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公开(公告)号：CN103995764A
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：CN201410217679.X
申请日：2014-05-21
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种具有串行总线协议连续触发功能的逻辑分析仪，FPGA中的每个连续触发模块对应一种串行总线协议，连续触发模块中的时钟计数器提供时钟溢出标志和时钟数据，每个连续触发状态机对应一种触发方式，接收通道数据并根据连续触发控制字触发采集连续触发数据，在采集数据完成后的下一周期内令存数使能信号有效，触发数据选择器选择连续触发数据输出至拼数模块，选择存数使能信号输出至数据选择器，拼数模块将时钟数据和连续触发数据组合后输出至数据选择器。FPGA中的数据选择器根据触发类型控制字输出对应连续触发数据和存数使能信号至异步FIFO模块，异步FIFO模块存储连续触发数据并供ARM处理器读取。本发明用硬件实现了串行总线协议的连续触发。
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公开(公告)号：CN105911460A
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201610455295.0
申请日：2016-06-21
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/3177
CPC classification number: G01R31/3177
Abstract: 本发明公开了一种具有同步信号自校准功能的多通道逻辑分析仪，在多通道逻辑分析仪中增加了校准信号产生模块、通路选择模块、边沿检测模块和偏差计算模块，其中校准信号产生模块用于产生校准信号，校准信号在一次采集的校准数据存储过程中仅出现一次信号沿的跳变；通路选择模块用于进行校准模式和正常采集模式间切换；边沿检测模块对每个通道校准信号的采集数据进行边沿检测，检测得到该通道存储数据中跳变沿所在采样点在存储数据中的序号；偏差计算模块根据跳变沿采样点序号计算各个通道相对于参考通道的同步偏差值，发送给上位机用于对实际采集数据进行同步。采用本发明可以准确检测各通道间的相对同步偏差并进行修正，实现多通道间的精确同步。
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公开(公告)号：CN109581062B
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN201811581424.6
申请日：2018-12-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明公开了一种用于示波器校准仪探头的高精度阻抗测量系统，首先采用检波器得到标准电阻器两端信号的检波值，并由ADC模块采集得到对应的有效值，然后由比较器将标准电阻器两端信号进行过零比较转换为方波，然后经过两个延时模块再输入FPGA，通过调整延时令将两个信号同步输入FPGA，从而测量得到相位差时间，进而计算得到待测探头的阻抗。本发明利用延时不改变输出信号波形特征的特点实现高精度相位测量，可以有效地提高测试相位差时间的分辨率，从而提高探头阻抗测量的精度。
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公开(公告)号：CN109633508B
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN201811581423.1
申请日：2018-12-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R35/00 , G01R31/319
Abstract: 本发明公开了一种数字集成电路测试系统中采集通道同步性检测方法，根据需要选择一个通道作为基准通道，其余作为待检测通道，将数字集成电路测试系统的工作时钟降频后作为校准信号，将校准信号进行延时后发送到基准通道和待检测通道，且延时按照预设调整步长增加，将工作时钟进行倍频作为采样时钟，对基准通道和第n个待检测通道的采集信号进行采样，根据延时增加过程中基准通道和待检测通道所得到的采样信号进行判断，从而确定待检测通道相对于基准通道的延时。本发明能够检测小于采样周期的通道延时，测量精度由延时精度决定，可以大大降低对采样时钟频率的要求，降低整个方法的实现复杂度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105116318A
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201510557254.8
申请日：2015-09-02
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/3177
Abstract: 本发明公开了一种在逻辑分析仪中实现毛刺检测的方法，通过对8倍抽点采样存储前的高采样原始数据进行异或运算来实现跳变沿检测，然后，将两个1之间0的个数等于小于6的情形，认为是毛刺，并根据这两个1对应32位采样数据所在段，将位宽为4位的毛刺数据对应位置1。这样对被测信号经过采样和两次串并转换得到的每个32位采样数据(原始数据)即8倍抽点采样存储前的高采样原始数据进行处理，实现了连续毛刺信号以及边沿毛刺信号的检测，并在数据显示过程中准确对毛刺进行标记。同时，对于500MSa/s定时分析速率来讲，2ns以下宽度的窄脉冲就认为是毛刺，并且最小可以实现250ps宽度毛刺的检测。
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公开(公告)号：CN109581062A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811581424.6
申请日：2018-12-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明公开了一种用于示波器校准仪探头的高精度阻抗测量系统，首先采用检波器得到标准电阻器两端信号的检波值，并由ADC模块采集得到对应的有效值，然后由比较器将标准电阻器两端信号进行过零比较转换为方波，然后经过两个延时模块再输入FPGA，通过调整延时令将两个信号同步输入FPGA，从而测量得到相位差时间，进而计算得到待测探头的阻抗。本发明利用延时不改变输出信号波形特征的特点实现高精度相位测量，可以有效地提高测试相位差时间的分辨率，从而提高探头阻抗测量的精度。
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公开(公告)号：CN105911460B
公开(公告)日：2018-08-07
申请号：CN201610455295.0
申请日：2016-06-21
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/3177
Abstract: 本发明公开了种具有同步信号自校准功能的多通道逻辑分析仪,在多通道逻辑分析仪中增加了校准信号产生模块、通路选择模块、边沿检测模块和偏差计算模块,其中校准信号产生模块用于产生校准信号,校准信号在次采集的校准数据存储过程中仅出现次信号沿的跳变;通路选择模块用于进行校准模式和正常采集模式间切换;边沿检测模块对每个通道校准信号的采集数据进行边沿检测,检测得到该通道存储数据中跳变沿所在采样点在存储数据中的序号;偏差计算模块根据跳变沿采样点序号计算各个通道相对于参考通道的同步偏差值,发送给上位机用于对实际采集数据进行同步。采用本发明可以准确检测各通道间的相对同步偏差并进行修正,实现多通道间的精确同步。
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公开(公告)号：CN105116318B
公开(公告)日：2018-02-02
申请号：CN201510557254.8
申请日：2015-09-02
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/3177
Abstract: 本发明公开了一种在逻辑分析仪中实现毛刺检测的方法，通过对8倍抽点采样存储前的高采样原始数据进行异或运算来实现跳变沿检测，然后，将两个1之间0的个数等于小于6的情形，认为是毛刺，并根据这两个1对应32位采样数据所在段，将位宽为4位的毛刺数据对应位置1。这样对被测信号经过采样和两次串并转换得到的每个32位采样数据(原始数据)即8倍抽点采样存储前的高采样原始数据进行处理，实现了连续毛刺信号以及边沿毛刺信号的检测，并在数据显示过程中准确对毛刺进行标记。同时，对于500MSa/s定时分析速率来讲，2ns以下宽度的窄脉冲就认为是毛刺，并且最小可以实现250ps宽度毛刺的检测。
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