-
公开(公告)号：CN117251317A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202211646648.7
申请日：2022-12-21
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
Abstract: 本发明提供一种外接内存条检测装置，包括散热盒由四周侧壁组成中空的腔体；主板设置在散热盒顶部开口处底部由设置在散热盒的腔体内的三角形的固定块支撑；显示器通过支架设置在散热盒一侧的上方底部与主板相连；连接装置设置在主板远离显示器的方向上；读取装置通过连接装置中DIMM插槽两端的卡扣卡设在连接装置上；散热装置设置在散热盒内的两端内侧壁上。本发明采用读取装置将内存条的连接方式从直连变为外接的形式降低DIMM插槽在使用时出现磨损提高主板的寿命。
-
公开(公告)号：CN117253531A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202310776770.4
申请日：2023-06-28
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: G11C29/56 , G06F16/2458 , G06F16/22 , G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种DDR5内存性能测试分析辅助系统，包括测试数据库1接收测试设备中DDR5通电运行的测试结果，建立该编号DDR5的通道测试数据表，通道测试数据表2设置有上下两段分段对应DDR5中0与1两条通道；PC3通过数据传输装置读取并备份测试数据库中通道测试数据表，并在所有同批次的通道测试数据表上位建立批次产品分析表；数据解析模块提取批次产品分析表下位所有同批次的通道测试数据表收集并统计该批次产品从零件到成品的各项收率；查询模块通过数据传输装置远程读取测试数据库中通道测试数据表和批次产品分析表，PC自动建立批次产品分析表由数据解析模块自动提取数据，达到全自动化作业系统替代了人工操作。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN219162687U
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202223428000.0
申请日：2022-12-21
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
Abstract: 本实用新型提供一种外接内存条检测装置，包括散热盒由四周侧壁组成中空的腔体；主板设置在散热盒顶部开口处底部由设置在散热盒的腔体内的三角形的固定块支撑；显示器通过支架设置在散热盒一侧的上方底部与主板相连；连接装置设置在主板远离显示器的方向上；读取装置通过连接装置中DIMM插槽两端的卡扣卡设在连接装置上；散热装置设置在散热盒内的两端内侧壁上。本实用新型采用读取装置将内存条的连接方式从直连变为外接的形式降低DIMM插槽在使用时出现磨损提高主板的寿命。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
-
公开(公告)号：CN202650548U
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201220183118.9
申请日：2012-04-27
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: G11C29/56
Abstract: 本实用新型公开了一种自动化内存电特性测试系统，包括：测试器，其上设置有多个被测内存插座，用于插接被测内存并进行测试；电源及数据转换器，与所述测试器相连，为所述测试器供电，并接收所述测试器的测量结果进行转换；处理器，与所述电源及数据转换器相连，由所述电源及数据转换器供电，并接收所述电源及数据转换器转换的测量结果。本实用新型能够对不同种类内存进行全面电特性测试与SPD信息烧录；通过自动识别内存种类，对内存SPD自动烧录内存基本信息与测试结果；能够全自动对产品进行测试，完成良品、不良品区分放置，避免产品发生混合；效率化生产，可以同时测试多达12个产品，提高生产效率，从而适应现代化生产需求。
-
公开(公告)号：CN206411656U
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201621416511.2
申请日：2016-12-22
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本实用新型提供一种DDR4内存快速检测系统，其特征在于，包括：测试机台及设于所述测试机台上的测试系统、电源开关及显示器，其特征在于，所述测试系统包括：输入模块、输出模块、测试模块和中央处理器，所述测试模块的一端与输入模块连接，所述测试模块的另一端与输出模块连接，所述测试模块上海连接有中央处理器；本实用新型能够独立读取SPD信息，支持内存的即插即用，不再需要重启电脑，且本系统可以通过测试系统自动将二进制信息通过ASCII码自动转换成易识别信息，避免人为换算的错误，大大提高了工作效率。
-
公开(公告)号：CN202838309U
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201220183203.5
申请日：2012-04-27
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本实用新型公开了内存快速检测系统，其包括：信息读取和烧录模块，其连接被测内存，用于读取被测内存的SPD信息；代码显示及转换模块，与所述信息读取和烧录模块相连，用于显示所述信息读取和烧录模块所读取的代码信息，并转换成字母及数字信息。本实用新型无需重新启动电脑就能够快速读取内存SPD内信息，且能够将其转换为英文及数字信息，方便确认SPD信息准确性；并且该系统还能够对SPD内部信息进行重新烧录，方便用户根据需要修改SPD信息。
-
公开(公告)号：CN202650549U
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201220183135.2
申请日：2012-04-27
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: G11C29/56
Abstract: 本实用新型公开了高低温、高低电压内存模拟测试系统，其包括：多个测试板，其分别连接被测内存，用于测试被测内存；控制显示器，分别与所述多个测试板相连，用于显示所述多个测试板的测试结果。本实用新型能够实现批量化生产需要，在有限的空间内最大化安装测试板数量；一台控制显示器，能够实现对所有测试板控制，实现同一程序、同一标准；测试温度实时查看，测试电压实时查看；测试板可根据产品的不同更换或者更新，实用性强，能够保证内存使用的稳定性。
-
-
-
-
-
-
Search Results
7
records
(took 0.037 seconds)
