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公开(公告)号:CN102667933A
公开(公告)日:2012-09-12
申请号:CN201080042946.4
申请日:2010-09-17
Applicant: TDK股份有限公司 , 松下电器产业株式会社 , 索尼株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24038 , Y10T428/21
Abstract: 在具有三层以上的信息记录层的光记录介质中,在相邻的信息记录层之间配置的多个中间层的折射率大于在光入射面和距该光入射面最近的信息记录层之间配置的覆盖层的折射率。由此,在具有三层以上的信息记录层的光记录介质中,降低由多面反射光引起的串扰,提高信号品质。
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公开(公告)号:CN100385539C
公开(公告)日:2008-04-30
申请号:CN200380107950.4
申请日:2003-10-20
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/0945 , G11B7/0953
Abstract: 在光盘基板上具有数据区域和偏心测定区域(14),数据区域是用于记录以及/或再生数据;偏心测定区域是形成螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域在空间上被相互交错设置。形成在该偏心测定区域上的凹槽区域的宽度、反射镜区域的宽度以及凹槽区域上的凹槽的间隔被选择成为现有的机械特性测定装置可以将形成在凹槽区域上的多条凹槽作为一条凹槽进行跟踪。
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公开(公告)号:CN1732524A
公开(公告)日:2006-02-08
申请号:CN200380107950.4
申请日:2003-10-20
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/0945 , G11B7/0953
Abstract: 在磁盘基板上具有数据区域和偏心测定区域(14),数据区域是用于记录以及/或再生数据;偏心测定区域是形成螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域在空间上被相互交错设置。形成在该偏心测定区域上的凹槽区域的宽度、反射镜区域的宽度以及凹槽区域上的凹槽的间隔被选择成为现有的机械特性测定装置可以将形成在凹槽区域上的多条凹槽作为一条凹槽进行跟踪。
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公开(公告)号:CN1545701A
公开(公告)日:2004-11-10
申请号:CN02816256.0
申请日:2002-07-18
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00 , G11B7/007 , G11B7/24082 , G11B7/263 , G11B2005/0005
Abstract: 一种具有沿记录光道形成的凹槽(2)、用于在辐照特定波长λ的光L时进行记录和/或再现的光记录与再现介质,其中凹槽(2)的光道间距p最小为200nm,最大为350nm,而凹槽(2)的宽度Wg与光道间距p的比值Wg/p最小为0.24,最大为0.67。
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公开(公告)号:CN101640048A
公开(公告)日:2010-02-03
申请号:CN200910159686.8
申请日:2009-07-31
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/266 , G11B7/24038 , G11B7/265
Abstract: 本发明提供一种光盘记录介质和制造光盘的方法。该光盘记录介质包括:盘基片;至少一个记录层,设置在盘基片的一个表面侧上;覆盖层,设置在记录层的激光入射表面侧上并由透光树脂层构成;以及硬涂层,设置在覆盖层的激光入射表面侧上,用于表面保护,并且由透光树脂层构成,其中,覆盖层被形成为使得其厚度从盘的中央部分到周边部分减小,硬涂层被形成为使得其厚度从盘的中央部分到周边部分增加,并且,覆盖层和硬涂层的总厚度从盘的中央部分到周边部分是基本均匀的。
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公开(公告)号:CN100533564C
公开(公告)日:2009-08-26
申请号:CN200510128771.X
申请日:2002-07-18
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00 , G11B7/007 , G11B7/24082 , G11B7/263 , G11B2005/0005
Abstract: 一种具有沿记录光道形成的凹槽(2)、用于在辐照特定波长λ的光L时进行记录和/或再现的光记录与再现介质,其中凹槽(2)的光道间距p最小为200nm,最大为350nm,而凹槽(2)的宽度Wg与光道间距p的比值Wg/p最小为0.24,最大为0.67。
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公开(公告)号:CN1267915C
公开(公告)日:2006-08-02
申请号:CN02802462.1
申请日:2002-06-26
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/24082 , G11B7/261
Abstract: 光学记录还原介质具有沿着记录轨道形成的凹槽(2),并且通过照射具有预定波长λ的光可以对光学记录还原介质进行记录和/或还原。当假定n表示从光入射端面延伸到光学记录还原介质的凹槽(2)的介质的折射系数时,凹槽(2)的相位深度x满足以下不等式:λ/16.14n≤x≤λ/4.99n并且所述凹槽(2)的宽度w和轨道间距p之间的比值w/p满足以下不等式:0.391≤(w/p)≤0.594其中所述轨道间距大于300nm并且小于325nm。
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公开(公告)号:CN1465054A
公开(公告)日:2003-12-31
申请号:CN02802462.1
申请日:2002-06-26
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/24082 , G11B7/261
Abstract: 光学记录还原介质具有沿着记录轨道形成的凹槽(2),并且通过照射具有预定波长λ的光可以对光学记录还原介质进行记录和/或还原。当假定n表示从光入射端面延伸到光学记录还原介质的凹槽(2)的介质的折射系数时,凹槽(2)的相位深度x满足以下不等式:λ/16.14n≤x≤λ/4.99n并且所述凹槽(2)的宽度w和轨道间距p之间的比值w/p满足以下不等式:0.391≤(w/p)≤0.594。
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公开(公告)号:CN1971731B
公开(公告)日:2010-08-11
申请号:CN200610171919.2
申请日:2006-10-31
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B20/00688 , G11B7/0053 , G11B7/259 , G11B20/00086 , G11B20/00115 , G11B20/00594 , G11B20/10 , G11B2220/218 , G11B2220/2541 , Y10T428/21
Abstract: 一种光记录介质,包括衬底上的至少反射膜和覆盖层;组合凹坑和凸台的主数据被记录在衬底上;在所述反射膜上经过照射激光使一次写入记录成为可能;对于反射膜,通过由照射激光形成的标记记录子数据,用于一次写入记录;对于规定长度的凸台,再现信号电平在形成所述标记的部分上升;为通过物理复制制造的光盘记录介质形成标记,其中利用所述标记,再现电平在形成标记的部分下降;反射膜由Ag-合金膜Ag100-xXx(0<x<100)组成;而且X是从Ti,W,Ta,V,Mo,Nb和Zr中选出来的。
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公开(公告)号:CN101567199A
公开(公告)日:2009-10-28
申请号:CN200910134490.3
申请日:2009-04-21
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/26
Abstract: 本发明公开了光盘制造方法、原盘制造方法和光盘,其中,该光盘制造方法包括以下步骤:通过在基板上形成具有记录激光波长的17%以下的厚度的蓄热层并形成无机抗蚀层来制造预曝光原盘;通过执行记录激光照射,对原盘的无机抗蚀层执行具有凹坑和间隙的记录信号图样的曝光;通过在曝光之后执行显影处理来制造具有含凹坑和间隙的凹坑阵列形状的原盘;通过使用具有凹坑阵列形状的原盘来制造被转印凹坑阵列形状的压模;以及制造具有预定层结构的光盘,预定层结构包括被转印压模的凹坑阵列形状并在凹坑阵列形状上形成银或银合金反射膜的记录层。通过本发明,提高了高记录密度光盘的生产率。
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