半导体光检测装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105074925A

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201380073748.8

    申请日:2013-10-17

    CPC classification number: H01L27/14636 H01L23/49838 H01L24/14 H01L27/14601

    Abstract: 半导体光检测装置(1)具备基体(3)、多个半导体光检测元件(10)、多个凸块电极(35)、以及多个虚设凸块(37)。多个半导体光检测元件(10)呈具有在第一方向上相互相对的一对第一边(13)和比一对第一边(13)更短且在与第一方向正交的第二方向上相互相对的一对第二边(15)的平面形状,且在并排的状态下相互相邻地配置在基体(3)上。多个凸块电极(35)分别配置在各半导体光检测元件(10)的一对第一边(13)侧,且将基体(3)与各半导体光检测元件(10)电性且机械性连接。多个虚设凸块(37)在各半导体光检测元件(10)的一对第二边(15)侧分别配置至少一个,且将基体(3)与各半导体光检测元件(10)机械性连接。

    半导体光检测装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105074925B

    公开(公告)日:2018-04-13

    申请号:CN201380073748.8

    申请日:2013-10-17

    CPC classification number: H01L27/14636 H01L23/49838 H01L24/14 H01L27/14601

    Abstract: 半导体光检测装置(1)具备基体(3)、多个半导体光检测元件(10)、多个凸块电极(35)、以及多个虚设凸块(37)。多个半导体光检测元件(10)呈具有在第一方向上相互相对的一对第一边(13)和比一对第一边(13)更短且在与第一方向正交的第二方向上相互相对的一对第二边(15)的平面形状,且在并排的状态下相互相邻地配置在基体(3)上。多个凸块电极(35)分别配置在各半导体光检测元件(10)的一对第一边(13)侧,且将基体(3)与各半导体光检测元件(10)电性且机械性连接。多个虚设凸块(37)在各半导体光检测元件(10)的一对第二边(15)侧分别配置至少一个,且将基体(3)与各半导体光检测元件(10)机械性连接。

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