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公开(公告)号：CN108759744B
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN201810550684.0
申请日：2018-05-31
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种下端面为斜面的圆筒型工件几何尺寸测量用立式装卡具，包括底座、定位板和平头柱塞；所述底座的顶端设有用于对所述圆筒型工件的端面进行竖直向支撑的支撑环面，所述支撑环面与所述底座的底面相平行，所述底座的外围设有定位板，任一定位板上均设有与其活动连接的平头柱塞，所述平头柱塞沿所述圆筒型工件的径向进退，用于对所述的圆筒型工件形成定位或解除定位。本发明可保证被测件与本发明放置的工作平面垂直，提高测量精准度。
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公开(公告)号：CN108413909B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN201810362071.4
申请日：2018-04-20
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种长筒类零件测量用定位调整装置及其定位方法，所述定位调整装置包括基准固定具和至少一个定位装置；所述基准固定具通过定位螺钉固定在三坐标测量机平台上，以使得所述基准固定具的基准面与所述的三坐标测量机平台的Y轴相平行，所述基准固定具的侧面为基准面；所述定位装置的顶端设有用于固定长筒类零件的固定部，所述定位装置的两侧侧面均为定位面，所述定位装置一侧的定位面与所述的基准面贴合，以对定位装置进行定位。可保证测量精度，提高测量效率。
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公开(公告)号：CN108426504A
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：CN201810175638.7
申请日：2018-03-02
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B5/06
Abstract: 本发明公开了一种测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置及其测量方法，所述测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置包括三坐标测量工作台，顶端固定设有高度相同的第一等高块和第二等高块；三坐标测头，其用于测量被测量物；移动机构，其使上述三坐标测头移动；控制装置，其控制上述移动机构；薄壁异形管定位机构，包括，支撑梁体,用于穿过所述薄壁异形管的管腔，所述支撑梁体的两端分别放置在第一等高块和第二等高块的顶端以形成支撑定位；内支撑定位杆：底端通过固定座在支撑梁体上定位，所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰内壁顶点的支撑部。本发明具有便于操作，提高测量精准度的优点。
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公开(公告)号：CN105486268B
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201610039290.X
申请日：2016-01-21
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B21/10
Abstract: 本发明公开了一种薄壁圆形工件几何量尺寸测量具，包括定位底座，定位底座上方放置有至少一个位置调节具，位于最上方的位置调节具上方放置有至少一个矫正圆盘；所述定位底座由圆柱型底座下段和圆锥型底座上段形成，底座下段下端面形成凸缘，定位底座中间形成Ⅰ号通孔；所述位置调节具由圆柱型调节具上段和圆锥型调节具下段形成，调节具上段内部焊接有圆盘，圆盘上形成沿圆周均布的多个圆孔；所述矫正圆盘上形成沿圆周均布的多个Ⅱ号通孔。本发明易于被测工件的装卡，能保证工件在测量中稳固不动，特别是能很好的矫正薄壁工件的变形，可以测量任何指定截面的直径尺寸，使得工件直径的测量结果更加准确。
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公开(公告)号：CN111854665A
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN201910355306.1
申请日：2019-04-29
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B21/08
Abstract: 本发明公开了内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置，包括设置在三坐标测量工作台上的基座、定位块及安装在基座上的夹紧测量组件；夹紧测量组件包括夹紧固定座和支撑块，支撑块的底端安装在夹紧固定座内，支撑块穿过内凹薄壁异形管的管腔，且该支撑块的支撑面上形成有支撑部；定位块设置在三坐标测量工作台靠近夹紧测量组件的一侧，定位块的尺寸与内凹薄壁异形管的尺寸相配合以用于固定内凹薄壁异形管的位置。棱边顶点模拟内凹薄壁异形管的被测波峰位置，通过悬挂定位方式，棱边顶点与内凹薄壁异形管的波峰位置点接触支撑，再利用三坐标测量仪，测量得出内凹薄壁异形管壁厚，测量参数准确、测量结果稳定可靠。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108253866A
公开(公告)日：2018-07-06
申请号：CN201810175646.1
申请日：2018-03-02
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B5/06
Abstract: 本发明公开了一种测量薄壁异形管波峰平直段壁厚的三坐标测量装置及其测量方法，所述薄壁异形管波峰平直段壁厚测量装置包括内支撑定位杆：末端通过定位部在平台上定位，所述内支撑定位杆外径小于所述薄壁异形管侧壁上波峰的内腔内径，所述内支撑定位杆的长度大于所述波峰的内腔深度，所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰的内壁顶点的支撑部；固定垫块：置于所述平台上以支撑薄壁异形管，使得所述支撑部的顶端与所述薄壁异形管的平直段内壁相抵。本发明可简化薄壁异形管波峰平直段壁厚测的测量作业，提高测量结果的可靠性。
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公开(公告)号：CN108426504B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN201810175638.7
申请日：2018-03-02
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B5/06
Abstract: 本发明公开了一种测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置及其测量方法，所述测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置包括三坐标测量工作台，顶端固定设有高度相同的第一等高块和第二等高块；三坐标测头，其用于测量被测量物；移动机构，其使上述三坐标测头移动；控制装置，其控制上述移动机构；薄壁异形管定位机构，包括，支撑梁体,用于穿过所述薄壁异形管的管腔，所述支撑梁体的两端分别放置在第一等高块和第二等高块的顶端以形成支撑定位；内支撑定位杆：底端通过固定座在支撑梁体上定位，所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰内壁顶点的支撑部。本发明具有便于操作，提高测量精准度的优点。
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公开(公告)号：CN108759744A
公开(公告)日：2018-11-06
申请号：CN201810550684.0
申请日：2018-05-31
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B21/00
CPC classification number: G01B5/0002 , G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种下端面为斜面的圆筒型工件几何尺寸测量用立式装卡具，包括底座、定位板和平头柱塞；所述底座的顶端设有用于对所述圆筒型工件的端面进行竖直向支撑的支撑环面，所述支撑环面与所述底座的底面相平行，所述底座的外围设有定位板，任一定位板上均设有与其活动连接的平头柱塞，所述平头柱塞沿所述圆筒型工件的径向进退，用于对所述的圆筒型工件形成定位或解除定位。本发明可保证被测件与本发明放置的工作平面垂直，提高测量精准度。
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公开(公告)号：CN108426553A
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：CN201810175180.5
申请日：2018-03-02
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B21/08
Abstract: 本发明公开了一种薄壁异形管波峰平直段壁厚测量用定位装置及其定位方法，所述薄壁异形管波峰平直段壁厚测量用定位装置包括内支撑定位杆：末端通过定位部在平台上定位，所述内支撑定位杆外径小于所述薄壁异形管侧壁上波峰的内腔内径，所述内支撑定位杆的长度大于所述波峰的内腔深度，所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰的内壁顶点的支撑部；固定垫块：置于所述平台上以支撑薄壁异形管，使得所述支撑部的顶端与所述薄壁异形管的平直段内壁相抵。本发明可简化薄壁异形管波峰平直段壁厚测的测量作业，提高测量结果的可靠性。
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公开(公告)号：CN108340300A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201810175184.3
申请日：2018-03-02
Applicant: 核工业理化工程研究院
Abstract: 本发明公开了一种薄壁异形管波峰壁厚测量用定位装置及其定位方法，所述薄壁异形管波峰壁厚测量用定位装置包括支撑梁体,用于穿过薄壁异形管的管腔；内支撑定位杆,底端通过固定座在支撑梁体上定位，所述内支撑定位杆的外径小于所述薄壁异形管侧壁上的波峰内腔的内径，所述内支撑定位杆的长度大于所述波峰内腔的深度，所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰的内壁顶点的支撑部。本发明具有便于操作，提高测量精准度的优点。
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