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公开(公告)号:CN118159837A
公开(公告)日:2024-06-07
申请号:CN202280071992.X
申请日:2022-10-26
Applicant: 株式会社神户制钢所
IPC: G01N23/223 , C23C2/02 , G01N33/2028
Abstract: 本发明的一个方式涉及的晶界氧化层的膜厚计算方法,是酸洗处理后的钢板上残留的晶界氧化层的膜厚计算方法,其中,具备如下工序:强度测量工序,测量相对于包含在上述钢板中,并且构成上述晶界氧化层内的氧化物的元素的X射线荧光强度;膜厚计算工序,基于预先提取的X射线荧光强度与晶界氧化层的膜厚的相关关系及在上述强度测量工序中所测量的上述X射线荧光强度,计算上述晶界氧化层的膜厚。