一种对工件封闭曲线的相位测量的装置和方法

    公开(公告)号:CN101435692A

    公开(公告)日:2009-05-20

    申请号:CN200710189952.2

    申请日:2007-11-13

    Abstract: 一种对工件封闭曲线的相位测量的装置和方法,所述装置包括一用于装设工件的回转测台,一驱动回转测台的步进电机,一探头靠近被测工件的位移传感器,一位移信号转换装置,一数据处理装置;其中,数据处理装置驱动步进电机从而带动回转测台旋转;位移传感器测量的工件外形数据经位移信号转换装置转换后输入数据处理装置中进行处理得到测量序列,再将原设计数据与测量序列同角间隔离散得到设计序列,数据处理装置再对两序列进行处理得到两者之间的相位差。本发明的封闭曲线相位测量方法利用延迟积分分析法提取相位差,在不进行任何硬件标记的情况下最大限度的排除测量及加工中的系统误差及随机误差,实现测量数据序列与设计数据序列的精确对位及相位差提取。

    一种具有多发多收功能的ARINC429总线接口板卡

    公开(公告)号:CN203827338U

    公开(公告)日:2014-09-10

    申请号:CN201420239534.5

    申请日:2014-05-12

    Abstract: 一种具有多发多收功能的ARINC429总线接口板卡,与处理机总线的接口模块;429总线接收模块;429总线发送模块;自检测模块。信息只能从模块的发送端输出,经传输总线传至与发送端相连的机载设备的接收端,或者从机载设备的发送端,经传输总线传至模块的接收端,即信息单向传输。在接收或发送过程中自动完成串并、并串转换。同时实现数据中断源的自检测和纠错。本实用新型具有体积小和重量轻,便于携带,使用方便的优点。

    一种单片机实验开发板
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN202394430U

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN201220001149.8

    申请日:2012-01-04

    Abstract: 本实用新型涉及一种单片机实验开发板,包括MCU及相关外设所构成的基础实验部分,所述单片机开发板还包括提高实验部分,所述提高实验部分包括:与所述MCU输入输出连接的ISD4004语音模块;与所述MCU输入输出连接的CH452矩阵按键和数码管驱动模块;与所述MCU通讯连接的CH376U盘/SD卡读写模块;与所述MCU通讯连接的CAN总线模块;与所述MCU输入连接的可数控调压的数控电压源模块;所述MCU输入采样连接的LM2903比较器模块。不仅可以用于51单片机的教学实验和个人学习,还可以完成一些功能较强的设计和开发,弥补了当前单片机实验开发系统功能单调、资源少、总线接口少无法满足复杂实验需求、只适合入门初级学习而不适合进一步深入研究开发的不足。

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