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公开(公告)号:CN114674273B
公开(公告)日:2024-02-09
申请号:CN202210423833.3
申请日:2022-04-21
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B21/24
Abstract: 本发明属于机械加工领域,尤其涉及一种三坐标测量机测量圆柱体直线度的测量装置和方法。测量装置包括:专用辅助测量装置,其包括定位座、定位球体以及连在两者之间的定位杆,专用辅助测量装置固定在被测柱体的一侧端面的指定位置;三坐标测量机,其包括用于定位被测柱体的工作台、用于获取被测柱体/定位球体各点坐标值的球测头以及用于带动球测头移动的三坐标移动组件。本发明利用三坐标测量机,借助专用辅助测量装置,可针对其长度与三坐标测量机轴向测量范围接近的圆柱体,在测量其多截面圆心连线的直线度时,解决所面临的困难,实现快速测量圆柱体多截面圆心连线的直线度及外径和圆度,保证测量精度和准确度。
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公开(公告)号:CN108759744B
公开(公告)日:2024-01-05
申请号:CN201810550684.0
申请日:2018-05-31
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种下端面为斜面的圆筒型工件几何尺寸测量用立式装卡具,包括底座、定位板和平头柱塞;所述底座的顶端设有用于对所述圆筒型工件的端面进行竖直向支撑的支撑环面,所述支撑环面与所述底座的底面相平行,所述底座的外围设有定位板,任一定位板上均设有与其活动连接的平头柱塞,所述平头柱塞沿所述圆筒型工件的径向进退,用于对所述的圆筒型工件形成定位或解除定位。本发明可保证被测件与本发明放置的工作平面垂直,提高测量精准度。
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公开(公告)号:CN113295127A
公开(公告)日:2021-08-24
申请号:CN202010109223.7
申请日:2020-02-21
Applicant: 核工业理化工程研究院
Abstract: 本发明公开了一种圆柱面与其他曲面或平面相交处圆角半径的测量方法,该测量方法通过调整待测件的Y轴方向位置结合粗糙度轮廓仪的测针确定测量平面后,使用粗糙度轮廓仪拾取和测量待测件的圆角半径。还公开了一种与该方法配合使用的测量装置,该测量装置在粗糙度轮廓仪的基础上结合Y向调节平台和角度可调夹紧装置以实现夹持固定待测件并调节其与XZ平面上的角度以及在Y轴方向位置。将粗糙度轮廓仪引入圆柱面与其他曲面或平面的相交处圆角半径的测法,可定量测量圆角半径,有效提高测量精度和测量效率。
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公开(公告)号:CN111854665A
公开(公告)日:2020-10-30
申请号:CN201910355306.1
申请日:2019-04-29
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B21/08
Abstract: 本发明公开了内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置,包括设置在三坐标测量工作台上的基座、定位块及安装在基座上的夹紧测量组件;夹紧测量组件包括夹紧固定座和支撑块,支撑块的底端安装在夹紧固定座内,支撑块穿过内凹薄壁异形管的管腔,且该支撑块的支撑面上形成有支撑部;定位块设置在三坐标测量工作台靠近夹紧测量组件的一侧,定位块的尺寸与内凹薄壁异形管的尺寸相配合以用于固定内凹薄壁异形管的位置。棱边顶点模拟内凹薄壁异形管的被测波峰位置,通过悬挂定位方式,棱边顶点与内凹薄壁异形管的波峰位置点接触支撑,再利用三坐标测量仪,测量得出内凹薄壁异形管壁厚,测量参数准确、测量结果稳定可靠。
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公开(公告)号:CN108253866A
公开(公告)日:2018-07-06
申请号:CN201810175646.1
申请日:2018-03-02
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B5/06
Abstract: 本发明公开了一种测量薄壁异形管波峰平直段壁厚的三坐标测量装置及其测量方法,所述薄壁异形管波峰平直段壁厚测量装置包括内支撑定位杆:末端通过定位部在平台上定位,所述内支撑定位杆外径小于所述薄壁异形管侧壁上波峰的内腔内径,所述内支撑定位杆的长度大于所述波峰的内腔深度,所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰的内壁顶点的支撑部;固定垫块:置于所述平台上以支撑薄壁异形管,使得所述支撑部的顶端与所述薄壁异形管的平直段内壁相抵。本发明可简化薄壁异形管波峰平直段壁厚测的测量作业,提高测量结果的可靠性。
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公开(公告)号:CN108426504B
公开(公告)日:2023-08-01
申请号:CN201810175638.7
申请日:2018-03-02
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B5/06
Abstract: 本发明公开了一种测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置及其测量方法,所述测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置包括三坐标测量工作台,顶端固定设有高度相同的第一等高块和第二等高块;三坐标测头,其用于测量被测量物;移动机构,其使上述三坐标测头移动;控制装置,其控制上述移动机构;薄壁异形管定位机构,包括,支撑梁体,用于穿过所述薄壁异形管的管腔,所述支撑梁体的两端分别放置在第一等高块和第二等高块的顶端以形成支撑定位;内支撑定位杆:底端通过固定座在支撑梁体上定位,所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰内壁顶点的支撑部。本发明具有便于操作,提高测量精准度的优点。
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公开(公告)号:CN108759744A
公开(公告)日:2018-11-06
申请号:CN201810550684.0
申请日:2018-05-31
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B21/00
CPC classification number: G01B5/0002 , G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种下端面为斜面的圆筒型工件几何尺寸测量用立式装卡具,包括底座、定位板和平头柱塞;所述底座的顶端设有用于对所述圆筒型工件的端面进行竖直向支撑的支撑环面,所述支撑环面与所述底座的底面相平行,所述底座的外围设有定位板,任一定位板上均设有与其活动连接的平头柱塞,所述平头柱塞沿所述圆筒型工件的径向进退,用于对所述的圆筒型工件形成定位或解除定位。本发明可保证被测件与本发明放置的工作平面垂直,提高测量精准度。
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公开(公告)号:CN108426553A
公开(公告)日:2018-08-21
申请号:CN201810175180.5
申请日:2018-03-02
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B21/08
Abstract: 本发明公开了一种薄壁异形管波峰平直段壁厚测量用定位装置及其定位方法,所述薄壁异形管波峰平直段壁厚测量用定位装置包括内支撑定位杆:末端通过定位部在平台上定位,所述内支撑定位杆外径小于所述薄壁异形管侧壁上波峰的内腔内径,所述内支撑定位杆的长度大于所述波峰的内腔深度,所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰的内壁顶点的支撑部;固定垫块:置于所述平台上以支撑薄壁异形管,使得所述支撑部的顶端与所述薄壁异形管的平直段内壁相抵。本发明可简化薄壁异形管波峰平直段壁厚测的测量作业,提高测量结果的可靠性。
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公开(公告)号:CN108340300A
公开(公告)日:2018-07-31
申请号:CN201810175184.3
申请日:2018-03-02
Applicant: 核工业理化工程研究院
Abstract: 本发明公开了一种薄壁异形管波峰壁厚测量用定位装置及其定位方法,所述薄壁异形管波峰壁厚测量用定位装置包括支撑梁体,用于穿过薄壁异形管的管腔;内支撑定位杆,底端通过固定座在支撑梁体上定位,所述内支撑定位杆的外径小于所述薄壁异形管侧壁上的波峰内腔的内径,所述内支撑定位杆的长度大于所述波峰内腔的深度,所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰的内壁顶点的支撑部。本发明具有便于操作,提高测量精准度的优点。
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公开(公告)号:CN106840006A
公开(公告)日:2017-06-13
申请号:CN201710191728.0
申请日:2017-03-28
Applicant: 核工业理化工程研究院
IPC: G01B11/08
CPC classification number: G01B11/08
Abstract: 本发明公开了一种开槽零件尺寸测量用具,包括均通过紧固螺钉安装于测长仪的测量杆上的一对测量具组件,所述测量具组件包括过盈连接的测帽和测头。本发明安装在测长仪的测量杆上,直接接触测量被测零件的开槽部位外径,实现该类零件开槽尺寸接触式精密测量,比较现有的测量方法,测量值更加准确,测量范围更大,工作效率更高。
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