MCU芯片内部时钟校准方法及电路

    公开(公告)号:CN116185128B

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202310209845.0

    申请日:2023-03-06

    Abstract: 本申请提供一种MCU芯片内部时钟校准方法及电路。该方法包括:采集MCU芯片内部时钟输出的实际频率值,并确定所述实际频率值是否在预设目标频率范围内;若否,则根据所述实际频率值确定对应的第一校准值,并根据所述实际频率值、所述第一校准值及所述预设目标频率范围确定校准中心值;将所述校准中心值写入所述MCU芯片,以调整所述MCU芯片内部时钟输出的实际频率值。本申请的方法,能够自动对MCU芯片进行时钟校准,无需人工校准,提高了芯片校准效率,而且有效减少了误差。此外,还能够进行微调,以确保实际频率值在预设目标频率范围内,准确地校准芯片内部时钟的频率。

    MCU芯片内部时钟校准方法及电路
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116185128A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202310209845.0

    申请日:2023-03-06

    Abstract: 本申请提供一种MCU芯片内部时钟校准方法及电路。该方法包括:采集MCU芯片内部时钟输出的实际频率值,并确定所述实际频率值是否在预设目标频率范围内;若否,则根据所述实际频率值确定对应的第一校准值,并根据所述实际频率值、所述第一校准值及所述预设目标频率范围确定校准中心值;将所述校准中心值写入所述MCU芯片,以调整所述MCU芯片内部时钟输出的实际频率值。本申请的方法,能够自动对MCU芯片进行时钟校准,无需人工校准,提高了芯片校准效率,而且有效减少了误差。此外,还能够进行微调,以确保实际频率值在预设目标频率范围内,准确地校准芯片内部时钟的频率。

    MCU供电电路、FT测试设备和FT测试系统

    公开(公告)号:CN216434294U

    公开(公告)日:2022-05-03

    申请号:CN202122641198.X

    申请日:2021-10-29

    Abstract: 本申请实施例提出了一种MCU供电电路、FT测试设备和FT测试系统,该MCU供电电路包括:电源以及供电选择电路;电源包括第一连接端、第二连接端,供电选择电路包括第三连接端以及多个供电选择节点;第一连接端,用于连接MCU的第一引脚;多个供电选择节点中的任一个供电选择节点,用于作为被选端与第二连接端连接,以接入电源提供的供电电压;第三连接端,用于连接MCU的第二引脚;其中,第一引脚和第二引脚中的其中一个为MCU中的数字电路的供电引脚,另一个为MCU中的模拟电路的供电引脚;MCU供电电路用于通过电源和供电选择电路,对MCU中的模拟电路和数字电路进行分时序上电。以此可以满足FT测试场景下对于被测对象的多种上电需求。

    一种MCU的ATE装置
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN217717999U

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202220785657.3

    申请日:2022-04-06

    Inventor: 葛俊 王佐 苏振权

    Abstract: 本实用新型公开一种MCU的ATE装置,涉及测试装置技术领域。MCU的ATE装置包括下载小板和针卡PCB板,其中,针卡PCB板包括控制开关、下载小板接点、焊点和控制端;下载小板用于储存测试数据;下载小板接点与下载小板通过直插进行电连接和固定;焊点通过控制开关与下载小板接点电连接;控制端用于将电信号传输至控制开关,并控制控制开关导通或断开下载小板接点与焊点。本实用新型MCU的ATE装置的下载小板与针卡PCB板通过直插的方式电连接以及固定,解决连接不良以及接口易松动的问题,保证测试硬件一体化。

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