公开(公告)号：CN118314081B

公开(公告)日：2024-10-29

申请号：CN202410289011.X

申请日：2024-03-14

Applicant: 武汉科技大学

Inventor： 易灿灿 ,  肖涵 ,  王宇辰 ,  张磊 ,  刘洋

IPC: G06T7/00 ,  G06N3/0464 ,  G06V10/40 ,  G06V10/26 ,  G06V10/82 ,  G06F17/13 ,  G06V10/774 ,  G06V10/764 ,  G06T7/73

Abstract: 本发明提出了铸坯等轴晶的识别及判定方法、系统、存储介质及设备，属于等轴晶识别技术领域，方法包括：S1、采集铸坯等轴晶的式样图像并进行预处理得到第一处理图像；S2、将第一处理图像提取图像特征得到第一图像特征，确定铸坯等轴晶的位置；S3、根据铸坯等轴晶的位置对第一图像特征进行识别和分割，得到铸坯等轴晶的测量结果；S4、根据等轴晶测量的结果和铸坯工艺参数对铸坯等轴晶进行等级评定，得到等轴晶的判级结果。本申请通过确定铸坯等轴晶的位置并进行识别和分割，根据等轴晶的测量结果和铸坯工艺参数建立等轴晶判级规则和判级模型，进而确定等轴晶的最终判级结果，提高了等轴晶识别分割准确性，进而提高判级结果的准确性。

公开(公告)号：CN118314081A

公开(公告)日：2024-07-09

申请号：CN202410289011.X

申请日：2024-03-14

Applicant: 武汉科技大学

Inventor： 易灿灿 ,  肖涵 ,  王宇辰 ,  张磊 ,  刘洋

IPC: G06T7/00 ,  G06N3/0464 ,  G06V10/40 ,  G06V10/26 ,  G06V10/82 ,  G06F17/13 ,  G06V10/774 ,  G06V10/764 ,  G06T7/73

Abstract: 本发明提出了铸坯等轴晶的识别及判定方法、系统、存储介质及设备，属于等轴晶识别技术领域，方法包括：S1、采集铸坯等轴晶的式样图像并进行预处理得到第一处理图像；S2、将第一处理图像提取图像特征得到第一图像特征，确定铸坯等轴晶的位置；S3、根据铸坯等轴晶的位置对第一图像特征进行识别和分割，得到铸坯等轴晶的测量结果；S4、根据等轴晶测量的结果和铸坯工艺参数对铸坯等轴晶进行等级评定，得到等轴晶的判级结果。本申请通过确定铸坯等轴晶的位置并进行识别和分割，根据等轴晶的测量结果和铸坯工艺参数建立等轴晶判级规则和判级模型，进而确定等轴晶的最终判级结果，提高了等轴晶识别分割准确性，进而提高判级结果的准确性。