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公开(公告)号：CN111308404B
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN201911352163.5
申请日：2019-12-25
Applicant: 河北工业大学
IPC: G01R33/12
Abstract: 本发明一种三向应力加载条件下的二维磁特性测量装置，包括底板、样品、第一应力加载组件、激磁线圈、B‑H复合线圈、四个方形磁轭和四个第二应力加载组件；样品呈正八棱柱形，且固定在底板的中心处；样品不相邻的四个侧面上分别紧贴有B‑H复合线圈；四个方形磁轭呈田字形环绕在样品的四周，相邻两个方形磁轭紧挨着的极头分别与设有B‑H复合线圈的样品的四个侧面接触；相邻两个方形磁轭的磁轭臂相互紧贴，共同套装有一个激磁线圈；四个第二应力加载组件的施力端分别对样品未安装B‑H复合线圈的四个侧面施加应力；第一应力加载组件设在样品的正上方，对样品的上表面施加应力。该测量装置能够可以研究任意外力对样品二维磁特性的影响。
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公开(公告)号：CN109856572A
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201910332408.1
申请日：2019-04-24
Applicant: 河北工业大学
IPC: G01R33/12
Abstract: 本发明公开了一种一维及二维高低频磁特性测量系统，包括B-H复合线圈、功率放大器、信号放大器、水冷电阻、电容箱、信号发生采集器、一维及二维高低频磁特性测量装置和测试平台；测量装置包括底板、上下磁轭夹板、上磁轭顶板、左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板、右侧前后夹板、C形上磁轭、C形下磁轭、C形左磁轭、C形右磁轭、激励线圈和样品板；本装置的底板设置有滑轨，通过左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板、右侧前后夹板以及C形左磁轭和C形右磁轭沿滑轨的滑动，并于适当位置固定，实现本装置能进行一维磁特性测量和二维磁特性测量并能自由转变，实现一体多用。
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公开(公告)号：CN109061531A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201810971539.X
申请日：2018-08-24
Applicant: 河北工业大学
IPC: G01R33/12
CPC classification number: G01R33/1284
Abstract: 本发明为考虑涡流影响的大样片旋转磁特性测试系统及方法，包括电脑、采集卡、被测样片、复合传感线圈、两个C型磁轭、一级放大电路和磁轭升降固定装置，两个C型磁轭垂直相对固定在磁轭升降固定装置上，一个C型磁轭能在磁轭升降固定装置的作用下上下移动，另一个C型磁轭在磁轭升降固定装置上静止；所述被测样片呈十字形，十字形的四条臂的尺寸与C型磁轭的支腿尺寸一致，在各臂上均等间距设置有多个空气槽，每个空气槽的宽度均不大于1mm，空气槽的深度与各臂长度相等；所述复合传感线圈包括上层H线圈、下层H线圈、上盖、下骨架和四个B探针。该系统能够减小涡流对测试结果的影响，提高大样片旋转磁特性测试的损耗测量精度。
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公开(公告)号：CN118625230A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410875177.X
申请日：2024-07-02
Applicant: 河北工业大学
Abstract: 本发明为温度‑应力协同加载三维中高频旋转磁特性测试系统，包括信号控制单元、三维测试主装置、应力加载模块、温度加载模块，三维测试主装置包括主支架、磁轭、铁心固定块、传感模块；铁心固定块用于将磁轭固定在主支架上；每个磁轭由两个半磁轭构成，其中一个半磁轭固定不动，另一个半磁轭可定向移动；极靴为一端截面和极头截面相同，另外一端截面和样品尺寸保持相同；温度加载模块包括六块串接的超薄陶瓷片，在每块超薄陶瓷片上面布置有温度传感器阵列；三个磁轭相互正交固定在主支架的内部；在半磁轭与极头、半磁轭与半磁轭之间均设置有屏蔽块。保证了实验结果的重复性和一致性，可以实验多种尺寸三维样品的磁特性测试。
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公开(公告)号：CN116520220A
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310511755.7
申请日：2023-05-09
Applicant: 河北工业大学
Abstract: 本发明公开温度与应力协同加载下的硅钢旋转磁特性测量机构与系统，该测量机构包括顶板、磁轭压片、X轴应力施加装置、定位卡片、右底板支撑、磁轭压条、底板、左底板支撑、Y轴应力施加装置、上激磁磁轭升降装置、温度加载装置、传感器组、激磁绕组、X轴激磁磁轭、Y轴激磁磁轭；该测量系统包括如上所述的测量机构，还包括差分放大器、NI采集卡、上位机、功率放大器、水冷电阻、匹配电容、温度控制装置、应力控制装置；该测量系统的温度测量范围更大、样片磁场更均匀、整体尺寸更小，采用空心的B‑H复合传感器并对传感器边缘进行开口处理，提升传感器散热能力；激磁绕组部分采用分段式绕组，与匹配电容配合，可实现在多频率段激磁。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108919150B
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN201810800999.6
申请日：2018-07-20
Applicant: 河北工业大学
IPC: G01R33/12
Abstract: 本发明公开了一种立式三相柔性宽频旋转磁特性测量系统及测量方法。该系统包括无感电容、LabVIEW测试平台、功率放大器和立式三相柔性宽频磁特性检测装置；装置包括铁心固定支架、铁心、B‑H磁信号传感线圈板、支柱、励磁绕组、B探针、内层H线圈和外层H线圈；LabVIEW测试平台与功率放大器连接，功率放大器与无感电容连接，无感电容与励磁绕组连接。铁心固定于铁心固定支架上；支柱固定到铁心固定支架上，支柱顶部放置有待测样片；四根B探针均匀地固定在B‑H磁信号传感线圈板上；内层H线圈和外层H线圈绕制在B‑H磁信号传感线圈板上；B‑H磁信号传感线圈板放置于待测样片的中心位置处；铁心极头处嵌套有一个励磁绕组。
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公开(公告)号：CN113030797B
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202110409885.0
申请日：2021-04-16
Applicant: 河北工业大学
Abstract: 本发明公开了一种适用于分析局部残余应力影响的分布式磁测量装置及方法。该装置包括底板、三轴精密位移台、多节式连接杆、滑轨块、B探针组件、双层H传感线圈组件、八向样品固定台和激励；底板上固定有三轴精密位移台和八向样品固定台的底座；多节式连接杆的一个端部与三轴精密位移台的输出端固定连接，多节式连接杆的其余末端分别与各自的滑轨块固定连接；每个滑轨块的滑轨中滑动连接有一个双层H传感线圈组件和两个B探针组件；双层H传感线圈组件位于两个B探针组件之间。本方法可以针对残余应力对磁性材料造成的局部磁性能恶化进行分析，测量范围可调节，测量普适性高，测量精度高且可实现不断电的连续化磁特性测量。
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公开(公告)号：CN111308404A
公开(公告)日：2020-06-19
申请号：CN201911352163.5
申请日：2019-12-25
Applicant: 河北工业大学
IPC: G01R33/12
Abstract: 本发明一种三向应力加载条件下的二维磁特性测量装置，包括底板、样品、第一应力加载组件、激磁线圈、B-H复合线圈、四个方形磁轭和四个第二应力加载组件；样品呈正八棱柱形，且固定在底板的中心处；样品不相邻的四个侧面上分别紧贴有B-H复合线圈；四个方形磁轭呈田字形环绕在样品的四周，相邻两个方形磁轭紧挨着的极头分别与设有B-H复合线圈的样品的四个侧面接触；相邻两个方形磁轭的磁轭臂相互紧贴，共同套装有一个激磁线圈；四个第二应力加载组件的施力端分别对样品未安装B-H复合线圈的四个侧面施加应力；第一应力加载组件设在样品的正上方，对样品的上表面施加应力。该测量装置能够可以研究任意外力对样品二维磁特性的影响。
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公开(公告)号：CN118864510A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410864815.8
申请日：2024-07-01
Applicant: 河北工业大学
Abstract: 本发明公开了一种基于图像处理分析的动态磁畴参数提取方法，首先采集磁化过程中的样品图像作为原始图像，饱和状态下的样品图像作为参考图像，并根据参考图像对原始图像进行配准；然后，对原始图像和参考图像进行降噪处理，将降噪后的原始图像与参考图像进行差分，得到磁畴图像；对磁畴图像进行直方图均衡化和二值化，并识别二值化磁畴图像中的颗粒和空洞；对颗粒和空洞所在的位置进行局部开运算和闭运算，得到消除颗粒和空洞后的磁畴图像；对消除颗粒和空洞后的磁畴图像进行边缘识别，提取磁畴壁；最后，提取磁畴参数，包括磁畴面积、磁畴壁位移、磁畴壁平均移动速度、磁畴的磁化方向以及磁化方向的转角与转速。该方法对磁畴图像进行处理，基于清晰的磁畴图像提取磁畴参数，有利于微观磁化过程的可视化。
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公开(公告)号：CN108594144B
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN201810674663.X
申请日：2018-06-27
Applicant: 河北工业大学
IPC: G01R33/12
Abstract: 本发明为双向应力加载条件下的二维单片磁特性测试系统及方法，该系统包括电脑、采集卡、被测样片、B‑H复合传感线圈、一级放大电路、两个应力加载装置，所述被测样片呈由长臂和短臂构成的十字形，在长臂和短臂交点位置均设置空气槽，长臂和短臂等宽度；将B‑H复合传感线圈固定在被测样片上表面的中心处；在被测样片下表面中心处贴上三个应变片，三个应变片分别沿着x轴、y轴以及和x轴成45°方向三个方向布置；在被测样片的长臂和短臂上分别连接一个应力加载装置，被测样片表面上的三个应变片的引出线经锁相放大器连接到采集卡的输入端中。能够准确测量硅钢片磁感应强度B和磁场强度H的值，
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