曝光装置、器件制造方法

    公开(公告)号:CN106707699B

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201710164773.7

    申请日:2004-07-26

    Abstract: 本发明提供曝光装置、器件制造方法。一种曝光装置,透过液体对基板照射曝光用光以使该基板曝光,具备:投影光学系统,将像透过液体透影;可动构件,支承该基板并移动;液体供应机构,从该可动构件的上方透过供应口对该投影光学系统下供应液体;以及液体回收机构,从该可动构件的上方透过吸引口将该供应的液体与气体一起回收;该液体回收机构具有收容从该吸引口回收且与气体分离的液体的槽、及检测收容在该槽的液体的量的检测器。

    曝光装置、器件制造方法、及曝光装置的控制方法

    公开(公告)号:CN101436000A

    公开(公告)日:2009-05-20

    申请号:CN200810173386.0

    申请日:2004-07-26

    Abstract: 本发明提供曝光装置、器件制造方法、及曝光装置的控制方法。曝光装置(EX)通过投影光学系(PL)和液体(1)将图形像投影到基板(P)上,从而对基板(P)进行曝光。曝光装置(EX)具有将液体(1)供给到投影光学系统(PL)与基板(P)间的液体供给机构(10)。液体供给机构(10)在检测到异常时停止液体(1)的供给。可抑制由于形成液浸区域的液体的泄漏使基板周边装置·构件受到的影响,良好地进行曝光处理。

    曝光装置及其控制方法
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100452293C

    公开(公告)日:2009-01-14

    申请号:CN200480021856.1

    申请日:2004-07-26

    Abstract: 本发明提供曝光装置、器件制造方法、及曝光装置的控制方法。曝光装置(EX)通过投影光学系(PL)和液体(1)将图形像投影到基板(P)上,从而对基板(P)进行曝光。曝光装置(EX)具有将液体(1)供给到投影光学系统(PL)与基板(P)间的液体供给机构(10)。液体供给机构(10)在检测到异常时停止液体(1)的供给。可抑制由于形成液浸区域的液体的泄漏使基板周边装置·构件受到的影响,良好地进行曝光处理。

    曝光装置和器件制造方法

    公开(公告)号:CN100429748C

    公开(公告)日:2008-10-29

    申请号:CN200380105422.5

    申请日:2003-12-08

    Abstract: 曝光装置(EX)在投影光学系统(PL)和衬底(P)之间充有液体(50),投影光学系统(P)通过液体(50)将图形图像投影在衬底(P)上,对衬底(P)进行曝光。它包括:保持衬底的衬底台(PST);向投影光学系统的像面侧供给液体的液体供给装置(1);以及经过液体(50)检测衬底(P)表面的表面信息的聚焦/平整检测系统(14)。曝光装置(EX)根据聚焦/平整检测系统检测(14)的表面信息,一边调整衬底(P)表面与投影光学系统(PL)经过液体(50)形成的像面之间的位置关系一边进行衬底的浸液曝光。能够以良好图案转印精度进行浸液曝光。

    曝光装置、器件制造方法

    公开(公告)号:CN106707699A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201710164773.7

    申请日:2004-07-26

    Abstract: 本发明提供曝光装置、器件制造方法。一种曝光装置,透过液体对基板照射曝光用光以使该基板曝光,具备:投影光学系统,将像透过液体透影;可动构件,支承该基板并移动;液体供应机构,从该可动构件的上方透过供应口对该投影光学系统下供应液体;以及液体回收机构,从该可动构件的上方透过吸引口将该供应的液体与气体一起回收;该液体回收机构具有收容从该吸引口回收且与气体分离的液体的槽、及检测收容在该槽的液体的量的检测器。

    曝光装置、器件制造方法
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101436001B

    公开(公告)日:2012-04-11

    申请号:CN200810173387.5

    申请日:2004-07-26

    Abstract: 本发明提供曝光装置、器件制造方法、及曝光装置的控制方法。曝光装置(EX)通过投影光学系(PL)和液体(1)将图形像投影到基板(P)上,从而对基板(P)进行曝光。曝光装置(EX)具有将液体(1)供给到投影光学系统(PL)与基板(P)间的液体供给机构(10)。液体供给机构(10)在检测到异常时停止液体(1)的供给。可抑制由于形成液浸区域的液体的泄漏使基板周边装置·构件受到的影响,良好地进行曝光处理。

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