MCU供电电路、FT测试设备和FT测试系统

    公开(公告)号:CN216434294U

    公开(公告)日:2022-05-03

    申请号:CN202122641198.X

    申请日:2021-10-29

    Abstract: 本申请实施例提出了一种MCU供电电路、FT测试设备和FT测试系统,该MCU供电电路包括:电源以及供电选择电路;电源包括第一连接端、第二连接端,供电选择电路包括第三连接端以及多个供电选择节点;第一连接端,用于连接MCU的第一引脚;多个供电选择节点中的任一个供电选择节点,用于作为被选端与第二连接端连接,以接入电源提供的供电电压;第三连接端,用于连接MCU的第二引脚;其中,第一引脚和第二引脚中的其中一个为MCU中的数字电路的供电引脚,另一个为MCU中的模拟电路的供电引脚;MCU供电电路用于通过电源和供电选择电路,对MCU中的模拟电路和数字电路进行分时序上电。以此可以满足FT测试场景下对于被测对象的多种上电需求。

    MCU芯片内部时钟校准方法及电路

    公开(公告)号:CN116185128B

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202310209845.0

    申请日:2023-03-06

    Abstract: 本申请提供一种MCU芯片内部时钟校准方法及电路。该方法包括:采集MCU芯片内部时钟输出的实际频率值,并确定所述实际频率值是否在预设目标频率范围内;若否,则根据所述实际频率值确定对应的第一校准值,并根据所述实际频率值、所述第一校准值及所述预设目标频率范围确定校准中心值;将所述校准中心值写入所述MCU芯片,以调整所述MCU芯片内部时钟输出的实际频率值。本申请的方法,能够自动对MCU芯片进行时钟校准,无需人工校准,提高了芯片校准效率,而且有效减少了误差。此外,还能够进行微调,以确保实际频率值在预设目标频率范围内,准确地校准芯片内部时钟的频率。

    MCU芯片内部时钟校准方法及电路
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116185128A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202310209845.0

    申请日:2023-03-06

    Abstract: 本申请提供一种MCU芯片内部时钟校准方法及电路。该方法包括:采集MCU芯片内部时钟输出的实际频率值,并确定所述实际频率值是否在预设目标频率范围内;若否,则根据所述实际频率值确定对应的第一校准值,并根据所述实际频率值、所述第一校准值及所述预设目标频率范围确定校准中心值;将所述校准中心值写入所述MCU芯片,以调整所述MCU芯片内部时钟输出的实际频率值。本申请的方法,能够自动对MCU芯片进行时钟校准,无需人工校准,提高了芯片校准效率,而且有效减少了误差。此外,还能够进行微调,以确保实际频率值在预设目标频率范围内,准确地校准芯片内部时钟的频率。

    集成电路的表面平整度测试方法、设备和系统

    公开(公告)号:CN115824033A

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202211209327.0

    申请日:2022-09-30

    Abstract: 本申请提出了一种集成电路的表面平整度测试方法、设备和系统,涉及硬件测试技术领域。其中,上述集成电路的表面平整度测试方法包括:控制待测晶圆按照设定步长逐次向目标针卡移动,并在每次移动设定步长后,检测待测晶圆上各个待测触点与目标针卡上各个探针的电连接状态。在首次检测到待测触点与对应的探针电连接后,确定当前第一位移信息。在检测到每个待测触点均与对应的探针电连接后,确定当前第二位移信息。根据第一位移信息与第二位移信息的差值,确定待测晶圆的平整度。通过上述方案,可实现晶圆的平整度测试,并提升测试结果的准确度,降低测试成本。

    一种MCU的ATE装置
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN217717999U

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202220785657.3

    申请日:2022-04-06

    Inventor: 葛俊 王佐 苏振权

    Abstract: 本实用新型公开一种MCU的ATE装置,涉及测试装置技术领域。MCU的ATE装置包括下载小板和针卡PCB板,其中,针卡PCB板包括控制开关、下载小板接点、焊点和控制端;下载小板用于储存测试数据;下载小板接点与下载小板通过直插进行电连接和固定;焊点通过控制开关与下载小板接点电连接;控制端用于将电信号传输至控制开关,并控制控制开关导通或断开下载小板接点与焊点。本实用新型MCU的ATE装置的下载小板与针卡PCB板通过直插的方式电连接以及固定,解决连接不良以及接口易松动的问题,保证测试硬件一体化。

    一种MCU的ATE设备及其系统

    公开(公告)号:CN217385735U

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202220984327.7

    申请日:2022-04-26

    Abstract: 本实用新型公开一种MCU的ATE设备,用于对待测芯片进行测试,包括:电源管理模块、测试机台及测试模块,电源管理模块分别与测试机台、测试模块及待测芯片连接,并能够为测试机台、测试模块及待测芯片提供电源、激励信号和电压;所述待测芯片安装在检测模块上进行检测;所述测试模块包括测试程序存储单元,所述测试程序存储单元用于提供对待测芯片进行测试的测试程序。本实用新型还公开了一种包括MCU的ATE设备的MCU的ATE系统。通过测试模块提供待测芯片的测试程序,提高了芯片测试的测试效率,缩短了芯片测试的时间。

    一种MCU芯片基准电压自动校准电路和MCU芯片

    公开(公告)号:CN217404755U

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN202221575937.8

    申请日:2022-06-22

    Inventor: 余景亮 葛俊 曾豪

    Abstract: 本申请提出了一种MCU芯片基准电压自动校准电路和MCU芯片,涉及硬件测试技术领域。其中,MCU芯片基准电压自动校准电路包括MCU芯片以及电压比较器,MCU芯片包括电压生成单元、电压识别单元、控制单元、存储单元以及计数单元。MCU芯片可生成待校准电压,并输出至电压比较器。电压比较器可将待校准电压与预设电压门限进行比较,并将比较结果输出至MCU芯片。MCU芯片可根据比较结果,将待校准电压值进行存储,或者对待校准电压值进行校准,并基于校准后的电压值生成新的待校准电压。通过上述方案,可实现MCU芯片待校准电压的自动校准,提升校准效率,降低校准成本。

    MCU温度传感器ATE设备
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN217687601U

    公开(公告)日:2022-10-28

    申请号:CN202221997137.5

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本申请公开一种MCU温度传感器ATE设备,包括:测试机、芯片测试板和通信模块,所述测试机和所述芯片测试板通过所述通信模块相互连接;所述芯片测试板包括:用于安装待测试的MCU芯片的芯片安装座、测试电路以及环境温度检测电路;所述测试电路分别与所述芯片安装座以及所述环境温度检测电路相连接,所述测试电路通过所述通信模块连接所述测试机。本申请技术方案,改进测试架构,使得测试机能够基于被测试得MCU芯片内部温度传感器的采样值和实际环境温度进行测试,提高测试的准确度。

    一种MCU的ATE设备及其系统

    公开(公告)号:CN217385736U

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202220986383.4

    申请日:2022-04-26

    Abstract: 本实用新型公开一种MCU的ATE设备,用于对待测芯片进行测试,包括:电源管理模块、测试机台、通信模块及测试板;所述测试板包括主控板,所述待测芯片设置在所述主控板上进行测试;所述电源管理模块与测试机台及测试板连接,用于提供相应的电源、激励信号和电压;所述通信模块设置在所述测试机台与所述测试板之间,所述测试机台与所述测试板通过所述通信模块进行数据往来。本实用新型还公开了包括所述MCU的ATE设备的MCU的ATE系统。该ATE设备及系统能够提高芯片检测的效率,降低检测成本。

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