离子交换装置及其使用方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108779004A

    公开(公告)日:2018-11-09

    申请号:CN201780018206.9

    申请日:2017-03-16

    CPC classification number: B01J47/022 B01J47/028 B01J49/08 C02F1/42

    Abstract: 使用一种离子交换装置,该离子交换装置具有阴离子交换槽、阳离子交换槽以及塔体侧部,通过在阴离子交换槽和阳离子交换槽的外部绕回的连通机构将阴离子交换槽和阳离子交换槽连通,所述离子交换装置具有用于向阴离子交换槽的上部和下部供给液体或从阴离子交换槽的上部和下部排出液体的供排配管、以及用于向所述阳离子交换槽的上部和下部供给液体或从所述阳离子交换槽的上部和下部排出液体的供排配管,平板配置有让水通过而阻止离子交换树脂通过的集配水部件,上部供排配管、第一连通配管、第二连通配管以及下部供排配管的末端分别与该集配水部件连接。

    半导体制造用液体供给装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117916860A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202280060622.6

    申请日:2022-03-17

    Inventor: 饭野秀章

    Abstract: 本发明的半导体制造用液体供给装置(1)具有与超纯水(W)的供给源连通的供给管(2)、设置于该供给管(2)的中途的电导率调节剂供给机构(3)以及氧化还原电位调节剂供给机构(4)、膜式脱气装置(5)以及微粒去除过滤器(6)。供给管(2)分支为主配管(7)和排水配管(8)。在主配管(7)上设置有第一瞬时流量计(10),主配管(7)还与单张式晶片洗涤装置(9)连通。在排水配管(8)上设置有第二瞬时流量计(11),还设置有流量调整阀(12)。另外,在膜式脱气装置(5)与微粒去除过滤器(6)之间设置有传感器部(13)。而且,控制机构(15)能够对流量调整阀(12)进行控制。根据本发明,即使晶片洗涤装置中使用的流量变动也能够将半导体制造用液体的溶质浓度高精度地稳定在所期望的值并进行供给。

    规定浓度水的供给方法及装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110167661A

    公开(公告)日:2019-08-23

    申请号:CN201780082842.8

    申请日:2017-09-15

    Inventor: 饭野秀章

    Abstract: 一种规定浓度水的供给方法及装置,该规定浓度水的供给方法是在超纯水中添加导电性的第1液及非导电性的第2液至少2种液体来制造含有规定浓度的第1液成分及第2液成分的规定浓度水的工序,在所述规定浓度水的供给方法中,事先制备将所述第1液与第2液预先以规定混合比混合而成的混合液,将该混合液添加至超纯水,以使添加后的超纯水的导电率或电阻率成为规定值。

    微粒去除装置及微粒去除方法

    公开(公告)号:CN113631242A

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN202080024567.6

    申请日:2020-03-12

    Abstract: 一种微粒去除装置,具有去除液体中的微粒的膜,所述微粒去除装置的特征在于,串联配置具有正电荷的精密过滤膜或超滤膜、以及具有负电荷的精密过滤膜或超滤膜。一种微粒去除方法,使用所述装置。可按照具有负电荷的膜、具有正电荷的膜的顺序通液,由此,能够高水平地去除液体中的粒径为50nm以下特别是10nm以下的极微小的微粒。也可按照与上述相反的顺序来通液。

    稀药液供给装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114365269A

    公开(公告)日:2022-04-15

    申请号:CN202080063077.7

    申请日:2020-09-15

    Inventor: 饭野秀章

    Abstract: 稀药液供给装置(1)包括:调制稀药液(W1)的稀药液调制部(2);所调制的稀药液的贮存槽(3);将贮存于该贮存槽(3)的稀药液(W1)作为清洗水(W2),向多台单张式清洗机(5A、5B、5C)供给的稀药液调节供给机构(4);以及分别与单张式清洗机(5A、5B、5C)连接并将该单张式清洗机的剩余水回流至贮存槽(3)的回送机构。如果是这样的稀药液供给装置,则能高精度地调节稀药液的溶质浓度,且能够抑制剩余水的排出,适用于晶片等的清洗。

    超纯水制造装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105517960A

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201480048799.X

    申请日:2014-09-30

    Abstract: 本发明提供一种可稳定地制造微粒经高度去除的高水质的超纯水的超纯水制造装置。本发明的超纯水制造装置,其具有从一次纯水制造超纯水的次系统,在该次系统的最终段中设置有膜装置,其特征在于,该膜装置是以串联的方式设置有多段,并且,第1段的膜装置为UF膜装置、MF膜装置或RO膜装置,最终段的膜装置为UF膜装置或未经离子交换基修饰的MF膜装置。

Patent Agency Ranking