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公开(公告)号：CN107003244B
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN201580066632.0
申请日：2015-11-11
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明的目的是提供可迅速并可靠地识别从具有不同的荧光波长的多种荧光色素所发出的荧光的多色荧光分析装置。本发明的多色荧光分析装置(11)是检测通过激发光的照射而从试样(s)所包含的多种荧光色素所发出的荧光的多色荧光分析装置，其特征在于，具备：照射光学部(520)，其将从光源(510)所发出的光作为激发光来照射到试样(s)；荧光聚光部(530)，其具有透射从试样(s)所发出的荧光并透射与激发波长带不同的透射波长带的光的荧光滤光片(531)；以及二维检测器(554)，其具有透射预定波长的光的多种透射滤光片(556)，并对每一个透射滤光片(556)检测预定波长的光的强度，该多色荧光分析装置同时检测由多种荧光色素中的至少2种荧光色素所发出的光，并根据检测出的光的强度来识别荧光色素的种类。
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公开(公告)号：CN107209120B
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201580073959.0
申请日：2015-02-02
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明的多色荧光分析装置(1)具备：照射部(41)，向试样(s)照射具有多个激发波长带的激发光；第一光纤板(424)，对含有利用照射激发光而从试样(s)发出的荧光的光进行导光，并且从第一射出部(425b)射出；第二光纤板(431)，从第二入射部(434a)接受从第一射出部(425b)射出的光，并进行导光，并且从第二射出部(434b)射出上述光；单一的电介体多层膜干涉滤光片(432)，设于第二射出部(434b)的端面上，透射上述荧光的至少一部分且透射不含上述激发波长带的多个透射波长带的光；以及二维检测部(433)，以紧贴电介体多层膜干涉滤光片(432)的方式设置，对透射了上述电介体多层膜干涉滤光片(432)的光进行检测。
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公开(公告)号：CN102066548A
公开(公告)日：2011-05-18
申请号：CN200980123483.1
申请日：2009-06-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: C12Q1/6874 , B01J2219/00529 , B01J2219/00596 , B01J2219/00608 , B01J2219/00711 , B01J2219/00722 , B01L3/502707 , B82Y30/00 , G01N21/648 , C12Q2523/313 , C12Q2523/319 , C12Q2561/113 , C12Q2565/628 , C12Q2525/186 , C12Q2563/107 , C12Q2565/631
Abstract: 本发明的目的涉及在基板内的目标区域内选择性控制延伸反应。本发明将在其末端配置有笼锁化合物的寡探针固定在基板内的反应场区域。在包含反应场区域的流动池内注入反应液后，仅对反应场区域照射光，使固定在该反应场区域内的寡探针末端的光分解活性保护基解离，选择性控制聚合酶的延伸反应的开始。在流动池内，在基板上以一定间隔配置有多个反应场区域。使固定在可动载台上的流动池移动相邻的反应场区域的距离的量，照射光，连续进行延伸反应的测定。通过重复该动作，在流动池内既不使用复杂的流路、也不进行反应液的交换而稳定地测定碱基延伸反应。
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公开(公告)号：CN119234150A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202280096348.8
申请日：2022-07-27
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/447
Abstract: 本发明的目的是提供一种抑制不必要的重新电泳和样品重新制备的分析方法。为此，本发明的分析方法通过使用毛细管和泳动介质使样品进行电泳来分析与所述样品有关的特性，包括：读取分析条件的读取工序；将所述泳动介质填充到所述毛细管中的泳动介质填充工序；将所述样品注入到在所述泳动介质填充工序中填充了所述泳动介质的所述毛细管中的样品注入工序；使在所述样品注入工序中注入的所述样品在所述泳动介质中进行电泳的电泳工序；通过将在所述电泳工序中获得的分析结果与分析条件相同的其他分析结果进行比较来统计地判定是否异常的异常判定工序；以及调整分析条件的分析条件调整工序，在所述异常判定工序中判定为异常时，经由所述分析条件调整工序再次转移到所述读取工序。
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公开(公告)号：CN119731339A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202280099309.3
申请日：2022-09-22
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: C12Q1/6844 , C12N15/09
Abstract: 本发明提供一种能够进行定量检查的点变异比率检测方法。本发明的点变异比率检测方法用于多重连接探针扩增MLPA测量，其具有：测量工序，使用电泳装置，测量从试样的变异部分发出的荧光信号即源自变异信号的强度SMT以及从所述试样的变异部分以外的部分发出的荧光信号即源自野生信号的强度SWT中的至少所述SMT；比率计算工序，计算所述SMT相对于强度比所述SMT高的基准值的比率，所述电泳装置的对荧光信号的测量的动态范围的上限为预定值以上。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118974278A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202280094263.6
申请日：2022-04-05
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: C12Q1/6869 , C12M1/00 , G01N21/64
Abstract: 基因解析装置取得通过对样品进行电泳而取得的多个频率的信号强度的时间序列数据即泳动数据，使用泳动数据，确定仅来源于一个碱基的光谱即单一荧光光谱所存在的单一荧光光谱时刻，使用从单一荧光光谱时刻的颜色变换矩阵得到的光谱和单一荧光光谱时刻的单一荧光光谱，计算光谱偏移模型，使用光谱偏移模型来校正泳动数据，使用校正后的泳动数据来确定样品的碱基序列。
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公开(公告)号：CN106170688B
公开(公告)日：2019-05-17
申请号：CN201580011218.X
申请日：2015-03-11
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N21/05
Abstract: 分析装置具备：流芯片，其至少具备具有光透过性的第一基板、具有流体的注入口和排出口的第二基板；保持上述流芯片的保持部件；固定部件，其设置上述保持部件，并与上述流芯片的上述第二基板接触；将上述流体向上述注入口输送，并从上述排出口排出的流体送液部；配置于上述流芯片的上述第一基板侧的光学检测部；以及在XY方向驱动上述保持部件的驱动部。
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公开(公告)号：CN118435061A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202180105196.9
申请日：2021-12-23
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/00
Abstract: 一种分析系统(100)具备：分析装置(3)，其使用填充在聚合物盒(512)的聚合物(91)进行分析，取得聚合物盒(512)的属性信息并向外部传送；以及服务器(6)，其取得从分析装置(3)传送的聚合物盒(512)的属性信息，与存储在数据库(61)的属性信息进行对照，将判定了与所对照的属性信息对应的聚合物填充完毕的聚合物盒(512)是否适合作为对分析装置(3)设置的对象物的判定结果传送至分析装置(3)。
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公开(公告)号：CN107209120A
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201580073959.0
申请日：2015-02-02
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明的多色荧光分析装置(1)具备：照射部(41)，向试样(s)照射具有多个激发波长带的激发光；第一光纤板(424)，对含有利用照射激发光而从试样(s)发出的荧光的光进行导光，并且从第一射出部(425b)射出；第二光纤板(431)，从第二入射部(434a)接受从第一射出部(425b)射出的光，并进行导光，并且从第二射出部(434b)射出上述光；单一的电介体多层膜干涉滤光片(432)，设于第二射出部(434b)的端面上，透射上述荧光的至少一部分且透射不含上述激发波长带的多个透射波长带的光；以及二维检测部(433)，以紧贴电介体多层膜干涉滤光片(432)的方式设置，对透射了上述电介体多层膜干涉滤光片(432)的光进行检测。
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公开(公告)号：CN106170688A
公开(公告)日：2016-11-30
申请号：CN201580011218.X
申请日：2015-03-11
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N21/05
CPC classification number: G01N21/6458 , G01N21/0332 , G01N21/05 , G01N2021/6482
Abstract: 分析装置具备：流芯片，其至少具备具有光透过性的第一基板、具有流体的注入口和排出口的第二基板；保持上述流芯片的保持部件；固定部件，其设置上述保持部件，并与上述流芯片的上述第二基板接触；将上述流体向上述注入口输送，并从上述排出口排出的流体送液部；配置于上述流芯片的上述第一基板侧的光学检测部；以及在XY方向驱动上述保持部件的驱动部。
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