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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104020365A
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201410243683.3
申请日：2014-06-04
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R29/26
Abstract: 本发明公开了一种非晶硅薄膜的低频噪声测试方法，具体涉及非晶硅薄膜的低频电流噪声测试技术，该测试技术使用的测试系统包括：偏置电路、电磁屏蔽装置、噪声放大系统以及数据采集与处理系统。首先通过偏置电路激发出非晶硅薄膜的低频电流噪声，再通过低噪声电流放大器将样品低频噪声放大，继而通过数据采集卡采集放大后的噪声信号并计算出相应的电流噪声信号功率谱密度，最后利用电脑分析和处理数据，得出非晶硅薄膜低频噪声的功率谱密度曲线。本发明一种非晶硅薄膜的低频噪声测试方法可实现非晶硅薄膜低频噪声的可重复精确测试，方便快捷。
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公开(公告)号：CN103969518A
公开(公告)日：2014-08-06
申请号：CN201410215757.2
申请日：2014-05-21
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R29/26
Abstract: 本发明公开了一种氧化钒薄膜低频微弱噪声测试方法，该方法包括：电源电路适配设计；在测试电路中采用可选择的电流或电压放大电路设计，这个设计区别于的单一的进行电流或者单一的电压放大，本设计可以对两种放大方式进行选择以及彼此之间的对比；测试时高速采集并对噪声进行时域和频域、功率密度谱、氧化钒噪声曲线拟合以及曲线参数提取、样品优劣判断等分析；在测试环境中针对电磁和气流扰动进行了氧化钒样品的屏蔽、测试电路的屏蔽和包括采集卡以及工控机在内的屏蔽的三层屏蔽室的设计，三层屏蔽均是使用金属结构屏蔽，可以屏蔽电磁和气流的扰动。该发明的方法可实现氧化钒热敏薄膜低频噪声的可重复精确测试。
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公开(公告)号：CN104006890B
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201410234896.X
申请日：2014-05-30
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种耐受振动和冲击的红外焦平面微桥结构，涉及非制冷红外焦平面技术领域，其包括L型桥腿和桥面，L型桥腿与桥面刻蚀连接，还包括外围固定框、位于L型桥腿拐角处的连接桥腿，所述L型桥腿经连接桥腿与外围固定框连接；外围固定框和短桥腿均由绝缘材料构成。本发明引入外围固定框极大地解决了传统微桥结构在经受外部振动和冲击激励时，微桥结构桥面整体形变最大、结构不稳定的问题。
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公开(公告)号：CN103969518B
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201410215757.2
申请日：2014-05-21
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R29/26
Abstract: 本发明公开了一种氧化钒薄膜低频微弱噪声测试方法，该方法包括：电源电路适配设计；在测试电路中采用可选择的电流或电压放大电路设计，这个设计区别于的单一的进行电流或者单一的电压放大，本设计可以对两种放大方式进行选择以及彼此之间的对比；测试时高速采集并对噪声进行时域和频域、功率密度谱、氧化钒噪声曲线拟合以及曲线参数提取、样品优劣判断等分析；在测试环境中针对电磁和气流扰动进行了氧化钒样品的屏蔽、测试电路的屏蔽和包括采集卡以及工控机在内的屏蔽的三层屏蔽室的设计，三层屏蔽均是使用金属结构屏蔽，可以屏蔽电磁和气流的扰动。该发明的方法可实现氧化钒热敏薄膜低频噪声的可重复精确测试。
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公开(公告)号：CN104006890A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410234896.X
申请日：2014-05-30
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种耐受振动和冲击的红外焦平面微桥结构，涉及非制冷红外焦平面技术领域，其包括L型桥腿和桥面，L型桥腿与桥面刻蚀连接，还包括外围固定框、位于L型桥腿拐角处的连接桥腿，所述L型桥腿经连接桥腿与外围固定框连接；外围固定框和短桥腿均由绝缘材料构成。本发明引入外围固定框极大地解决了传统微桥结构在经受外部振动和冲击激励时，微桥结构桥面整体形变最大、结构不稳定的问题。
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