用于X射线成像装置的具有衰减元件的X射线发射设备

    公开(公告)号:CN105916443B

    公开(公告)日:2022-03-22

    申请号:CN201580004426.7

    申请日:2015-01-06

    Abstract: 提出了一种用于X射线成像设备(100)的具有衰减元件(1)的X射线发射设备(200)。所述衰减元件包括诸如例如具有例如小于1mm的板厚度的钨或钼的强X射线吸收材料的穿孔板。所述板(3)包括多个针孔开口(5)。其中,针孔开口的密度在所述板的中心区域处比在所述板的边界区域处更高。因此,对X射线的透明度在所述中心区域处比所述边界区域处更高。所述针孔开口(5)具有这样的几何结构,所述几何结构使得所述针孔开口的轮廓的大多数部分不平行于包括在所述X射线发射设备中的X射线源(101)的焦斑(15)的边缘。例如,所述针孔开口可以具有圆形、椭圆形或具有非线性边缘的任何其他截面几何结构。在X射线成像设备中,这样的衰减元件可以避免射束硬化、需要比常规蝴蝶结滤波器更少的空间并且对焦斑偏移相对不敏感。

    用于控制X射线图像采集系统中的防散射栅格的位置的设备、系统和方法

    公开(公告)号:CN111918609A

    公开(公告)日:2020-11-10

    申请号:CN201980022580.5

    申请日:2019-03-25

    Abstract: 本发明涉及一种用于控制X射线图像采集系统中的防散射栅格的位置的设备,所述设备(10)包括:测量单元(12);控制单元(14);以及移位单元(16);其中,所述测量单元(12)被配置为确定相对于所述X射线图像采集系统的X射线探测器的所述X射线图像采集系统的X射线辐射源的X射线束聚焦位置(37);其中,所述控制单元(14)被配置为基于所述X射线束聚焦位置(37)和所述防散射栅格的栅格聚焦位置(35)之间的位移(18)来生成移位信号;并且其中,基于所述移位信号,所述移位单元(16)被配置为使所述X射线图像采集系统的防散射栅格在至少一个方向上移位,以使所述防散射栅格与X射线束焦斑位置(37)对齐,为X射线采集系统提供了一种改进的防散射栅格。本发明提供了改进的防散射栅格(26)在X射线采集系统(20)中的使用。

    用于静态增益校准的系统和方法

    公开(公告)号:CN113939229B

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202080042412.5

    申请日:2020-04-10

    Abstract: 公开了一种用于成像的X射线系统(1、10)和一种增益校准方法。所述系统的组件(4、14)可移动到不同的扫描坐标,以当所述组件移动时以动态模式在多个所述扫描坐标处采集X射线投影图像。所述组件还可移动到预定参考坐标,以当所述组件静止时以静态模式在所述参考坐标处采集X射线投影图像。由所述X射线系统包括的至少一个处理单元(5)被配置为接收多个动态增益校准参数作为第一输入,并且获得静态增益校准参数作为第二输入,并且确定多个经调整的动态增益校准参数。每个动态增益校准参数根据在所述扫描坐标中的一个处以所述动态模式采集的X射线投影图像获得。所述静态增益校准参数根据在所述预定参考坐标处以所述静态模式采集的X射线投影图像获得。

    静态增益校准
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113939229A

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN202080042412.5

    申请日:2020-04-10

    Abstract: 公开了一种用于成像的X射线系统(1、10)和一种增益校准方法。所述系统的组件(4、14)可移动到不同的扫描坐标,以当所述组件移动时以动态模式在多个所述扫描坐标处采集X射线投影图像。所述组件还可移动到预定参考坐标,以当所述组件静止时以静态模式在所述参考坐标处采集X射线投影图像。由所述X射线系统包括的至少一个处理单元(5)被配置为接收多个动态增益校准参数作为第一输入,并且获得静态增益校准参数作为第二输入,并且确定多个经调整的动态增益校准参数。每个动态增益校准参数根据在所述扫描坐标中的一个处以所述动态模式采集的X射线投影图像获得。所述静态增益校准参数根据在所述预定参考坐标处以所述静态模式采集的X射线投影图像获得。

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