一种发光二极管早期失效的筛选方法

    公开(公告)号:CN110600401A

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201910788468.4

    申请日:2019-08-26

    Abstract: 本发明提供了一种发光二极管早期失效的筛选方法,涉及发光二极管应用技术领域,解决了现有单一试验无法有效筛选出发光二极管不良的技术问题。该方法在抽取样品后进行回流焊实验、波峰焊实验、高温实验、温度冲击实验和高温水煮实验中的至少两项筛选实验,再检测筛选不良品。对样品进行回流焊实验、波峰焊实验、高温实验、温度冲击实验和高温水煮实验中的至少两项筛选实验,与传统的仅进行单一筛选实验的方法相比,通过至少两项筛选实验使发光二极管的早期失效问题明显地暴露出来,以便更有效地筛选出不良品,隐避缺陷也能很好地筛选出,提高发光二极管重大隐蔽性质量缺陷的筛选不良检出率,提高了电器产品的整体质量和可靠性,降低了售后维修率。

    电感元件的引脚焊接封装方法及电感元件

    公开(公告)号:CN111805035A

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN202010689962.8

    申请日:2020-07-17

    Abstract: 本申请提供的一种电感元件的引脚焊接封装方法及电感元件,该方法包括将漆包线的一端缠绕于待焊接引脚中部;其中,所述漆包线的缠绕部分包括去漆焊接部分和未去漆缓冲部分,所述漆包线的未去漆缓冲部分位于所述漆包线的缠绕部分靠近所述待焊接引脚根部的一侧且位于所述漆包线的去漆焊接部分与所述漆包线的未缠绕部分之间,将所述漆包线的缠绕部分压至所述待焊接引脚根部,以对所述漆包线的缠绕部分进行松线,从而使其处于松弛状态;采用浸锡焊接的方式对所述漆包线的去漆焊接部分与所述待焊接引脚进行焊接。该方法在无需改变电感元件整体设计结构工艺情况下,有效抑制了电感元件在生产、使用过程中漆包线断线问题的发生。

    一种液晶显示麻点失效的检测方法

    公开(公告)号:CN111650766A

    公开(公告)日:2020-09-11

    申请号:CN202010601510.X

    申请日:2020-06-28

    Abstract: 本发明提供一种液晶显示麻点失效的检测方法,其包括以下步骤:步骤一:将外观检验合格的样品进行酸性盐雾试验;步骤二:将经过酸性盐雾试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境试验;步骤三:将经过高温高湿环境试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境及密闭的加压环境组合试验。本发明提供本发明能够快速筛选剔除早期失效品(制造缺陷),提高液晶重大隐蔽性质量缺陷的筛选不良检出率,降低产线封存返包及售后故障率。

    光耦器件和包括其的设备

    公开(公告)号:CN109461711A

    公开(公告)日:2019-03-12

    申请号:CN201811280867.1

    申请日:2018-10-30

    Abstract: 本申请提供了一种光耦器件和包括其的设备。该光耦器件包括输入单元,输出单元包括第一导电框架、输出端芯片和第一键合导线,其中,第一键合导线包括依次连接的第一段导线、第二段导线和第三段导线,与第一段导线连接的第二段导线为第一个第二段导线,第一个第二段导线与第一段导线形成的角为θ1,第三段导线的反向延长线与第一段导线的反向延长线形成的角为θ2,θ1>θ2,第一段导线的远离第二段导线的一端和第一端电连接,第三段导线的远离第二段导线的一端和第二端电连接。该光耦器件键合导线塌丝概率较低且光耦失效概率较低,售后故障率也较低。

    一种液晶显示麻点失效的检测方法

    公开(公告)号:CN111650766B

    公开(公告)日:2022-06-17

    申请号:CN202010601510.X

    申请日:2020-06-28

    Abstract: 本发明提供一种液晶显示麻点失效的检测方法,其包括以下步骤:步骤一:将外观检验合格的样品进行酸性盐雾试验;步骤二:将经过酸性盐雾试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境试验;步骤三:将经过高温高湿环境试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境及密闭的加压环境组合试验。本发明提供本发明能够快速筛选剔除早期失效品(制造缺陷),提高液晶重大隐蔽性质量缺陷的筛选不良检出率,降低产线封存返包及售后故障率。

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