-
公开(公告)号:CN119497668A
公开(公告)日:2025-02-21
申请号:CN202380054515.7
申请日:2023-07-05
Applicant: 株式会社理光
Inventor: 田中诚
Abstract: 一种用于制造压电体装置的装置制造方法,所述装置制造方法包括:在基板的第一面上形成CMOS元件;在形成有CMOS元件的基板的第一面上形成压电体元件;当形成CMOS元件或压电体元件时,在形成压电体元件的区域中形成第一绝缘膜;当形成压电体元件时,在第一绝缘膜上形成下部电极层、压电体层、上部电极层、及第二绝缘膜;在基板上形成CMOS元件和压电体元件之后,形成CMOS元件的CMOS配线层和压电体元件的压电配线层。
-
公开(公告)号:CN1681658A
公开(公告)日:2005-10-12
申请号:CN03822109.8
申请日:2003-08-05
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: B41J2/1628 , B06B1/0292 , B41J2/14314 , B41J2/16 , B41J2/1623 , B41J2/1629 , B41J2/1639 , B41J2/1642 , B41J2/1645 , B41J2/1646 , B41J2002/14411
Abstract: 一种静电激励器,具有高可靠性并且特性几乎不变。在衬底(1)上形成有电极(12a),在电极上形成有多个分隔部件(50a)。在分隔部件(50a)上形成有振动片(19)并且振动片通过施加到电极(12a)的电压所产生的静电力可变形,使得通过蚀刻在电极(12a)和振动片(19)之间形成的牺牲层(14)的一部分,在分隔部件(50a)之间形成空气间隙(14a)。分隔部件(50a)由蚀刻之后牺牲层(14)的剩余部分形成。
-
公开(公告)号:CN100340405C
公开(公告)日:2007-10-03
申请号:CN03822109.8
申请日:2003-08-05
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: B41J2/1628 , B06B1/0292 , B41J2/14314 , B41J2/16 , B41J2/1623 , B41J2/1629 , B41J2/1639 , B41J2/1642 , B41J2/1645 , B41J2/1646 , B41J2002/14411
Abstract: 一种静电激励器,具有高可靠性并且特性几乎不变。在衬底(1)上形成有电极(12a),在电极上形成有多个分隔部件(50a)。在分隔部件(50a)上形成有振动片(19)并且振动片通过施加到电极(12a)的电压所产生的静电力可变形,使得通过蚀刻在电极(12a)和振动片(19)之间形成的牺牲层(14)的一部分,在分隔部件(50a)之间形成空气间隙(14a)。分隔部件(50a)由蚀刻之后牺牲层(14)的剩余部分形成。
-
-