公开(公告)号：CN102318191B

公开(公告)日：2014-02-26

申请号：CN201080007884.3

申请日：2010-08-25

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 小泽亮 ,  尾﨏一功

IPC: H03K17/78 ,  G01V8/20

CPC classification number: G01V8/20 ,  H03K17/9629 ,  H03K17/9631

Abstract: 在根据检测区域处于光屏蔽状态的情况来停止控制输出的多光轴光电传感器中，根据每次光轴扫描处理的结果来更新第一变量Con和第二变量Coff，该第一变量Con表示得到检测区域处于光入射状态的判断结果(光入射状态检测)的光轴扫描处理所持续的时间的长度，该第二变量Coff表示得到检测区域处于光屏蔽状态的判断结果(光屏蔽状态检测)的光轴扫描处理所持续的时间的长度。在检测区域处于光入射状态的判断结果持续进行的期间被更新的第一变量Con的值达到预先确定的第一基准值，且在这之前根据检测区域处于光屏蔽状态的判断来被更新的第二变量Coff的最终值在预先确定的第二基准值以下的情况下，报告光屏蔽状态检测是由于误动作而产生。利用该报告能够正确区分由于检测对象物以外的原因导致错误地在输出/非输出之间进行切换的情况。

公开(公告)号：CN102318191A

公开(公告)日：2012-01-11

申请号：CN201080007884.3

申请日：2010-08-25

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 小泽亮 ,  尾﨏一功

IPC: H03K17/78 ,  G01V8/20

CPC classification number: G01V8/20 ,  H03K17/9629 ,  H03K17/9631

Abstract: 在根据检测区域处于光屏蔽状态的情况来停止控制输出的多光轴光电传感器中，根据每次光轴扫描处理的结果来更新第一变量Con和第二变量Coff，该第一变量Con表示得到检测区域处于光入射状态的判断结果(光入射状态检测)的光轴扫描处理所持续的时间的长度，该第二变量Coff表示得到检测区域处于光屏蔽状态的判断结果(光屏蔽状态检测)的光轴扫描处理所持续的时间的长度。在检测区域处于光入射状态的判断结果持续进行的期间被更新的第一变量Con的值达到预先确定的第一基准值，且在这之前根据检测区域处于光屏蔽状态的判断来被更新的第二变量Coff的最终值在预先确定的第二基准值以下的情况下，报告光屏蔽状态检测是由于误动作而产生。利用该报告能够正确区分由于检测对象物以外的原因导致错误地在输出/非输出之间进行切换的情况。

公开(公告)号：CN301234406S

公开(公告)日：2010-05-26

申请号：CN200930244449.2

申请日：2009-09-11

Applicant: 欧姆龙株式会社

Designer： 高原孝义 ,  尾﨏一功 ,  小泽亮

Abstract: 1.D部分是窗口，为透光性材质。2.在发光状态主视图中，窗口上显示的两个矩形为发光部。3.设计要点：此外观设计涉及的物品多光轴光电开关，可通过其右侧面设置的电缆接孔同电缆连接使用。在使用时，主体正面设置的呈长方形的窗口部可以检测出其对面通过的被检测物，然后可以将检测出的结果向上述电缆输出。