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公开(公告)号：CN104921700A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510025795.6
申请日：2015-01-19
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 松尾笃
IPC: A61B5/00 , A61B5/01 , A61B5/02 , A61B5/0245 , A61B5/1455
Abstract: 本发明提供一种光检测单元。该光检测单元具有：发光部，对对象物射出光；受光部，接收来自对象物的光；遮光用部件，至少遮挡受光部。并且，遮光用部件具有：第一面，设置在发光部和受光部之间，遮挡来自发光部的直接光入射到受光部；第二面以及第三面，设置在与第一面交叉的方向上，遮挡光入射到受光部。此外，第一面由第一材料形成，第二面以及第三面由不同于第一材料的第二材料形成。
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公开(公告)号：CN104053974B
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201380005481.9
申请日：2013-03-06
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G01J1/06 , G01J3/26 , H01L27/14 , A61B5/0245 , A61B5/1455 , G01N21/27
CPC classification number: G01J1/06 , A61B5/02427 , A61B5/14532 , A61B5/1455 , G01B11/26 , G01J1/0204 , G01J1/0437 , G01J1/0488 , G01J1/42 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/0289 , G01J3/26 , G01J3/36 , G01J3/51 , G01J3/513 , H01L27/14625
Abstract: 提供抑制分光特性降低的光学传感器和电子设备等。光学传感器包括受光元件、使射入受光元件的受光区域的入射光中的特定波长的光透过的光学滤波器(140)、以及限制透过光学滤波器(140)的入射光的入射角度的角度限制滤波器(120)。在将角度限制滤波器(120)的限制角度设为θA、将从角度限制滤波器(120)的上表面到光学滤波器的上表面的高度设为RTP的情况下，若将对角度限制滤波器(120)的上表面的俯视观察中从光学滤波器(140)的端部到角度限制滤波器(120)的开口端部的距离设为交迭距离(OV)，则满足tan-1(OV/RTP)>θA。
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公开(公告)号：CN104053974A
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：CN201380005481.9
申请日：2013-03-06
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G01J1/06 , G01J3/26 , H01L27/14 , A61B5/0245 , A61B5/1455 , G01N21/27
CPC classification number: G01J1/06 , A61B5/02427 , A61B5/14532 , A61B5/1455 , G01B11/26 , G01J1/0204 , G01J1/0437 , G01J1/0488 , G01J1/42 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/0289 , G01J3/26 , G01J3/36 , G01J3/51 , G01J3/513 , H01L27/14625
Abstract: 提供抑制分光特性降低的光学传感器和电子设备。光学传感器包括受光元件、使射入受光元件的受光区域的入射光中的特定波长的光透过的光学滤波器(140)、以及限制透过光学滤波器(140)的入射光的入射角度的角度限制滤波器(120)。在将角度限制滤波器(120)的限制角度设为θA、将从角度限制滤波器(120)的上表面到光学滤波器的上表面的高度设为RTP的情况下，若将对角度限制滤波器(120)的上表面的俯视观察中从光学滤波器(140)的端部到角度限制滤波器(120)的开口端部的距离设为交迭距离(OV)，则满足tan-1(OV/RTP)>θA。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105358051A
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201480039024.6
申请日：2014-07-09
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 松尾笃
IPC: A61B5/0245
CPC classification number: A61B5/02427 , A61B5/02055 , A61B5/14552 , A61B5/681 , A61B5/721 , A61B2562/0233 , A61B2562/0238
Abstract: 提供能够抑制来自发光部的光射入受光部并改善检测性能下降的光检测单元以及生物体信息检测装置等。光检测单元包括：向对象物射出光的发光部(150)、接收来自对象物的光的受光部(140)以及至少对受光部(140)进行遮光的遮光用部件(70)。遮光用部件(70)通过对金属进行钣金加工而形成，并且具有设置于发光部(150)与受光部(140)之间并遮挡来自发光部(150)的光射入受光部(140)的遮光壁(100)。遮光壁(100)由遮光用部件(70)的第一金属面(71)形成。
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公开(公告)号：CN105358051B
公开(公告)日：2017-12-08
申请号：CN201480039024.6
申请日：2014-07-09
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 松尾笃
IPC: A61B5/0245
CPC classification number: A61B5/02427 , A61B5/02055 , A61B5/14552 , A61B5/681 , A61B5/721 , A61B2562/0233 , A61B2562/0238
Abstract: 提供能够抑制来自发光部的光射入受光部并改善检测性能下降的光检测单元以及生物体信息检测装置等。光检测单元包括：向对象物射出光的发光部(150)、接收来自对象物的光的受光部(140)以及至少对受光部(140)进行遮光的遮光用部件(70)。遮光用部件(70)通过对金属进行钣金加工而形成，并且具有设置于发光部(150)与受光部(140)之间并遮挡来自发光部(150)的光射入受光部(140)的遮光壁(100)。遮光壁(100)由遮光用部件(70)的第一金属面(71)形成。
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公开(公告)号：CN119239133A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202410855134.5
申请日：2024-06-28
Applicant: 精工爱普生株式会社
Abstract: 本发明提供一种能够基于油墨浓度适当地排出清洗液的记录装置以及清洗机构。记录装置具备：输送带；记录部，其通过向介质喷出颜料油墨而在介质上记录图像；清洗机构，其利用清洗液对输送带进行清洗，清洗机构具有：贮存部，其对清洗液进行贮存；第一检测部，其对贮存部中贮存的清洗液中所包含的黑色油墨的油墨浓度进行检测；第二检测部，其对贮存部中贮存的清洗液中所包含的颜料油墨的油墨浓度进行检测；清洗控制部，第二检测部通过接受在清洗液中散射的光，来对颜料油墨的油墨浓度进行检测，清洗控制部基于由第一检测部检测出的黑色油墨的油墨浓度来决定阈值，在由第二检测部检测出的颜料油墨的油墨浓度为阈值以上的情况下，从贮存部排出清洗液。
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公开(公告)号：CN104921700B
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201510025795.6
申请日：2015-01-19
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 松尾笃
IPC: A61B5/00 , A61B5/01 , A61B5/02 , A61B5/0245 , A61B5/1455
Abstract: 本发明提供一种光检测单元。该光检测单元具有：发光部，对对象物射出光；受光部，接收来自对象物的光；遮光用部件，至少遮挡受光部。并且，遮光用部件具有：第一面，设置在发光部和受光部之间，遮挡来自发光部的直接光入射到受光部；第二面以及第三面，设置在与第一面交叉的方向上，遮挡光入射到受光部。此外，第一面由第一材料形成，第二面以及第三面由不同于第一材料的第二材料形成。
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公开(公告)号：CN104952895A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201510134916.0
申请日：2015-03-26
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/14632 , H01L27/1462 , H01L27/14621 , H01L27/14625 , H01L27/14636 , H01L27/14685 , H01L27/14687
Abstract: 本发明涉及半导体晶片、受光传感器制造方法及受光传感器。该半导体晶片具有：半导体基板；电介质多层膜，形成在半导体基板上，成为受光传感器的光学滤波器；以及光检测区域，形成于半导体基板，将半导体基板的泊松比设为VS，杨氏模量设为ES，半径设为r，厚度设为b，并将电介质多层膜的应力设为σ，厚度设为d时，1.0×10-3≥{3×r2×d×(1-VS)×σ}/(ES×b2)的关系成立。
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