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公开(公告)号：CN105258653B
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201510705897.2
申请日：2015-10-27
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种用于遥控器键盘上色状况合格性的自动检测方法，首先采集一张遥控器键盘的彩色照片；提取红绿蓝三个光通道中的光强矩阵，求解该彩色图片中各像素点的三原色强度混合比例系数，得到三原色比例系数矩阵；将待测彩色的三原色搭配比例与上步所得三原色比例系数矩阵进行匹配，得到该彩色的覆盖区域，对该区域进行边界检测，得到上色区域的边界；投影标准的条纹在遥控器键盘上，采集遥控器键盘上的变形条纹，对采集到的变形条纹图进行相位解调，得到连续的相位后，通过相位测量轮廓术的相位高度关系获得待测纸面表面的高度信息，根据遥控器按钮位置的高度值跃变特性进行遥控器按钮边界检测，对比颜色区域边界，完成检测。
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公开(公告)号：CN103487441B
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201310438287.1
申请日：2013-09-24
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种用于硅晶片缺陷检测和面形测量的方法，该方法将相位偏折轮廓术（PMD）用于硅晶片的面形测量中。基于PMD的镜面物体三维面形测量方法是一种高灵敏、高精度、快速、非相干的光学全场测量技术，并且实验装置简单，主要包括计算机、数码相机和显示屏。将PMD用于硅晶片面形测量中可以直接得到晶片表面的梯度分布，仅需对梯度求导数即可得到硅片表面的曲率分布，通过曲率分布检测缺陷，也可以对梯度积分得到硅片表面的高度数据，观测三维形貌。本发明的主要增益：提供了一种高精度、快速的全场测量技术对硅晶片表面缺陷检测和面形测量。
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公开(公告)号：CN104279980A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410558091.0
申请日：2014-10-20
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于智能拍照手机的镜面三维面形测量系统，该系统仅需要一部智能拍照手机，该系统简单、经济、便携。调整系统使手机的前置摄像头能通过待测镜面物体观测到手机的显示屏。在显示屏上显示正弦条纹，然后用手机前置摄像头通过待测镜面物体记录变形的条纹，对变形条纹相位解调，获得待测镜面水平方向和垂直方向的梯度分布，最后对梯度积分得到待测镜面的三维形貌信息。本发明在测量过程中，主要使用的器件仅仅是一部带拍照功能的智能手机，利用本发明可以实现镜面物体表面缺陷及面形的简单、便携测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103727895B
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201410019594.0
申请日：2014-01-16
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于单帧彩色复合光栅条纹反射的镜面三维面形测量方法，实验系统包括数码相机、显示屏、待测镜面、计算机，调整实验系统使数码相机通过待测镜面观测到显示屏，在显示屏上同时生成不同颜色的水平条纹和垂直条纹，然后用数码相机通过待测镜面物体记录变形的条纹，整个测量过程只需向待测镜面投影一帧彩色复合光栅条纹就可得到水平方向和垂直方向的梯度，最后对梯度积分得到待测镜面的三维形貌信息。利用本发明可以实现快速、高精度的镜面物体三维面形测量。
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公开(公告)号：CN103727895A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201410019594.0
申请日：2014-01-16
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于单帧彩色复合光栅条纹反射的镜面三维面形测量方法，实验系统包括数码相机、显示屏、待测镜面、计算机，调整实验系统使数码相机通过待测镜面观测到显示屏，在显示屏上同时生成不同颜色的水平条纹和垂直条纹，然后用数码相机通过待测镜面物体记录变形的条纹，整个测量过程只需向待测镜面投影一帧彩色复合光栅条纹就可得到水平方向和垂直方向的梯度，最后对梯度积分得到待测镜面的三维形貌信息。利用本发明可以实现快速、高精度的镜面物体三维面形测量。
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公开(公告)号：CN103487441A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：CN201310438287.1
申请日：2013-09-24
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种用于硅晶片缺陷检测和面形测量的方法，该方法将相位偏折轮廓术（PMD）用于硅晶片的面形测量中。基于PMD的镜面物体三维面形测量方法是一种高灵敏、高精度、快速、非相干的光学全场测量技术，并且实验装置简单，主要包括计算机、数码相机和显示屏。将PMD用于硅晶片面形测量中可以直接得到晶片表面的梯度分布，仅需对梯度求导数即可得到硅片表面的曲率分布，通过曲率分布检测缺陷，也可以对梯度积分得到硅片表面的高度数据，观测三维形貌。本发明的主要增益：提供了一种高精度、快速的全场测量技术对硅晶片表面缺陷检测和面形测量。
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公开(公告)号：CN104101310A
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201410349840.9
申请日：2014-07-22
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明提供了一种用于文字压痕的三维显现方法，该方法将相位测量轮廓术用于文件隐藏印压痕迹的显现测量中。基于相位测量轮廓术的物体表面三维面形测量方法是一种高精度、快速、非接触、非相干的光学全场测量技术，并且实验装置简单，主要包括计算机、数码相机和投影仪。将相位测量轮廓术用于文字压痕显现测量中可以直接得到待测表面的高度分布，从而定量的获得待测表面的文字痕迹，利用得到的高度数据可以识别待测表面的潜在文字，同时也可以根据字体的形状以及字体不同位置的深浅进行字迹比对检测，从而判定文字的写作者，在司法鉴定上有重要应用。本发明的主要增益：提供了一种高精度、快速、全场的文字压痕的测量方法。
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公开(公告)号：CN105258653A
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201510705897.2
申请日：2015-10-27
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种用于遥控器键盘上色状况合格性的自动检测方法，首先采集一张遥控器键盘的彩色照片；提取红绿蓝三个光通道中的光强矩阵，求解该彩色图片中各像素点的三原色强度混合比例系数，得到三原色比例系数矩阵；将待测彩色的三原色搭配比例与上步所得三原色比例系数矩阵进行匹配，得到该彩色的覆盖区域，对该区域进行边界检测，得到上色区域的边界；投影标准的条纹在遥控器键盘上，采集遥控器键盘上的变形条纹，对采集到的变形条纹图进行相位解调，得到连续的相位后，通过相位测量轮廓术的相位高度关系获得待测纸面表面的高度信息，根据遥控器按钮位置的高度值跃变特性进行遥控器按钮边界检测，对比颜色区域边界，完成检测。
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