一种新型16位模数转换电路
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113517889A

    公开(公告)日:2021-10-19

    申请号:CN202110524161.0

    申请日:2021-05-13

    Abstract: 本发明涉及模数转换电路技术领域,具体涉及一种新型16位模数转换电路,包括由二极管、BPS开关、PHI开关、电感和电容组成的模拟输入保护电路,所述模拟输入保护电路连接变压器耦合输入电路中的射频变压器T1,所述变压器耦合输入电路输入连接16位LTC2204数模转换器的VCM、AIN+和AIN‑管脚,所述LTC2204数模转换器的ENC+和ENC‑管脚连接由射频变压器、电感和电容组成的时钟输入电路,本发明对模拟输入信号的偶次谐波有较高的抑制性,并对共模信号、像地和电源噪声等的杂散信号也有较高的共模抑制度。可防止某些短时间过压或大信号进入模数转换电路对ADC芯片造成损坏。增加晶体滤波器使得各次谐波均得到了很好的控制,为高速ADC正常工作提供了纯净的采样时钟。

    一种BMS主动均衡电路
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113725940A

    公开(公告)日:2021-11-30

    申请号:CN202110513721.2

    申请日:2021-05-11

    Abstract: 本发明涉及一种均衡电路,具体地说,涉及一种BMS主动均衡电路。其包括电压探测电路和自主均衡电路,所述电压探测电路包括探测电路和电能存储电路,所述自主均衡电路包括电源电路和换路电路。本发明中通过设置的探测电路中的运算放大器将电源内的电压差的信号放大,使自主控制电路感受到电池电压的变化,并对此变化进行改变,使每个电源的电压保持在同一水平,以便于电源的正常使用,延长电池的使用寿命,同时将电压差的信号放大,使电源在发生小的电压差时,也可以被发现并解决,从而避免电源因长时间存在电压差而损坏电源,使电源无法正常的使用。

    一种高精度ADC电路测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN115021753B

    公开(公告)日:2023-01-10

    申请号:CN202210429399.X

    申请日:2022-04-22

    Abstract: 本发明公开了一种高精度ADC电路测试装置,包括底板、第一支架、测试控制模块、取料测试机构、送料机构和卸料斜槽;第一支架设于底板上;测试控制模块设于第一支架的顶部;取料测试机构用于将送料机构上的待测ADC集成电路芯片进行抓取,并使待测ADC集成电路芯片进行固定后与测试控制模块电气导通,将测试合格的ADC集成电路芯片放置回送料机构,将测试不合格的ADC集成电路芯片置于卸料斜槽上;送料机构活动贯穿于第一支架并位于取料测试机构下方;卸料斜槽倾斜设置在第一支架的开口内,且卸料斜槽的高端贴靠在送料机构的一侧;本发明实现ADC集成电路芯片的测试与分选同时进行,提高工作效率,降低生产成本,避免出现不良品混料现象。

    一种高精度ADC电路测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN115021753A

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202210429399.X

    申请日:2022-04-22

    Abstract: 本发明公开了一种高精度ADC电路测试装置,包括底板、第一支架、测试控制模块、取料测试机构、送料机构和卸料斜槽;第一支架设于底板上;测试控制模块设于第一支架的顶部;取料测试机构用于将送料机构上的待测ADC集成电路芯片进行抓取,并使待测ADC集成电路芯片进行固定后与测试控制模块电气导通,将测试合格的ADC集成电路芯片放置回送料机构,将测试不合格的ADC集成电路芯片置于卸料斜槽上;送料机构活动贯穿于第一支架并位于取料测试机构下方;卸料斜槽倾斜设置在第一支架的开口内,且卸料斜槽的高端贴靠在送料机构的一侧;本发明实现ADC集成电路芯片的测试与分选同时进行,提高工作效率,降低生产成本,避免出现不良品混料现象。

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