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公开(公告)号：CN117271231A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202211170608.X
申请日：2022-09-23
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: G06F11/22 , G06F11/26 , G06F11/273
Abstract: 本发明提供一种内存模组泛用性测试平台，包括硬件测试平台，硬件测试平台承载测试的硬件主体部分；设备操作系统作为软件载体，同时配备双系统，对应电性能测试和应用型测试；测试程序包括测试内容的测试文件和辅助测试程序；测试程序装载在TAMS服务器中，TAMS服务器内根据不同的产品对应分离出程序记录。本发明采用硬件测试平台、设备操作系统和测试程序，达到了适应不同规格、尺寸、类型内存模组的需求，获得了仅需要变更测试程序的文件，即可实现在不同设备上进行不同产品测试的目的。
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公开(公告)号：CN117251317A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202211646648.7
申请日：2022-12-21
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
Abstract: 本发明提供一种外接内存条检测装置，包括散热盒由四周侧壁组成中空的腔体；主板设置在散热盒顶部开口处底部由设置在散热盒的腔体内的三角形的固定块支撑；显示器通过支架设置在散热盒一侧的上方底部与主板相连；连接装置设置在主板远离显示器的方向上；读取装置通过连接装置中DIMM插槽两端的卡扣卡设在连接装置上；散热装置设置在散热盒内的两端内侧壁上。本发明采用读取装置将内存条的连接方式从直连变为外接的形式降低DIMM插槽在使用时出现磨损提高主板的寿命。
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公开(公告)号：CN115375047A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202110533651.7
申请日：2021-05-17
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
Abstract: 本发明提供一种作业流程控制方法，包括系统代理端、存储模块、传输模块、执行模块，其中包括以下步骤：系统代理端进行输入产品的操作批次以及批次的数据信息，输入后的信息存入存储模块进行存储，系统代理端将信息传输给执行模块，执行模块进行执行操作包括流程等操作，在操作过程中将流程过程回传输给系统代理端进行分析并且将流程结果进行统计归纳，此方法保证作业流程可控，实验批次不混乱，提高工作效率。
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公开(公告)号：CN119517130A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411524745.8
申请日：2024-10-30
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
Abstract: 本发明提供一种新型资材修复方法，包括故障检测单元，故障检测单元识别芯片错误点地址，利用测试软件进行应用型测试，识别到芯片错误点地址，获得错误地址的行列地址线；地址记录单元将故障检测单元检测到的故障单元，通过在内存条SPD芯片中保存；故障检测单元将检测到的故障单元映射到内存条的冗余单元上；首次测试结束后进行内存条二次测试，通过地址替换单元将备用地址替换原有错误地址进行测试，测试通过的记为良品。本发明通过对芯片进行应用型测试，代替手工摘除不良部件，使用软件及产品冗余调整的方法在测试过程中自动修复产品，大大提升了修理周期及成功率，同时还节约了产品的维修成本。
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公开(公告)号：CN117253531A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202310776770.4
申请日：2023-06-28
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: G11C29/56 , G06F16/2458 , G06F16/22 , G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种DDR5内存性能测试分析辅助系统，包括测试数据库1接收测试设备中DDR5通电运行的测试结果，建立该编号DDR5的通道测试数据表，通道测试数据表2设置有上下两段分段对应DDR5中0与1两条通道；PC3通过数据传输装置读取并备份测试数据库中通道测试数据表，并在所有同批次的通道测试数据表上位建立批次产品分析表；数据解析模块提取批次产品分析表下位所有同批次的通道测试数据表收集并统计该批次产品从零件到成品的各项收率；查询模块通过数据传输装置远程读取测试数据库中通道测试数据表和批次产品分析表，PC自动建立批次产品分析表由数据解析模块自动提取数据，达到全自动化作业系统替代了人工操作。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117251316A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202211606176.2
申请日：2022-12-12
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
Abstract: 本发明提供一种内存条测试系统，包括启动预检检测该批次内存条的颗粒主控等使用的硬件信息是否匹配；启动预检检测该批次内存条的颗粒主控等使用的硬件信息是否匹配；履历匹配检测检测该批次内存条是否按照设定要求加工生产；记录校准检测检测内存条是否能被正常识别检测是否存在基本运行逻辑错误发生连锁异常；基本数据测试检测内存条内部对应的文件和注入驱动能否正常运行；运行数据测试检测内存条是否能被正常运行。本发明将产品放入设备进行测试，如出现错误直接跳出出现错误的检测项目的代码，测试人员直接对照代码表查询，直接可以知道是哪一部分出现异常，可直接反馈到相关部门修改，精简了产品检验的流程，提高了生产效率和检验的准确性。
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公开(公告)号：CN115375048A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202110533653.6
申请日：2021-05-17
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
Abstract: 本发明提供一种小批量实验控制方法，包括三步骤：评价实验，指定数量实验、分类实验，所述评价试验包括对整体实验先进行简单的判断，判断其实验影响因素，并确定实验影响因素；所述指定数量实验包括通过确定实验影响因素后，按照实验影响因素进行分组实验，以每个实验影响因素为参数来进行分组，分组后每组内进行制定数量来进行实验；所述分类实验包括在每组内进行子批次实验，同时在每组内进行特殊小批实验，对魅族最后的结果进行分析总结，小批量实验来进行实验，实验效果好实验进程快。
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公开(公告)号：CN118192945A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410364693.6
申请日：2024-03-28
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: G06F8/20 , G06F8/10 , G06F40/205 , G06F8/33
Abstract: 本发明提供一种结合人工智能的生产程序开发方法，包括以下步骤：从电算系统中自动收集生产过程数据，通过机器人流程自动化程序在电算系统中查询存储在本地二级数据库中的数据；利用自然语言处理NLP解析业务人员的分析需求；基于业务人员的需求，系统根据模板选择后生成执行特定数据分析任务的Python代码；Python代码被执行，对指定的数据集进行分析；分析完成后，结果以适合业务人员理解的方式反馈，若结果不符合预期或需要进一步优化。本发明在设计、编码、测试的基础结构中加入大语言模型，降低程序开发难度以及开发周期，使得业务人员可以掌握较少编程能力的也可以用自然语言设计程序，以达到辅助开发人员以更低的门槛，更低的成本开发分析程序的目的。
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公开(公告)号：CN119644098A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411412800.4
申请日：2024-10-11
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
Abstract: 本发明提供一种内存条芯片测试治具，包括上盖和上安装板，上盖通过铰链可开合的安装在上安装板的侧面上，上盖远离上安装板的连接端通过锁扣结构进行锁紧；上安装板靠近上盖的一侧面上开设有芯片槽，芯片槽开口向上设置，芯片槽的底部开设有通孔露出印刷线路板上的金属端子；印刷线路板插设安装在上安装板远离上盖的一端上，印刷线路板上的金手指端延伸出上安装板设置。本发明利用上安装板和下安装板提供了待检测芯片的安装位置，此外印刷线路板在上安装板和下安装板之间也采用插拔式的结构，代替了回流焊的方式，减少产品返工及报废，实现待检测芯片与正常芯片的快速安装，简化芯片分析前期准备步骤，提高分析效率。
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公开(公告)号：CN117311703A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202211119772.8
申请日：2022-09-15
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
Abstract: 本发明提供一种半导体制造智能系统轻量高效开发方法，包括企业级管理系统；部门级Web系统，部门级Web系统根据每个部门不同的需求在企业级管理系统下，使用统一框架进行开发；部门程序，部门程序由流程化自动机器自动生成。本发明开发流程灵活，面对中小型项目，设计的部门少，甚至一些小型项目可以由部门自行开发；开发时间短，针对中小型项目，开发进度可以缩短60％；对开发者要求低，开发任务可面向几乎没有软件开发经验的人员。仅需在图形化界面进行拖拽操作，即可设计程序；用户使用方便，用户可以根据自己需要，选择使用企业管理系统、部门级Web系统或者部门自己开发的应用程序来完成自己的任务。
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