公开(公告)号：CN111523576B

公开(公告)日：2023-06-16

申请号：CN202010285215.8

申请日：2020-04-13

Applicant: 河海大学常州校区

Inventor： 徐宁 ,  史先友 ,  刘小峰 ,  姚潇 ,  蒋爱民

IPC: G06F18/2321

Abstract: 本发明公开一种适用于电子质量检测的密度峰值聚类离群点检测方法，包括获取待检测离群点的所有数据点的多维特性检测数据集合；对于各数据点，分别计算局部密度值，以及该数据点到局部密度更高的最近数据点的距离值；根据各数据点局部密度值和距离值的大小，确定多个聚类中心，进而划分类簇；然后对于各数据点，基于局部密度值和距离值计算离群度；再根据所有数据点的离群度，利用箱型法确定属于边界区域的数据点集合；最后将边界区域中的数据点及其在各类簇中的子数据点作为离群数据点。本发明可充分利用聚类算法中离群点分布特点，量化出具体的特征数值，便于采用箱型法来检测出电离层中的差电子。算法易实现，效率和准确度皆较高。

公开(公告)号：CN111523576A

公开(公告)日：2020-08-11

申请号：CN202010285215.8

申请日：2020-04-13

Applicant: 河海大学常州校区

Inventor： 徐宁 ,  史先友 ,  刘小峰 ,  姚潇 ,  蒋爱民

IPC: G06K9/62

Abstract: 本发明公开一种适用于电子质量检测的密度峰值聚类离群点检测方法，包括获取待检测离群点的所有数据点的多维特性检测数据集合；对于各数据点，分别计算局部密度值，以及该数据点到局部密度更高的最近数据点的距离值；根据各数据点局部密度值和距离值的大小，确定多个聚类中心，进而划分类簇；然后对于各数据点，基于局部密度值和距离值计算离群度；再根据所有数据点的离群度，利用箱型法确定属于边界区域的数据点集合；最后将边界区域中的数据点及其在各类簇中的子数据点作为离群数据点。本发明可充分利用聚类算法中离群点分布特点，量化出具体的特征数值，便于采用箱型法来检测出电离层中的差电子。算法易实现，效率和准确度皆较高。