用于确定X射线管的有效能谱的装置

    公开(公告)号:CN108603849B

    公开(公告)日:2021-03-23

    申请号:CN201680080743.1

    申请日:2016-12-02

    Abstract: 本发明涉及一种用于确定X射线管的有效能谱的装置。本发明描述了以下内容:提供(210)在一时间段内的X射线管的随时间变化的加速电压;还提供(220)在所述时间段内的随时间变化的X射线管电流;确定(230)所述随时间变化的X射线管电流与时间区间的至少一个乘积;根据所述随时间变化的X射线管电流与所述时间区间的所述至少一个乘积并根据所述X射线管的所述电压来确定(250)所述X射线管的有效能谱。

    用于生成X射线的装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110663289B

    公开(公告)日:2020-12-01

    申请号:CN201880034737.1

    申请日:2018-05-30

    Abstract: 本发明涉及一种用于生成X射线的装置(10)。描述了利用至少一个电源(40)在阴极(20)与阳极(30)之间产生(210)电压。所述阴极相对于所述阳极被定位,并且所述阴极和所述阳极能够操作以使得从所述阴极发射的电子以与电压相对应的能量与所述阳极相互作用,并且其中,电子在焦斑处与阳极相互作用以生成X射线。所述至少一个电源向所述阴极提供(220)阴极电流。电子探测器(50)相对于阳极被定位(230),并且测量(240)来自阳极的背散射电子信号。测得的背散射电子信号被提供(250)给处理单元(60)。所述处理单元确定(260)阴极电流校正和/或对阴极与阳极之间的电压的校正,其中,所述确定包括利用测得的背散射电子信号以及阳极表面粗糙度与背散射电子发射之间的相关性。将阴极电流校正和/或对阴极与阳极之间的电压的校正提供(270)给至少一个电源。

    用于X射线成像装置的具有衰减元件的X射线发射设备

    公开(公告)号:CN105916443B

    公开(公告)日:2022-03-22

    申请号:CN201580004426.7

    申请日:2015-01-06

    Abstract: 提出了一种用于X射线成像设备(100)的具有衰减元件(1)的X射线发射设备(200)。所述衰减元件包括诸如例如具有例如小于1mm的板厚度的钨或钼的强X射线吸收材料的穿孔板。所述板(3)包括多个针孔开口(5)。其中,针孔开口的密度在所述板的中心区域处比在所述板的边界区域处更高。因此,对X射线的透明度在所述中心区域处比所述边界区域处更高。所述针孔开口(5)具有这样的几何结构,所述几何结构使得所述针孔开口的轮廓的大多数部分不平行于包括在所述X射线发射设备中的X射线源(101)的焦斑(15)的边缘。例如,所述针孔开口可以具有圆形、椭圆形或具有非线性边缘的任何其他截面几何结构。在X射线成像设备中,这样的衰减元件可以避免射束硬化、需要比常规蝴蝶结滤波器更少的空间并且对焦斑偏移相对不敏感。

    用于对对象进行X射线成像的装置

    公开(公告)号:CN109414232A

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201780021013.9

    申请日:2017-06-16

    Inventor: R·K·O·贝林

    Abstract: 本发明涉及一种用于对对象进行成像的装置(10)。描述了相对于至少一个X射线源定位(210)X射线探测器,使得所述至少一个X射线源与所述X射线探测器之间的区域的至少部分是用于容纳对象的检查区域。在第一操作模式中,利用所述至少一个X射线源,产生(220)第一焦斑,使得在所述第一焦斑处产生的至少一些第一X射线穿过干涉仪布置的第一光栅,并且使得所述至少一些第一X射线穿过所述干涉仪布置的第二光栅,所述第一光栅被定位在第一位置处,所述第二光栅被定位在第二位置处。在所述第一操作模式中,所述至少一些第一X射线利用探测器位置处的所述X射线探测器来探测(230)。在第二操作模式中,利用所述至少一个X射线源,产生(240)第二焦斑,使得在所述第二焦斑处产生的至少一些第二X射线避开所述第一位置处的所述第一光栅。在所述第二操作模式中,所述至少一些第二X射线利用所述探测器位置处的所述X射线探测器来探测(250)。

    X射线强度的周期性调制
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103959423B

    公开(公告)日:2017-09-29

    申请号:CN201280057661.7

    申请日:2012-10-24

    Inventor: R·K·O·贝林

    CPC classification number: H01J35/10 H01J2235/086

    Abstract: 本发明涉及调制生成的X射线射束。为了提供增大的(即,更快的)X射线强度的周期性调制,提供一种用于X射线管中的旋转阳极来调制生成的X射线射束的阳极盘(28),所述阳极盘包括圆周目标区域(34),所述圆周目标区域(34)具有目标表面区域、焦轨道中心线(38)以及射束捕集器表面区域。提供目标表面区域,使得当正由电子射束击中时,能够生成用于X射线成像的X射线;并且,提供射束捕集器表面区域,使得当正由电子射束击中时,能够生成不用于X射线成像的X射线。目标表面区域包括多个目标部分(80、82),并且射束捕集器表面区域包括多个射束捕集器部分(88)。所述目标部分和所述射束捕集器部分被布置为沿着焦轨道中心线,使得在其中生成X射线辐射的焦斑的中心位于焦轨道中心线上。而且,在焦轨道中心线两侧的结构被布置使得,当正由同质电子射束撞击时,在两侧提供相同的辐射强度。额外地提供,目标表面区域的至少一部分在焦斑轨道中心线的方向上以交替方式包括目标部分和射束捕集器部分。

    源‑检测器布置结构
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106999125A

    公开(公告)日:2017-08-01

    申请号:CN201580060997.2

    申请日:2015-11-10

    Abstract: 本发明涉及用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备(10)的源‑检测器布置结构(11)。所述源‑检测器布置结构包括:X射线源(12),所述X射线源适于相对于对象(140)围绕旋转轴线(R)旋转移动并且适于发射呈线条图案(21)的相干或准相干辐射的X射线束;以及X射线检测系统(16),所述X射线检测系统包括第一光栅元件(24)和第二光栅元件(26)以及检测器元件(6);其中所述辐射的所述线条图案和所述光栅元件的光栅方向被布置成正交于所述旋转轴线;并且所述第一光栅元件具有依赖于所述X射线束的锥角(β)而变化的第一光栅节距和/或所述第二光栅元件具有依赖于所述X射线束的所述锥角而变化的第二光栅节距。

    用于X射线成像装置的具有衰减元件的X射线发射设备

    公开(公告)号:CN105916443A

    公开(公告)日:2016-08-31

    申请号:CN201580004426.7

    申请日:2015-01-06

    Inventor: R·K·O·贝林

    CPC classification number: A61B6/4035

    Abstract: 提出了一种用于X射线成像设备(100)的具有衰减元件(1)的X射线发射设备(200)。所述衰减元件包括诸如例如具有例如小于1mm的板厚度的钨或钼的强X射线吸收材料的穿孔板。所述板(3)包括多个针孔开口(5)。其中,针孔开口的密度在所述板的中心区域处比在所述板的边界区域处更高。因此,对X射线的透明度在所述中心区域处比所述边界区域处更高。所述针孔开口(5)具有这样的几何结构,所述几何结构使得所述针孔开口的轮廓的大多数部分不平行于包括在所述X射线发射设备中的X射线源(101)的焦斑(15)的边缘。例如,所述针孔开口可以具有圆形、椭圆形或具有非线性边缘的任何其他截面几何结构。在X射线成像设备中,这样的衰减元件可以避免射束硬化、需要比常规蝴蝶结滤波器更少的空间并且对焦斑偏移相对不敏感。

    用于差分相衬成像装置的X射线管的阳极

    公开(公告)号:CN105393331A

    公开(公告)日:2016-03-09

    申请号:CN201480041331.8

    申请日:2014-07-22

    Inventor: R·K·O·贝林

    CPC classification number: H01J35/10 G21K1/02 G21K2207/005 H01J2235/086

    Abstract: 提出了一种差分相衬成像(DPCI)装置以及用于这样的DPCI装置的X射线管的阳极。阳极(39)包括可旋转的阳极盘(41),所述阳极盘具有接近其圆周(59)的焦点轨迹区域(51)。在加速电子撞击时,从焦斑(53)发射X射线(5)。阳极(39)还包括被固定地连接到阳极盘(41)的环状调制吸收栅格(55)。该调制吸收栅格(55)包括X射线吸收材料的壁部分(57)和在相邻壁部分(57)之间的狭缝(67)。相邻狭缝(67)之间的间隔小于焦斑(53)的宽度wf,例如小于100μm、优选地小于20μm,并且狭缝(67)具有小于50μm、优选地小于10μm的宽度。在阳极(39)旋转时,调制吸收栅格(55)可以用作DPCI装置中的源栅格,使得所生成的电子束(5)被周期性地调制。因此,在这样的DPCI装置中,相移栅格和相位分析器栅格可以是静止的,由此避免例如在X射线成像期间DPCI装置的部件移动时的定位不准确的风险。

    多片式单层辐射探测器
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112673285B

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN201980058844.2

    申请日:2019-09-10

    Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器(100),包括:i)衬底(110);ii)传感器,其被耦合到所述衬底,所述传感器包括传感器像素的第一阵列(120)、信号读出元件的第二阵列(130)和电子电路,所述电子电路被配置为基于从所述信号读出元件接收的信号来提供图像数据;iii)换能器,其被耦合到所述衬底和所述传感器,所述换能器包括子像素的第三阵列(140),其中,至少两个子像素被分配给一个传感器像素;其中,所述信号读出元件的第二阵列和所述子像素的第三阵列彼此对应;其中,所述子像素中的每个包括辐射转换材料。

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