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公开(公告)号：CN100449621C
公开(公告)日：2009-01-07
申请号：CN02827355.9
申请日：2002-11-19
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/0909 , G11B7/0916 , G11B7/1381
Abstract: 本发明的装置具备：会聚从受发光一体型元件(31)出射到光盘(2)的不同波长的出射光、同时会聚来自光盘的返回光的物镜(34)；将受发光一体型元件的出射光分割成0次光及±1次光第1衍射光栅(45)；使返回光的光路衍射的第2衍射光栅(46)；通过使该第2衍射光栅衍射的+1次光衍射来补正光路变动的第3衍射光栅(47)。受发光一体型元件通过接受由第3衍射光栅衍射的-1次光，生成聚焦误差信号FE，同时，通过接受由第1衍射光栅分割的±1次光的返回光，生成跟踪误差信号。
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公开(公告)号：CN1615512A
公开(公告)日：2005-05-11
申请号：CN02827355.9
申请日：2002-11-19
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/0909 , G11B7/0916 , G11B7/1381
Abstract: 本发明的装置具备：会聚从受发光一体型元件(31)出射到光盘(2)的不同波长的出射光、同时会聚来自光盘的返回光的物镜(34)；将受发光一体型元件的出射光分割成0次光及±1次光第1衍射光栅(45)；使返回光的光路衍射的第2衍射光栅(46)；通过使该第2衍射光栅衍射的+1次光衍射来补正光路变动的第3衍射光栅(47)。受发光一体型元件通过接受由第3衍射光栅衍射的－1次光，生成聚焦误差信号FE，同时，通过接受由第1衍射光栅分割的±1次光的返回光，生成跟踪误差信号。
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公开(公告)号：CN1519825A
公开(公告)日：2004-08-11
申请号：CN200310113121.9
申请日：2003-12-22
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/22 , G11B7/08582 , G11B7/0925
Abstract: 一种光学拾取装置及光学信息记录和/或再现设备，在以具有暴露的电路芯的部分的外部底座部分覆盖作为电引线的电路芯表面形成滑动底座时将电引线稳定地固定到滑动底座的预定位置上。滑动底座包括是形成将电输送给物镜驱动装置电路的电导体的电路芯和是覆盖具有暴露电路芯部分的电路芯表面的绝缘部件的外部底座部分。外部框架与电路芯的外侧连续形成并在通过注射模制以外部底座覆盖电路芯后与电路芯断开。外部框架具有在覆盖电路芯时在注射模制的模具上定位外部框架的至少两个定位孔。通过将设置在模具上的至少两个定位销装配到外部框架的至少两个定位孔中而将电路芯定位在模具上，通过注射模制将外部底座部分与电路芯整体地模制。
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公开(公告)号：CN100472623C
公开(公告)日：2009-03-25
申请号：CN200610071900.0
申请日：2002-11-19
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00 , G11B7/0901 , G11B7/0909 , G11B7/0916 , G11B7/1356 , G11B7/1381
Abstract: 本发明的装置具备：会聚从受发光一体型元件(31)出射到光盘(2)的不同波长的出射光、同时会聚来自光盘的返回光的物镜(34)；将受发光一体型元件的出射光分割成0次光及±1次光第1衍射光栅(45)；使返回光的光路衍射的第2衍射光栅(46)；通过使该第2衍射光栅衍射的+1次光衍射来补正光路变动的第3衍射光栅(47)。受发光一体型元件通过接受由第3衍射光栅衍射的-1次光，生成聚焦误差信号FE，同时，通过接受由第1衍射光栅分割的±1次光的返回光，生成跟踪误差信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1945711A
公开(公告)日：2007-04-11
申请号：CN200610071900.0
申请日：2002-11-19
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00 , G11B7/0901 , G11B7/0909 , G11B7/0916 , G11B7/1356 , G11B7/1381
Abstract: 本发明的装置具备：会聚从受发光一体型元件(31)出射到光盘(2)的不同波长的出射光、同时会聚来自光盘的返回光的物镜(34)；将受发光一体型元件的出射光分割成0次光及±1次光第1衍射光栅(45)；使返回光的光路衍射的第2衍射光栅(46)；通过使该第2衍射光栅衍射的+1次光衍射来补正光路变动的第3衍射光栅(47)。受发光一体型元件通过接受由第3衍射光栅衍射的－1次光，生成聚焦误差信号FE，同时，通过接受由第1衍射光栅分割的±1次光的返回光，生成跟踪误差信号。
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公开(公告)号：CN1750137A
公开(公告)日：2006-03-22
申请号：CN200510092692.8
申请日：2005-08-18
Applicant: 索尼株式会社
Abstract: 这里公开了一种用于将光束应用到光盘表面并检测来自光盘表面的返回光束的光盘设备。该设备包括用于检测该返回光束的光检测器，光检测器具有：在垂直于光盘表面的轨道的方向上在返回光束的中心彼此分隔的第一分隔区和第二分隔区；在垂直于轨道的方向上分别放置在第一分隔区和第二分隔区外面的第三分隔区和第四分隔区。第一分隔区和第二分隔区被如此放置以便使包含在返回光束中的第零阶光和第一阶光彼此重叠的区域不重叠。
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公开(公告)号：CN100377233C
公开(公告)日：2008-03-26
申请号：CN02827360.5
申请日：2002-11-19
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00 , G11B7/0901 , G11B7/0909 , G11B7/0916 , G11B7/1356 , G11B7/1381
Abstract: 本发明的光学头装置具备：将受发光一体型元件(31)的出射光分割成0次光及±1次光的第1衍射光栅(45)；使来自光盘(2)的返回光的光路衍射的第2衍射光栅(46)；通过使该第2衍射光栅衍射的+1次光衍射来补正光路变动的第3衍射光栅(47)。受发光一体型元件通过接受由该第3衍射光栅衍射的-1次光，生成聚焦误差信号FE，同时，通过接受由第1衍射光栅分割的±1次光的返回光，生成跟踪误差信号。
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公开(公告)号：CN100354945C
公开(公告)日：2007-12-12
申请号：CN200510092692.8
申请日：2005-08-18
Applicant: 索尼株式会社
Abstract: 这里公开了一种用于将光束应用到光盘表面并检测来自光盘表面的返回光束的光盘设备。该设备包括用于检测该返回光束的光检测器，光检测器具有：在垂直于光盘表面的轨道的方向上在返回光束的中心彼此分隔的第一分隔区和第二分隔区；和在垂直于轨道的方向上分别放置在第一分隔区和第二分隔区外面的第三分隔区和第四分隔区。第一分隔区和第二分隔区被如此放置以便使包含在返回光束中的第零阶光和第一阶光彼此重叠的区域不重叠。
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公开(公告)号：CN1615513A
公开(公告)日：2005-05-11
申请号：CN02827360.5
申请日：2002-11-19
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00 , G11B7/0901 , G11B7/0909 , G11B7/0916 , G11B7/1356 , G11B7/1381
Abstract: 本发明的光学头装置具备：将受发光一体型元件(31)的出射光分割成0次光及±1次光的第1衍射光栅(45)；使来自光盘(2)的返回光的光路衍射的第2衍射光栅(46)；通过使该第2衍射光栅衍射的+1次光衍射来补正光路变动的第3衍射光栅(47)。受发光一体型元件通过接受由该第3衍射光栅衍射的－1次光，生成聚焦误差信号FE，同时，通过接受由第1衍射光栅分割的±1次光的返回光，生成跟踪误差信号。
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