公开(公告)号：CN119846286A

公开(公告)日：2025-04-18

申请号：CN202410888041.2

申请日：2024-07-02

Applicant: 比亚迪半导体股份有限公司

Inventor： 何增龙 ,  李杰 ,  李奇峰 ,  杨云

IPC: G01R15/20 ,  B60L3/00 ,  B60L58/10 ,  H01M10/42

Abstract: 本发明公开了一种浪涌检测电路及方法、模拟前端、电池管理系统、电子设备和车辆，浪涌检测电路包括：磁感应模块，用于采集浪涌磁感信号；振荡电路模块，与磁感应模块连接，用于根据浪涌磁感信号产生振荡信号；信号检测电路模块，与振荡电路模块连接，用于根据振荡信号生成浪涌检测信号。采用该电路可以检测芯片是否受到浪涌，在检测到芯片受到浪涌时，输出浪涌检测信号，实现主动检测，从而可以确定芯片因受到浪涌而发生故障，为芯片故障提供数据支持，方便对芯片进行故障分析和技术改进。

公开(公告)号：CN119846298A

公开(公告)日：2025-04-18

申请号：CN202410882183.8

申请日：2024-07-02

Applicant: 比亚迪半导体股份有限公司

Inventor： 何增龙 ,  李杰 ,  李奇峰 ,  杨云

IPC: G01R19/165 ,  B60R16/023 ,  H01M10/42

Abstract: 本发明公开了一种芯片过电应力检测电路、控制器、检测芯片过电应力的方法和车辆，芯片过电应力检测电路包括：检测电路模块，检测电路模块包括分压单元和比较器；其中，分压单元的第一端适于与芯片的目标端口连接，用于采集所述目标端口的过电应力检测信号并获得过电应力信号的分压信号；比较器的第一输入端与分压单元的第二端连接，用于在分压信号超过过电应力检测信号阈值时输出过电应力故障信号。采用该电路可以检测芯片是否受到过电应力冲击，在检测到芯片受到过电应力冲击时，输出过电应力故障信号，从而可以为确定芯片因过电应力而故障的原因提供数据支持，方便对芯片进行故障分析和技术改进。