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公开(公告)号:CN102362002B
公开(公告)日:2013-12-25
申请号:CN201080011383.2
申请日:2010-04-14
Applicant: 株式会社钢臂功科研
CPC classification number: C23C14/3414 , B22F2998/10 , C22C1/0425 , C22C9/00 , B22F9/082 , C23C14/34 , B22F3/15
Abstract: 本发明提供一种Cu-Ga合金溅射靶,可形成膜的成分组成的均匀性(膜均匀性)优异的Cu-Ga溅射膜且可降低溅射中的穿孔产生,同时,强度高且可抑制溅射中的裂纹。本发明是一种包含含有Ga的Cu基合金的溅射靶,其平均结晶粒径为10μm以下,且孔隙率为0.1%以下。
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公开(公告)号:CN102362002A
公开(公告)日:2012-02-22
申请号:CN201080011383.2
申请日:2010-04-14
Applicant: 株式会社钢臂功科研
CPC classification number: C23C14/3414 , B22F2998/10 , C22C1/0425 , C22C9/00 , B22F9/082 , C23C14/34 , B22F3/15
Abstract: 本发明提供一种Cu-Ga合金溅射靶,可形成膜的成分组成的均匀性(膜均匀性)优异的Cu-Ga溅射膜且可降低溅射中的穿孔产生,同时,强度高且可抑制溅射中的裂纹。本发明是一种包含含有Ga的Cu基合金的溅射靶,其平均结晶粒径为10μm以下,且孔隙率为0.1%以下。
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