公开(公告)号：CN118629449A

公开(公告)日：2024-09-10

申请号：CN202410692486.3

申请日：2024-05-30

Applicant: 珠海创飞芯科技有限公司

Inventor： 叶谦 ,  方志雄

IPC: G11C7/10 ,  G11C7/12

Abstract: 本申请提供一种闪存芯片，可应用于电路技术领域，包括存储电路以及外围电路，存储电路包括多个存储单元，多个存储单元呈行列排布，每一列存储单元的第一极共同连接至对应的第一位线，每一列存储单元的第二极共同连接至对应的第二位线，外围电路用于产生控制信号，并且根据所述控制信号控制每个所述第一位线以及每个所述第二位线的电压，本申请中可以将每列存储单元的第二极共同连接至对应的第二位线，然后可以根据产生的控制信号控制第二位线的电压，即可实现控制第二位线的电压均为零或控制部分第二位线的电压为零或控制第二位线的电压均不为零，从而可以实现存储电路的不同访问方式，无需重新设计以及重新流片，降低芯片生成的成本。

公开(公告)号：CN115359833A

公开(公告)日：2022-11-18

申请号：CN202211078642.4

申请日：2022-09-05

Applicant: 珠海创飞芯科技有限公司

Inventor： 杨卫平 ,  方志雄 ,  王志刚

IPC: G11C29/10 ,  G11C29/56

Abstract: 本申请提出一种存储芯片测试密钥保护方法、装置及设备，具体包括：芯片重新上电时，目标密钥处理模块获得预存的目标密钥及目标密钥使能字段，所述目标密钥使能字段包括用于控制测试控制模块启用的端口电平信号；目标密钥处理模块将目标密钥加载至掉电清空数据的目标密钥寄存器；目标密钥处理模块根据目标密钥使能字段的端口电平信号控制测试控制模块的启用，以便测试控制模块接收并对比用户输入密钥与目标密钥是否一致，判断用户输入密钥是否正确。本申请所述的一种存储芯片测试密钥保护方法、装置及设备，提高时序复杂度，提升电路复杂度，使其他机构或者个人难以通过电路分析判断目标密钥和目标密钥使能字段。