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公开(公告)号：CN118514952A
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202410824932.1
申请日：2024-06-25
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
Abstract: 本发明提供一种避免漏扫码的贴标机扫码装置，包括机架；传送轨道组件水平设置在机架内；贴标组件安装在机械臂组件上，并随着机械臂组件的移动朝向标签机和待贴标PCB板之间来回移动；扫码仪通过支架倾斜的安装在贴标组件内靠近贴装头的一侧上，扫码仪的扫描头正对贴装头的正下方设置；传感器安装在机械臂组件上检测贴标组件是否靠近标签机。本发明在贴标组件的贴装头侧面安装有倾斜设置的扫码仪，使得扫码仪和贴装头所正对的标签是同一个，利于贴标和扫描的一致性，此外，在传送轨道组件移动的路径上安装有传感器，为判断贴标还是取标做准备，有效提高了标签扫描的完整性，避免漏扫码的情况发生，为标签追溯提供了有利的保障。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111366829A
公开(公告)日：2020-07-03
申请号：CN201811587156.9
申请日：2018-12-25
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
Abstract: 本发明公开了一种半导体老化中测试(TDBI)程序自动下载及管理系统，旨在提供一种其具有后期运营的变动修改较简单，具备普适性，容易扩展推广的系统，其技术方案要点是，包括以下方式：S01，在Hess中进行相关测试程序(包含Sorter设备DC PGM和TDBI设备的BI PGM)的注册，包含相关测试程序存放的路径；审批完成，数据传输到MES系统；S02，设备开始生产时，设备向EAP/EIS发出获取PGM请求，EAP/EIS根据相关信息去MES系统获取对应PGM的路径，返回给设备；S03，设备根据对应路径，通过FTP，自动下载相应的PGM文件后，开始测试过程。重要系统采用集群配置，保障系统稳定性。JANET协议改造成SECS协议，后期运营的变动修改较简单，具备普适性，容易扩展推广。
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公开(公告)号：CN119212375A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411238591.6
申请日：2024-09-05
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: H05K13/08
Abstract: 本发明提供一种用于构建专用夹具与内存模组追溯防御的一体化系统，包括标签打码单元在每张PCB板以及用于夹设PCB板的TCJ夹具上进行打码；标签贴附单元从对每个切割后的单个内存模组进行贴附标签；切割前扫码单元对每张PCB板以及TCJ夹具上的条码进行扫码上传；切割后扫码单元对每张PCB板以及每个切割后的单个内存模组扫码并上传；数据处理模块进行比对和数据反馈；数据反馈模块进行停机报警处理。本发明利用在TCU设备和贴标机上分别对应标签的数量安装对应个数的扫码装置，然后对PCB板切割前后的TCJ夹具以及单个内存模组上的标签记录，统一绑定上传服务器并进行处理比对，实现DDR5产品作业履历的个体追溯，同时实现主动防御，能够有效保障产品在线生产的品质。
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公开(公告)号：CN117253530A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202211505835.3
申请日：2022-11-29
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明提供一种内存条性能测试可视化辅助系统，包括：读取卡槽底部设置的电路板上的识别元件识别出在读取卡槽内的待测内存条的ID，数据分析模块接收识别数据检测服务器中对应参数；数据传输模块将检测数据与指令传送至对应的模块内；模拟检测模块对待测内存条运行是各种模拟检测并记录通过数据传输模块传送至数据分析模块中，数据分析模块对比标准数据范围判断数据合格与否并改变状态指示灯颜色。本发明通过模拟检测模块对待测内存条进行检测并把检测传输至数据分析模块，数据分析模块根据检测数据状态指示灯显示待测内存条对应状态能让检测人员实时得知检测状态，检测未通过产品也能对工作电脑内数据进行分析原因将检测变得可视化。
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公开(公告)号：CN113495813A
公开(公告)日：2021-10-12
申请号：CN202010262526.2
申请日：2020-04-07
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种半导体老旧设备实时数据收集及自动电算装置，包括老旧半导体设备、设备数据接口系统、设备测试结果文件、实时数据传输客户端、实时数据传输平台、一体化电算平台，设备数据接口系统，老旧半导体设备的数据接口通过设备数据接口系统与实时数据传输客户端的数据传输端口连接。本发明系统模块化，降低系统的耦合度，复杂度，保障系统稳定性；重要系统采用集群配置，保障系统稳定性；设备端直接获取测试结果数据，进行自动电算，自动打印标签；一体机平台也可以完成汇总数据显示，集中电算的功能。
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公开(公告)号：CN212112450U
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202020493775.8
申请日：2020-04-07
Applicant: 海太半导体(无锡)有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本实用新型提供一种半导体老旧设备实时数据收集及自动电算装置，包括老旧半导体设备、设备数据接口系统、设备测试结果文件、实时数据传输客户端、实时数据传输平台、一体化电算平台，设备数据接口系统，老旧半导体设备的数据接口通过设备数据接口系统与实时数据传输客户端的数据传输端口连接。本实用新型系统模块化，降低系统的耦合度，复杂度，保障系统稳定性；重要系统采用集群配置，保障系统稳定性；设备端直接获取测试结果数据，进行自动电算，自动打印标签；一体机平台也可以完成汇总数据显示，集中电算的功能。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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