测量装置及测量方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101273282A

    公开(公告)日:2008-09-24

    申请号:CN200680035417.5

    申请日:2006-08-10

    CPC classification number: G01C15/002 G01S7/4818 G01S7/486 G01S7/497 G01S17/10

    Abstract: 一种测量装置及测量方法,当对测量对象物照射光并接收其反射光来测量延迟时间或距离时,更进一步使测量误差变得微小。由受光部(9)接收作为受光信号的基准脉冲光(r)及测量脉冲光(o1),从受光信号(r、o1)形成阻尼信号(S3U),将阻尼信号(S3U)的零交叉点Q0附近微小电平的信号放大率高幅放大,使用放大后的信号,来形成定时信号(r′、o1′)。由此,可以使测量误差变得微小。

    距离测定装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102341725B

    公开(公告)日:2015-05-20

    申请号:CN201080010167.6

    申请日:2010-02-25

    CPC classification number: G01S17/36

    Abstract: 即使在振荡器的频率中产生摆动,也根据逐次差拍的处理信号间的相位差来测定距离。距离测定装置具备:激光器装置(1),作为激光光束产生光频梳;基准光接收部(3),对基准光(27)进行光接收;以及测定光接收部(6),对测距光(28)进行光接收。第1混频器(31)和第2混频器(32)将测定光接收部(6)和基准光接收部(3)的光接收信号与具有特定的频率的振荡器(50)的周期信号相乘。第4滤波器(51)和第5滤波器(52)提取从在第1混频器(31)和第2混频器(32)生成的信号成分中提取不同的频率成分。以第4滤波器(51)和第5滤波器(52)提取的信号在第3混频器中相乘,以第6滤波器(54)提取差的频率成分。相位差测定部(12)测定来自第6滤波器(54)和第2滤波器(11)的2个处理信号的相位差,距离测定部(17)根据该相位差测定距离。

    距离测定装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102341725A

    公开(公告)日:2012-02-01

    申请号:CN201080010167.6

    申请日:2010-02-25

    CPC classification number: G01S17/36

    Abstract: 即使在振荡器的频率中产生摆动,也根据逐次差拍的处理信号间的相位差来测定距离。距离测定装置具备:激光器装置(1),作为激光光束产生光频梳;基准光接收部(3),对基准光(27)进行光接收;以及测定光接收部(6),对测距光(28)进行光接收。第1混频器(31)和第2混频器(32)将测定光接收部(6)和基准光接收部(3)的光接收信号与具有特定的频率的振荡器(50)的周期信号相乘。第4滤波器(51)和第5滤波器(52)提取从在第1混频器(31)和第2混频器(32)生成的信号成分中提取不同的频率成分。以第4滤波器(51)和第5滤波器(52)提取的信号在第3混频器中相乘,以第6滤波器(54)提取差的频率成分。相位差测定部(12)测定来自第6滤波器(54)和第2滤波器(11)的2个处理信号的相位差,距离测定部(17)根据该相位差测定距离。

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