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公开(公告)号：CN107112192B
公开(公告)日：2019-08-09
申请号：CN201580062118.X
申请日：2015-10-30
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: H01J49/0036 , H01J49/38 , H01J49/4245
Abstract: 本发明公开了一种使用质谱仪量化离子样品中的一种或多种离子种类的方法，该方法包括以下步骤：获取与所述质谱仪中的离子的运动引起的信号相对应的时域数据集；通过对其应用非对称窗函数来调整所述数据集；产生频域中吸收模式质谱包括对调整后的数据集应用傅里叶变换的步骤；对于与所述一种或多种离子种类相关联的质谱中的一个或多个峰，确定峰范围；对于每个确定的峰范围，对各峰范围内的谱数据进行积分，以产生各峰强度值；以及，基于各峰强度值，量化所述一种或多种离子种类中的每一种。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110060918A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910150261.4
申请日：2015-04-29
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 一种质量分析器包括一对电极阵列。每个阵列具有一组聚焦电极，在使用中，所述聚焦电极具有电压，以在电极阵列之间的空间中产生静电场，使得离子在空间中经历周期性的振荡运动，离子在所述聚焦电极组的电极之间穿过，并且在所述电极阵列中间的中心平面被重复地聚焦。每个聚焦电极组中的至少一个电极具有比同组的其它电极的电极表面更接近中心平面的电极表面。所述分析器可以是离子陷阱质量分析器或多匝ToF质量分析器。
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公开(公告)号：CN110060918B
公开(公告)日：2021-07-30
申请号：CN201910150261.4
申请日：2015-04-29
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 一种质量分析器包括一对电极阵列。每个阵列具有一组聚焦电极，在使用中，所述聚焦电极具有电压，以在电极阵列之间的空间中产生静电场，使得离子在空间中经历周期性的振荡运动，离子在所述聚焦电极组的电极之间穿过，并且在所述电极阵列中间的中心平面被重复地聚焦。每个聚焦电极组中的至少一个电极具有比同组的其它电极的电极表面更接近中心平面的电极表面。所述分析器可以是离子陷阱质量分析器或多匝ToF质量分析器。
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公开(公告)号：CN106663588B
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201580037909.7
申请日：2015-04-29
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 一种质量分析器包括一对电极阵列。每个阵列具有一组聚焦电极，在使用中，所述聚焦电极具有电压，以在电极阵列之间的空间中产生静电场，使得离子在空间中经历周期性的振荡运动，离子在所述聚焦电极组的电极之间穿过，并且在所述电极阵列中间的中心平面被重复地聚焦。每个聚焦电极组中的至少一个电极具有比同组的其它电极的电极表面更接近中心平面的电极表面。所述分析器可以是离子陷阱质量分析器或多匝ToF质量分析器。
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公开(公告)号：CN107112192A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201580062118.X
申请日：2015-10-30
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: H01J49/0036 , H01J49/38 , H01J49/4245
Abstract: 本发明公开了一种使用质谱仪量化离子样品中的一种或多种离子种类的方法，该方法包括以下步骤：获取与所述质谱仪中的离子的运动引起的信号相对应的时域数据集；通过对其应用非对称窗函数来调整所述数据集；产生频域中吸收模式质谱包括对调整后的数据集应用傅里叶变换的步骤；对于与所述一种或多种离子种类相关联的质谱中的一个或多个峰，确定峰范围；对于每个确定的峰范围，对各峰范围内的谱数据进行积分，以产生各峰强度值；以及，基于各峰强度值，量化所述一种或多种离子种类中的每一种。
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公开(公告)号：CN106663588A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201580037909.7
申请日：2015-04-29
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: H01J49/401 , H01J49/065 , H01J49/067 , H01J49/068 , H01J49/282 , H01J49/406
Abstract: 一种质量分析器包括一对电极阵列。每个阵列具有一组聚焦电极，在使用中，所述聚焦电极具有电压，以在电极阵列之间的空间中产生静电场，使得离子在空间中经历周期性的振荡运动，离子在所述聚焦电极组的电极之间穿过，并且在所述电极阵列中间的中心平面被重复地聚焦。每个聚焦电极组中的至少一个电极具有比同组的其它电极的电极表面更接近中心平面的电极表面。所述分析器可以是离子陷阱质量分析器或多匝ToF质量分析器。
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