低功耗唤醒电路和低功耗MCU

    公开(公告)号:CN216748469U

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN202122642161.9

    申请日:2021-10-29

    Abstract: 本申请实施例提供了一种低功耗唤醒电路和低功耗MCU,该低功耗唤醒电路包括供电控制电路以及唤醒控制电路;供电控制电路的供电输出端、第一输入端、第二输入端分别用于连接目标器件的第一连接端、第二连接端、唤醒控制电路的输出端;唤醒控制电路的输入端用于连接目标器件的第三连接端;供电控制电路用于在目标器件提供第一保持信号时保持向目标器件供电,在目标器件停止提供第一保持信号时停止向目标器件供电;唤醒控制电路用于根据目标器件提供的充电电压进行充电,以及在目标器件停止提供充电电压时放电,并在放电过程中或放电结束时向供电控制电路输出唤醒信号,以使供电控制电路根据该唤醒信号恢复对于目标器件的供电,以唤醒目标器件。

    BLE协议栈多链路管理方法、芯片和系统

    公开(公告)号:CN114938542B

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202210449782.1

    申请日:2022-04-26

    Abstract: 本发明涉及低功耗蓝牙(Bluetooth low energy,BLE)技术领域,尤其涉及一种BLE协议栈多链路管理方法、芯片和系统。该方法包括:识别BLE设备的链路类别,链路类别包括:固态链路和动态链路,固态链路用于支持BLE设备的非连接态链路,动态链路用于支持BLE设备与至少一个BLE从设备的连接链路;按照预设程序动态调整固态链路和动态链路的时序参数;根据调整后的时序参数对固态链路和动态链路进行参数设置,以使固态链路和动态链路按照调整后的时序参数工作。本发明实施例方案能够实现对BLE协议栈多链路的协调管理。

    BLE协议栈多链路管理方法、芯片和系统

    公开(公告)号:CN114938542A

    公开(公告)日:2022-08-23

    申请号:CN202210449782.1

    申请日:2022-04-26

    Abstract: 本发明涉及低功耗蓝牙(Bluetooth low energy,BLE)技术领域,尤其涉及一种BLE协议栈多链路管理方法、芯片和系统。该方法包括:识别BLE设备的链路类别,链路类别包括:固态链路和动态链路,固态链路用于支持BLE设备的非连接态链路,动态链路用于支持BLE设备与至少一个BLE从设备的连接链路;按照预设程序动态调整固态链路和动态链路的时序参数;根据调整后的时序参数对固态链路和动态链路进行参数设置,以使固态链路和动态链路按照调整后的时序参数工作。本发明实施例方案能够实现对BLE协议栈多链路的协调管理。

    基于BLE的室内定位导航方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN115103312A

    公开(公告)日:2022-09-23

    申请号:CN202210790390.1

    申请日:2022-07-06

    Abstract: 本申请提供一种基于BLE的室内定位导航方法、装置及系统,涉及室内定位导航技术领域,该基于BLE的室内定位导航方法包括:第一设备接收来自第二设备的BLE信号,采用预设定位算法对BLE信号进行计算,得到用户位置信息;将用户位置信息发送给定位服务器;定位服务器获取用户特征信息,用户特征信息包括用户个人信息、用户环境信息和用户需求信息中的至少一种,根据用户特征信息及用户位置信息,规划并发送导航路径。本申请能够降低室内定位导航设备网络的复杂度,在准确地为用户规划导航路径的基础上,能够实现个性化导航。

    GPIO接口测试电路、及MCU自动化系统

    公开(公告)号:CN217467060U

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202221176156.1

    申请日:2022-05-16

    Inventor: 郑太平 赵丰 曾豪

    Abstract: 本申请提供一种GPIO接口测试电路、及MCU自动化系统,涉及芯片测试技术,该电路包括:用于发出控制信号的上位机、电流表、稳压电源、及控制板;控制板,控制板上设置有用于接收控制信号的包含多个接口的待检测芯片、用于接收控制信号的第一继电器、及用于接收控制信号的第二继电器;上位机通过控制板与待检测芯片连接,上位机通过控制板与第一继电器连接,上位机通过控制板与第二继电器连接;电路包括两种连接方式:在第一连接方式中,待检测芯片的第一接口与第一继电器连接,第一继电器与待检测芯片的第二接口连接;上位机用于通过待检测芯片获取关于第一接口、及第二接口二者的第一测试结果信息。本申请解决芯片的测试效率较低的问题。

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