扫描面上与主扫描方向正交的副扫描方向上具有负的光焦度；以及第2透镜(3)，在副扫描方向上具有正的光焦度，在将第1透镜和第2透镜的副扫描方向(z)的光焦度分别设为φ1、φ2，且将成像光学系统的副扫描方向倍率设为β时，成为‑1.2≤φ1/φ2≤‑0.9、‑1.3≤β≤‑0.8。此外，在将从偏转器反射光束的点开始直到被扫描面的距离设为L时，成为350mm≤L≤405mm。
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公开(公告)号：CN105928465A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610104519.3
申请日：2016-02-25
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G01B11/16
CPC classification number: G01B11/168 , G01B11/165 , G01L1/24 , G01L5/166
Abstract: 本发明提供一种应变传感器及变形量测定方法，应变传感器具备：光源，其射出光；标识器，其被设置于被测定对象物的表面，并反射从光源射出的光；检测部，其检测由标识器反射后的光的光强度；以及信号处理部，其根据由检测部检测出的光强度计算变形量。另外，标识器具备折射率不同的第一介质及第二介质。另外，第二介质在与标识器的设置面平行的平面上与第一介质同时存在，并且，周期性地被排列在第一介质内，第二介质的与标识器的设置面平行的方向的最大长度被形成为比从光源射出的光的波长短，第一介质及第二介质受到与标识器的设置面平行的方向的载荷而变形。
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